基于自然图像统计的无参考图像质量评价

为了解决无参考图像情况下的质量评价问题,基于变换域的自然图像统计模型,提出一种适用于白噪声、高斯模糊、JPEG2000压缩等失真类型的无参考图像质量评价方法.利用自然图像Contourlet变换域子带均值间的线性关系,用失真条件下保持不变的低频子带均值预测未失真的高频子带均值,以高频子带预测均值与实际均值之间的差异计量图像的失真.结合人类视觉系统特性,对不同尺度、不同方向子带及子带内不同区域进行选取与加权,综合得到对失真图像的客观质量评价.实验表明,该质量评价测度与主观质量评价有较好的一致性,且在性能上优于峰值信噪比(PSNR).     

一种面向微处理器验证的分层随机激励方法*

针对日趋复杂的微处理器功能验证,提出一种基于分层思想的受限随机激励产生方法,通过测试层、场景层、功能层和指令层的多层约束,实现随机激励在不同粒度范围的高度可控性,精炼测试空间,加快验证的收敛速度。采用可配置的功能库,将处理器功能行为单元作为随机激励的构建基础,产生逻辑功能与通信接口结合的随机激励,实现系列处理器的验证复用。CKCore处理器验证的实验结果表明,该方法与受限随机激励相比,在功能覆盖率相同的情况下,激励编写量减少60%;在仿真时间相同的情况下,功能和代码覆盖率分别改善10%和5%以上,有效提高处理器验证的质量和效率。     

基于失真模型的结构相似度图像质量评价

提出了一种基于图像失真模型及失真视觉特性的图像质量评价方法,解决了传统结构相似度（SSIM）度量不能同时有效评价不同失真强度与不同失真类型图像质量的问题.将图像失真分解为局部线性模糊及加性噪声,通过质量敏感区域加权与噪声SSIM补偿,实现各种失真类型SSIM的聚合以提高综合评价性能.实验结果表明,这种基于失真模型的区域加权SSIM能够一致评价各种失真类型、各种失真强度的图像质量,在LIVE图库上与主观评价分回归后的相关系数达到0.946 7,优于其他SSIM算法.     

基于模块化单元的测试结构阵列设计及其应用

针对纳米级半导体制造工艺中传统测试芯片掩模面积利用率低的问题,提出一种基于模块化单元的可扩展成品率测试结构阵列设计方法.基于45nm CMOS制造工艺分别实现32×32和64×64 2个大规模的测试结构阵列,模块化单元的有效面积利用率达79.31%和70.8%;流片后通过测试数据的分析能够发现通孔缺失、通孔尺寸变大以及大尺寸缺陷导致金属缺失等工艺缺陷问题.试验结果同时表明,该方法将传输门器件和测试结构组合成模块化单元;不仅能够实现对测试结构的四端测量,保证测试结果的正确性,并且能够减小成品率测试芯片的掩模面积.     

结合无依赖性割集和量化的等价性验证

提出一新的验证算法,利用电路拓扑信息选择有效割集,以减小验证规模,并对割集进行无依赖性处理,减少伪错误发生概率,提高验证效率;同时,利用启发式信息选择复杂度较高的节点变量进行量化,进一步减小二叉决策图（BDD）的内存要求．最后用ISCAS’85电路的实验结果证明了该算法的有效性．     

一种新型的用于高速串行接口的数据处理电路

本文提出了一种新型的用于USB2.0高速模式下(480Mbps的数据传送率)的数据处理电路.这种电路采用八位并行的方法将数据转换为USB协议规定的数据格式,包含一个高速、低功耗的并串转换电路及一个八分频电路.芯片设计基于TSMC公司的0.25μmCMOS混合信号模型,采用半定制(semi-custom)的设计流程.电路的前后仿真结果表明该数据处理电路达到了480MHz的传输速度,符合USB2.0的要求.     

基于CK-Core的处理器SDIO接口主控制器设计

作为具有自主知识产权的国产嵌入式CPU核,CK-Core系列处理器核已广泛应用于嵌入式各领域。为满足基于CK-Core内核的处理器芯片的各类应用需求,需开发功能强大的芯片外围扩展接口。介绍了一种具有广阔应用前景的片外扩展接口,即SDIO接口。在分析了SDIO接口工作原理的基础上,开发了基于CK-Core的处理器SDIO接口主控制器IP核。利用RVM方法进行硬件RTL代码功能验证,通过CKSOC开发平台完成了FPGA原型验证,同时给出了DC综合结果。实验结果表明,该自行开发的IP核工作正常,性能良好,有效提高了CK-Core处理器的外围扩展能力。     

一种新型的用于高速串行接口的发送器

本文提出了一种新型的适用于USB2．0高速模式下(480Mb／s的数据传送率)的发送器电路。发送器主要由前置驱动电路和主驱动电路组成。前置驱动电路和主驱动电路分别由8级延迟单元和8级驱动单元组成。通过控制延迟单元的延迟时间和改变电路级数，可控制输出数据信号特性。电路设计基于TSMC的CMOS 0．25μm混合信号模型。电路仿真表明输出信号速率达到480Mb／s，并且高低电平幅值和上升下降时间符合USB2．0协议要求。     

基于电源树分布RLC模型估计同步切换噪声

在超深亚微米 ( VDSM)工艺下 ,器件频繁的同步切换可在电源 /地分配网络上形成大开关电流 ,影响VLSI的可靠性和信号完整性。文中提出一种估计电源树同步切换噪声的解析方法 :利用事件驱动机制、节点重组及参数重编号技术建立切换电流传播路径 ,以二极点模型近似切换电流非线性传递过程 ,简化噪声提取程序。仿真实例表明该方法的可行性和有效性     

混沌随机数发生器的设计

为了使由模拟电路实现的混沌随机数发生器可以在标准数字CMOS工艺上实现,设计了一类基于MOS电容的混沌随机数发生器,可以作为一个通用IP,用于SOC的设计.当电路工作时,用于电容设计的MOS管的栅极与衬底之间形成耗尽层,利用串联补偿方法提高电容的线性度.所设计的混沌随机数发生器已经在TSMC的0.25μm、标准的数字n阱COMS工艺进行流片,对芯片的测试工作也已完成,测试结果显示,生成的随机数具有良好的随机性能.