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Single event multiple-cell upsets (MCU) increase sharply with the semiconductor devices scaling. The impacts of several test factors on heavy ion single event MCU in 65 nm SRAM are studied based on the buildup of MCU test data acquiring and processing technique, including the heavy ion LET, the tilt angle, the device orientation, the test pattern and the supply voltage; the MCU physical bitmaps are extracted correspondingly. The dependencies of parameters such as the MCU percentage, MCU mean and topological pattern on these factors are summarized and analyzed. This work is meaningful for developing a more reasonable single event test method and assessing the effectiveness of anti-MCU strategies on nanometer-scale devices. 相似文献
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针对单通道振动信号的多特征分离问题,提出了一种基于正交非负矩阵分解的故障特征提取方法。首先,采用短时傅里叶变换,利用时频分布来描述信号中的局部故障特征,通过核心一致性指标评估子空间维数;然后,在幅值谱矩阵分解的基础上,通过正交性约束实现低维嵌入分量信息的分离,获取局部特征的准确描述;最后,采用相位恢复理论重构出特征波形,对仿真信号和滚动轴承故障数据进行了测试。结果表明,所提出的方法能利用单通道信号有效地分离出微弱的局部故障特征,为机械状态的早期故障诊断识别提供了一种有效手段。 相似文献
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以4个数据统计表和28个分析图为基础,解析了2017年中国及超硬行业主要经济指标的增长情况。详细分析了中国海关统计的行业商品进出口数据,以及了美国、欧盟及日本主要发达经济体进口行业商品的数据。通过数据可见行业2017年已走出低谷,但锯切钻进工具受房地产不景气影响而发展乏力;中国超硬材料类商品在世界上的优势地位,但砂轮和刀具类精加工工具与发达国家产品差距较大,发展空间广阔。 相似文献
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柿竹园多金属矿黑、白钨矿的比例约为3:7,根据黑钨矿的矿石性质,在磨矿回路中加和重选早收已角度的单体钨矿物,有利于减轻黑钨矿过粉碎和减少黑钨细泥。小型试验、扩大试验和工业试验,在磨矿回路中获得11.82% ̄16.97%的黑钨回收率,使全流程合格钨精矿的总回收率达81.89% ̄86.23%。 相似文献