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过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每条扫描链中只有一条扫描子链活跃,扫描子链轮流进行扫描和捕获,有效地降低了扫描移位和响应捕获期间扫描单元的翻转频率.同时,为检测抗随机故障提出了一种适用于所提出测试方法的线性反馈移位寄存器(LFSR)种子产生算法.在ISCAS89基准电路上进行的实验表明,提出的方案不但降低约(N-1)?N的平均功耗和峰值功耗,而且显著地减少随机测试的测试应用时间和LFSR重播种的种子存储量. 相似文献
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由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点"反馈"连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率. 相似文献
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集成电路测试方案的关键在于测试向量产生器的设计.传统的测试方法在测试向量生成、测试应用的过程中,没有充分利用测试数据位流来构建测试向量,从而造成了测试时间和存储开销的增加.为了减少测试成本,提出了一种基于test-per-clock模式的内建自测试方法.通过对线性移位测试结构的分析,提出了一种递进式的反复测试生成方法:顺序求解输入位流,逆向精简,多次求解以获得更优值,最终将测试集以较小的代价嵌入到test-per-clock位流中.在测试应用时,只需存储求解后的最小输入流,通过控制线性移位的首位从而生成所需的测试集.实验结果表明,在达到故障覆盖率要求的前提下,能显著地减少测试应用时间和存储面积开销. 相似文献
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在可重构多现场可编程逻辑门阵列(FPGA)系统中,任务调度是一个极其重要的研究方向。参照同构与异构计算领域的调度算法,结合可重构多FPGA计算模型的自身特点,在现有的调度算法的基础上,将任务复制方法引入到可重构多FPGA系统计算领域,如果任务余图最长路经上的父子节点不在同一FPGA上,通过寻找FPGA上的复制空间,提出的算法将父节点尽可能复制在子节点所在的FPGA上,减小了任务之间的通信开销。实验结果表明,对于任务调度有向无环图,提出方法的调度长度优于或等于前人方法的性能下界,而且,FPGA利用率有所提高。 相似文献
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在基于数字证书的应用系统开发中,针对不同的业务系统的权限管理,都要重新编写权限控制代码,造成人力资源浪费的问题。分析并比较了基于数字证书的权限管理与传统用户名/密码方式认证的权限管理区别,提出利用功能向量码的方法实现一种通用的基于数字证书的权限管理模块。利用该模块,只需替换验证签名模块,无需再编写代码,就可以应用到不同的基于数字证书认证的系统中,从而实现权限控制和业务的分离。本系统已经开发并在多个系统中使用,应用效果良好。 相似文献
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