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71.
为了满足姿态测量时对椭圆合作目标的高精度定位要求,提出了一种基于灰度导数加权的椭圆拟合算法(WGG).首先,在进行预处理之后的二值图像上提取初始边缘点,采用简单的代数拟合方法得到椭圆参数;其次,考虑二值化过程中的不确定因素会对提取边界点带来干扰,根据原始图缘中边缘灰度的渐变姓,利用边缘点的灰度导数值对其进行高斯函数拟合;最后,求取每一个边缘点的正交相切点,并构造优化目标函数求取椭圆最优参数.实验结果表明,对测试图像提取出采的椭圆拟合误差能达到0.013像素以内,与真实值点的平均误差为0.017像素,真实图像中椭圆的平均拟合误差为0.008 6像素.对于不同的外界环境该方法都能获得更精确的亚像素边缘和椭圆中心,具有很高的精确性和鲁棒性. 相似文献
72.
综述了国内外科研人员在高性能偏振膜的研制方面开展的工作,主要涉及偏振膜光谱性能、抗激光损伤阈值和膜层应力控制等方面的研究。针对我国神光系列装置对偏振膜的性能要求,简述了中国科学院上海光学精密机械研究所采用电子束沉积技术在光谱性能、损伤阈值和面形精度三个方面开展的研究工作。给出了在薄膜设计、制备和后处理等方面进行的研究和取得的进展。结合上述研究成果,得到了低缺陷密度、低应力的高性能偏振膜。由本科研团队研制的布儒斯特角薄膜偏振器在在2012年和2013年SPIE激光损伤国际会议(SPIE Laser Damage)组织的全球性偏振膜激光损伤阈值水平竞赛中连续取得了p分量损伤阈值和平均损伤阈值最佳的结果。另外,通过解决应力诱导膜层龟裂的重大技术问题,在国内首先推出了大口径偏振片,该大口径偏振片满足透射率TP98%,反射率RS99%的光谱性能要求和17J/cm2(9ns)的通量运行要求,有力支撑了我国SGII-UP大型激光装置的稳定运行。 相似文献
73.
采用电聚合方法成功制备了聚茜素红膜修饰电极,并研究了吡嗪酰胺在该修饰电极上的电化学行为,进而建立了对吡嗪酰胺含量进行定量分析的方法。在0.02 mol/L的HAc-Na Ac(p H 4.5)缓冲溶液中,吡嗪酰胺的浓度在5.0×10-6~1.0×10-4mol/L范围内与峰电流呈良好的线性关系,线性回归方程为:Ip(μA)=1.187c+0.028 6,r=0.994,检出限可达1.2×10-6mol/L。利用该法对吡嗪酰胺片进行定量分析,10次分析结果的相对标准偏差4.0%,满足微量分析要求。 相似文献
74.
张伟丽 《中国石油和化工标准与质量》2012,33(14):28
针对甲醇三塔精馏装置运行中出现的工艺和产品质量问题,实施对策措施,取得了理想的实效。总结甲醇精馏的优化操作与主要技术改造,以期为国内相关行业解决类似问题提供可行思路。 相似文献
75.
用微波等离子体化学气相沉积法(MPCVD)在氧化铝陶瓷衬底上成功地制备出具有[100]织构的金刚石薄膜,并对该薄膜进行了X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和Raman光谱分析。由于氦原子具有高的电离能,因此本工作在反应气氛中引入了少量的氦。以提高氢等离子体的刻蚀效率,实验结果表明,少量氦气的引入促进了等离子体对非(100)面的选择性刻蚀,从而也有利于金刚石薄膜的[100]织构生长。 相似文献
76.
采用电子束蒸发沉积技术制备了平板偏振膜。用Lambda900分光光度计测试了其光学性能。在中心波长1053 nm处P偏振光的透过率TP>98%,S偏振光的透过率TS<0.5%,消光比TP/TS>200∶1,带宽约为20 nm。用波长1064 nm,脉宽12 ns的脉冲激光进行损伤阈值测试,获得P偏振光的损伤阈值为17.2 J/cm2,S偏振光的损伤阈值为19.6 J/cm2。用Nomarski显微镜对薄膜的损伤形貌进行观察,并用Alpha-500型台阶仪对损伤深度进行测试。结果表明,P偏振光的激光损伤为界面损伤与缺陷损伤,而S偏振光的激光损伤主要是驻波电场引起的界面损伤,界面损伤发生在偏振膜表面第一层与第二层界面处,缺陷损伤发生在偏振膜内部。 相似文献
77.
我国水资源短缺评价进展综述 总被引:2,自引:0,他引:2
阐述了我国水资源短缺问题,对我国水资源短缺程度、缺水类型及短缺风险的研究现状进行了综述,指出对水资源短缺出现的概率、程度、风险可能造成的经济损失、社会影响等进行综合评价,并制定相应的对策是今后水资源短缺评价的方向。 相似文献
78.
搭建一个以WinCE系统为基础的嵌入式系统平台,首先要考虑的问题是设计良好的HID(人机接口设备)设备来满足用户的需求;而现有的标准PS2键盘和USB键盘体积太大,无法满足实际的需要。本设计针对嵌入式应用人机交互设备的特殊要求,用8051单片机搭建键盘硬件部分与S3C2410芯片SPI接口通信,并编写了基于WinCE系统的SPI键盘驱动程序来实现该应用。 相似文献
79.
80.
用电子束蒸发技术在K9玻璃及两种不同取向的钇铝石榴石(Y3Al5O12, 简称YAG)晶体上沉积了SiO2薄膜, 采用X射线衍射仪和纳米划痕仪对薄膜显微结构和力学性能进行了研究。实验结果表明: 薄膜在K9 、YAG(100) 和YAG(111)基底上分别呈现非晶态和多晶态; 沉积在不同基底上的薄膜的弹性模量并无明显差异; SiO2薄膜在K9和YAG基底上呈现不同的划痕破坏模式, 并且YAG晶体上薄膜的粘附失效临界附着力远远小于SiO2薄膜与K9基底的附着力。本文从薄膜的结构和弹性模量两方面分析解释了不同基底上薄膜的力学行为。 相似文献