光分组交换技术

光分组交换以其大容量、高速化、无电磁干扰等优良特性受到世界各国的重视。尽管目前对光交换的研究尚处于起始阶段，但随着宽带通信业务的发展和对光交换技术的深入研究，光交换技术将不断进步和完善。对光分组交换的特点及其与电分组交换的区别进行了讨论，并介绍了两处比较典型的光交换结构，最后对几种光分组编码方法进行了介绍和比较。     

低功率激光对塑料的加工

在过去几年中，封离型CO2激光器已日益普及，通过重大的技术改造使它们的工作寿命和功率输出都有很大提高。最初曾经用作医疗器具的这些激光器，如今已在两种最新应用中证明了它们的作用：薄膜高速封口和导线外层剥除。随着消费品需求量的不断增加，包装、实用的薄膜也在不断增加。现行的封口方法是用热刀、热空气和超声技术。热刀和超声技术是接触方式，这样它们就面临许多加工上的困难。任何封接薄膜的机械方法都需要将热量从工具传到薄膜上。这个过程因为加工中的流水线速度有变化而较难控制，尤其是在流水线初始启动的时候。所有与薄膜…     

一种新型抗静电阳离子改性涤纶的开发

ＥＣＤＰ纤维在急冷条件下纺丝成形时，由于大分子空间阻碍效应，在显微镜下观察到“树叶”状结构，部分大分子“冻结”，使其结构不均一，内应力大，抗静电ＥＣＤＰ纤维，由于加入ＰＲ－８６抗静电剂，内应力小，超分子结构趋于完善，提高了纤维的均一性和耐热性，同时又具有优良的抗静电性能，使其成为优良的仿毛涤纶原料。     

基于光强选通成像的液晶透过谱研究

为了更好地将液晶器件应用于选通成像系统中,从理论上推导出了液晶器件透过率与波长、折射率、电压之间的关系。从双折射率与光强的关系定量分析了扭曲向列相液晶的色散效应。用光栅光谱仪选择380～1100nm波段,以SONY公司LCX023CMT型号的TFT-LCD为样品,测试了液晶器件在不同灰度级和波长下的透射率。研究结果表明:液晶器件在可见光波段色散较小,随着灰度值的增加,色散增大;通过自制的光强局部选通成像系统对同一物体进行了对比拍摄,选通后的照片表明液晶器件的色散对成像质量影响不大;该液晶器件对红外光线有近12%的透过率,证明其可以实现近红外波段的强光局部选通成像。     

基于SP6641的手持设备电源设计

根据心理测评数据采集手持设备的低功耗要求,采用SP6641设计高效、升压DC/DC转换电源电路.详细介绍电路设计方案和外围电路元件的选择,实现手持设备使用2节普通碱性电池升压供电.这种电源电路具有很低的启动电压、超低静态电流、高效率电压转换的特点,可用于单或双电池供电的手持设备应用.     

机载天线辐射方向图的MoM-UTD混合法分析

采用矩量法(MoM)结合一致性几何绕射理论(UTD)的混合方法分析了机载单极天线的辐射特性。用该混合方法建立的机载天线辐射模型更符合实际,并且它同时具有MoM的精确性和UTD的高效性,克服了单一方法的不足。计算结果对于预测天线间的电磁兼容性和优化天线布局具有一定的指导意义。     

研究开发适应于国际标准的SPM针尖特性表征结构

标准化是当前扫描探针显微镜领域(SPM)的一项重要工作.国际标准化组织ISO自2004年起已经将SPM标准化列入其工作框架之内,并建立了相关的分委员会、技术委员会和工作小组.本文介绍了国际上当前有关SPM标准化方面努力和主要趋势:SPM术语的标准化被认为是SPM标准化工作范围内首先需要考虑的问题,其相关标准即将发表;SPM数据管理及处理的标准化则是另一项正在进行的有利于数据访问、处理和共享的重要工作.可溯源计量型原子力显微镜(AFM)的发展解决了纳米尺度的度量问题,能够通过对标准物质进行定量分析与定标实现量值的传递.当前发展能够被计量型AFM鉴定的参考物质以及标准化仪器校正过程是实现SPM标准化之前的当务之急.为了促进SPM领域ISO标准的实现,一种新的针尖特性表征结构(tip characterizer)已经被开发出来.这种tip characterizer由超晶格组装技术实现,能够描述针尖的形状并且同时进行侧向尺度的校正.本文探讨了这种新型tip characterizer的性能.这种tip characterizer不易损坏针尖,具有很好的重复性,并能帮助实验观察分析针尖形状和结构几何特性之间的关系.     

基于OCDP的保偏光纤偏振模式耦合仿真及实验

光相干域偏振检测技术广泛应用于保偏光纤中的偏振模式耦合测量和分析。针对保偏光纤中的多点偏振耦合情况,传统的分析方法主要有光路逐点分析和光谱相干矩阵分析,这些方法计算量大且不利于计算机实现。从光波传播特点及宽谱干涉特点出发,研究了保偏光纤中多点偏振耦合的仿真技术和方法,并编写了专用程序进行仿真。利用扫描迈克尔逊实现了多偏振模式耦合的测量,仿真数据与实验吻合。研究表明：通过上述方法能简便、准确地生成多耦合点干涉条纹。从而为保偏光纤中多点偏振模式耦合干涉的测量和分析提供了重要的工具。     

GaN/GaAs(001)与GaN/Al2O3(0001)外延层光辅助湿法腐蚀行为的比较

研究了用金属有机物气相外延(MOVPE)方法在GaAs(001)衬底上生长的立方相GaN(c-GaN)外延层的光辅助湿法腐蚀特性,并和生长在蓝宝石(0001)衬底上的六方相GaN(h-GaN) 外延层的光辅助湿法腐蚀特性进行了比较.实验发现c-GaN膜的暗态电流和光电流的变化不同于h-GaN膜的腐蚀电流的变化规律.对引起上述差异的原因进行了简单的讨论.     

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