菊粉对小麦面筋蛋白理化性质的影响

利用差示扫描量热仪、傅里叶变换红外光谱仪和扫描电子显微镜研究菊粉添加量对小麦面筋蛋白乳化特性和热特性的影响,并对小麦面筋蛋白的结构进行表征。结果表明,较低添加量的菊粉对小麦蛋白乳化性能的影响较显著,10%的菊粉可以使其乳化活性提高14.4%,7.5%的菊粉可以使蛋白质乳化稳定性提高18.7%。热力学实验表明菊粉可以提高蛋白质变性温度,降低焓变值,添加12.5%的菊粉可以最大程度提高蛋白质变性温度。面筋蛋白网络结构随着菊粉的添加更加致密。通过对小麦面筋蛋白的结构分析表明：添加20%的菊粉会使蛋白质中二硫键相对含量增加2.22 倍,小麦蛋白的β-转角结构在添加菊粉后向β-折叠结构和无规卷曲结构转化。     

元器件检测单位技术状态管理应用研究

随着军工单位质量管理与构型管理的发展提升,从整机厂到芯片厂,乃至其配套服务的单位,构成庞大的供应网络,型号的技术状态管理面临多方位的考验。各级单位理解并控制产品/服务的技术状态管理,是确保型号质量的必要环节。从元器件检测单位技术状态管理现状、必要性和管控内容方面出发,介绍了元器件检测单位技术状态管理方法,提出了重点控制检测单位技术状态管理的要点。     

X射线荧光分析技术在塔东碳酸盐岩定量分析中的应用探讨

塔东区块是大庆油田重要的油气资源接替区,勘探目的层主要为碳酸盐岩,提高录井现场碳酸盐岩定量识别分析的准确性具有重要意义。为此,开展了X射线荧光分析技术在碳酸盐岩定量分析中的研究工作,研制了X射线荧光分析仪,分析元素种类多、速度快、精度高,满足了录井现场碳酸盐岩定量分析需求。制定了通过元素分析结果进行碳酸盐岩定名的方法,在录井现场应用结果表明,X射线元素分析仪在碳酸盐岩定量分析方面具有明显优势,在重点层位,使用X射线元素分析仪能够提高分析准确性,从而提高岩性剖面符合率。     

强化非技术性能力培养的项目式教学改革与实践

为强化学生非技术性能力培养,文章以制药工程专业开设的集中实践类必修课制药工艺研发课程设计为例,介绍了项目式教学的设计、实施及其效果,提出构建实施知识、素质、能力相结合的教学评价体系,以期培养制药及相关工程领域的卓越科技人才和满足国家经济发展需要的高素质创新人才。     

基于钒的表面等离子体宽带广角红外光吸收器

探讨了基于金属钒亚微米结构的表面等离子体宽带广角红外光吸收器,它由置于表面涂覆介质层的金属钒衬底上方周期性排列的无限长钒条构成。使用有限元方法计算了其吸收谱,当P极化平面电磁波以小角度(小于20°)入射时,吸收率达到98%以上,波长为1.08～1.60μm;当P极化平面波以大角度(小于50°)入射时,吸收率达到98%以上,波长为1.08～1.44μm;当P极化平面波以10°入射时,谐振峰(λ=1.54μm)的吸收率达到99.9%。此外,由于金属钒的熔点很高,基于金属钒的吸收器可用于强光高功率的场合。     

小麦胚芽粉对面包屑品质影响的研究

以小麦加工副产物——小麦胚芽粉为添加物,研究其对面团的成筋性、面包屑吸油量及品质的影响,结果表明：小麦胚芽粉对面团的成筋性有较好的影响,对后续的发酵无不良影响,添加小麦胚芽粉可以降低面包屑的吸油量,添加量为5%的面包屑吸油量最低;添加小麦胚芽粉对面包屑的形状和附着性影响不大,添加量为5%时面包屑酥脆性最好。     

低吸油面包屑的研制

为了制取低吸油量的面包屑,通过在普通面包屑配料中添加黄原胶、大豆膳食纤维、变性淀粉、羧甲基纤维素纳、脱脂大豆粉、地瓜淀粉、卵磷脂、马铃薯淀粉、单甘酯、蔗糖酯、糊化面粉等物质的一种或三种研究其对面团成筋性、面包屑吸油量、面包屑附着性和酥脆性的影响,得到合适的配方.结果表明:添加的物质中除了大豆卵磷脂外均可以降低面包屑的吸油量;结合面包屑油炸后的附着性和酥脆性能,最优配方为:3%变性淀粉+2%大豆膳食纤维+0.15%蔗糖酯和30%的糊化面粉+70%的普通面粉配合,按常规生产方式进行生产.使用膳食纤维可以改善面团质地和延展性,赋予酥脆感,试验中把变性淀粉、膳食纤维以及乳化剂配合使用克服面包屑产品变硬的缺点,使面包屑即降低了吸油量又酥脆可口.     

热处理对荞麦淀粉糊化特性的影响研究

研究了热处理及食品添加剂对荞麦淀粉糊化特性的影响,结果表明,荞麦淀粉经过热处理后,易糊化,易凝沉,透明度降低,冻融稳定性差。添加蔗糖、食盐、磷酸盐、乳化剂后荞麦淀粉较难糊化,透明度降低,但蔗糖、乳化剂阻止荞麦淀粉凝沉,而食盐、磷酸盐则相反;添加维生素C、溴酸钾对荞麦淀粉的糊化特性影响不大。     

基于筛选试验的集成电路外观缺陷探究

筛选试验是包含温度应力、电应力、机械应力的多种试验，能够有效地剔除设计和制造方面存在缺陷的集成电路，是集成电路应用高可靠性的重要保障。若筛选试验的条件方法、操作和工装夹具等选择不当，可能会使得集成电路外观产生缺陷，常见的缺陷有掉标、引脚变形、瓷损和沾污等。筛选试验的目的是减少存在的缺陷，试验过程中产生外观缺陷是不可接受的，也是质量管控的重要要求。因此，通过对筛选试验过程中的外观缺陷进行分析，探究了筛选试验中影响外观的因素，以减少质量事件的发生，保证集成电路的可靠性。     

宇航级集成电路筛选过程质量管控措施

宇航级集成电路作为集成电路中质量保证等级要求最高的一种，其筛选过程中的质量管控要求注定也将最为严格。当前随着对宇航级集成电路的需求量不断增大，宇航级集成电路的供应量紧缺与器件的高可靠质量要求发生了矛盾与冲突。为此，加强宇航级集成电路的筛选过程质量管控，制定相应的质量管控措施应作为各单位检验部门的工作重点。通过对宇航级集成电路筛选过程要求的分析与归纳，总结出了宇航级集成电路筛选过程中的质量管控措施，可以更好地指导宇航级集成电路检验的相关工作，为未来中国实现航天科技强国目标奠定坚实的基础。