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碳偏析和氢脆共同作用产生的置裂 总被引:2,自引:0,他引:2
在支承辊的断裂源部位取样,运用失效分析手段,结合化学成分数据、物理性能指标、金相高低倍观察和扫描电镜等分析手段,分析了其断裂的过程以及原因。从中发现造成零件置裂的原因很多,但主要是零件心部所受轴向残余拉应力最大的区域内存在着严重碳偏析和氢脆导致其断裂。严重的碳偏析破坏了基体的连续性,形成薄弱环节。此外相关化学成分超标、晶粒粗大也对支承辊的断裂起到了促进作用。 相似文献
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2)立式插装。立式插装是将元器件垂直插入印制电路板。立式插装的优点是:元件密度大,拆卸方便,非轴向电容和三极管多采用这种方法。如图4所示。 相似文献
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建立了有时间窗车辆路径问题的数学模型,针对遗传算法在局部搜索能力方面的不足,提出将模拟退火算法与遗传算法相结合,从而构造了有时间窗车辆路径问题的混合遗传算法,并进行了实验计算。结果表明,用混合遗传算法求解该优化问题,可以在一定程度上克服遗传算法在局部搜索能力方面的不足和模拟退火算法在全局搜索能力方面的不足,从而得到了质量较高的解。 相似文献
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