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SiCl_4外延生长硅晶体中碳沾污的热力学分析 总被引:1,自引:0,他引:1
本文采用热力学计算方法对引起SiCl_4外延生长硅晶体中碳沾污的三个来源作了较详细的分析.所得结果对外延硅中SiC沾污问题的认识,外延工艺和H_1、SiCl_4原材料制备及提纯工艺的改进将有一定的参考意义. 相似文献
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NASICON纳米晶固体材料的制备与烧结致密化 总被引:1,自引:0,他引:1
以常规无机试剂和含硅有机试剂为原料,采用溶胶-凝胶过程与压制成型烧结相结合的方法制备了NASICON纳米晶固体材料,利用TG—DTA对前驱凝胶原粉进行了分析测试,结果表明,NASICON相结构的形成温度范围为750-890℃.实验中重点对800-1000℃烧结所得纳米晶材料进行了表征.目的产物的XRD、FT—IR、FE—SEM、IS结果以及阿基米德法致密度测量结果显示,采用合适的烧结温度和周期可以成功制备出具有纳米级颗粒尺寸、良好结晶特性和较高致密度的固体电解质NASICON材料.材料电学特性测试结果表明,所制备的纳米晶固体电解质材料具有良好的离子导电特性和合理的离子传导激活能,其复合电导与温度倒数的Arrhenius图具有很好的线性关系,并且具有较高结晶特性的材料显示出更高的离子电导率. 相似文献
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