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111.
陈立  李野  秦旭磊  田景全 《电子学报》2011,39(10):2217-2220
帧积分算法是图像增强技术中常用的一种方法,它在处理微光图像时有一定的局限性.本文对此做了进一步的实验与讨论,提出了一种改进的算法——众值帧积分.众值帧积分是对邻帧内对应像素点的灰度值作数学统计,并取出现几率最大的像素灰度值作为滤波结果,因此处理过的图像更接近真实.实验结果表明,众值帧积分能有效地抑制微光图像中的亮点噪声和暗点噪声,对图像边缘的保护特性比帧积分好,具有重要实用价值.  相似文献   
112.
针对采用传统的手工方式开展电能计量器具检定工作效率低、运营成本高的现状,开发了三相电能表自动化检定系统。系统在研究过程中,需要重点考虑自动接线、外观检测、自动封印等关键设备的技术研发,并在应用中对系统进行改进,增加单相电能表编程开关无效状态。采用自动化检定系统,每年可节省成本约591×104元,同时能够消除人为和地域因素引起的检定质量差异。  相似文献   
113.
114.
115.
文中介绍了金属Al和Au薄膜光电阴极的光电发射特性和暴露大气后的稳定情况,给出了实验结果,指出了其应用前景。  相似文献   
116.
文中介绍了金属Al和Au薄膜光电阴极的光电发射特性和暴露大气后的稳定情况 ,给出了实验结果 ,指出了其应用前景  相似文献   
117.
本文对砖筒仓储粮“结顶”问题进行了初步探讨,阐明了温差是造成“结顶”的原因,并提出了预防措施。  相似文献   
118.
A semiconductor PEC etching method is applied to fabricate the n-type silicon deep micropore channel array. In this method, it is important to arrange the direction of the micropore array along the crystal orientation of the Si substrate. Otherwise, serious lateral erosion will happen. The etching process is also relative to the light intensity and HF concentration. 5% HF concentration and 10-15 cm distance between the light source and the silicon wafer are demonstrated to be the best in our experiments. The n-type silicon deep micropore channel array with aperture of 3μm and aspect ratio of 40-60, whose inner walls are smooth, is finally obtained.  相似文献   
119.
A semiconductor PEC etching method is applied to fabricate the n-type silicon deep micropore channel array. In this method, it is important to arrange the direction of the micropore array along the crystal orientation of the Si substrate. Otherwise, serious lateral erosion will happen. The etching process is also relative to the light intensity and HF concentration. 5% HF concentration and 10-15 cm distance between the light source and the silicon wafer are demonstrated to be the best in our experiments. The n-type silicon deep micropore channel array with aperture of 3/2m and aspect ratio of 40-60, whose inner walls are smooth, is finally obtained.  相似文献   
120.
分析X射线系统的噪声来源,以一维方波图象为例,推导了其噪声表达式,得出图像传递信噪比。根据图象传递信噪比函数,讨论了入射线影像系统所能探测图象的极限。  相似文献   
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