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采用热压-热变形法制备各向异性NdFeB磁体,通过正交实验研究了热变形温度、变形量以及变形速率对磁体磁性能及显微结构的影响。结果表明,随变形温度、变形量、变形速率的增高增大,磁体剩磁Br及最大磁能积(BH)max增高,当变形温度升高至700℃、变形量增大到65%、以0.045mm/s的速率变形时,磁体获得最佳磁性能,(BH)max达360kJ/m3(45MGOe),同时主相NdFeB晶粒由最初的球状晶、沿垂直于压力方向长大转变为片状晶,晶粒取向度增高;当变形温度、变形量过高或变形速率过低时,磁体中将会出现异常长大晶粒,使磁性能恶化。 相似文献
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针对全帧转移大面阵电荷耦合器件(CCD)多帧图像数据随时间漂移的现象和测试电路引入的噪声,导致无法准确评估CCD器件的参数,文章提出一种基于行过扫数据校正算法。行有效像元数据与对应行垂直过扫数据同时输出,通过有效像元数据减去垂直过扫数据均值,对图像数据漂移的现象进行抑制。测试电路中模拟模块与数字模块同时作用于单行有效像元数据与垂直过扫数据,通过有效像元数据减去垂直过扫数据均值,消除测试电路引入的噪声。实验结果表明,经过该算法校正后的器件读出噪声减小了20%,暗场差值图像中超过15 e-和25 e-的比例减小了25%。该算法适用于大面阵CCD器件,可校正测试系统引入的测试误差,提高全帧转移大面阵CCD器件测试效率。 相似文献
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