基于变容二极管的忆阻PID自适应控制系统设计

为了解决传统PID控制器参数不易整定以及控制过程中无法进行参数动态调整的问题,引入了基于变容二极管的忆阻器模型,提出了忆阻PID自适应控制系统,实现了PID控制系统中参数的自动更新.在理论推导的基础之上,进行了Multisim仿真与物理实验.观察了对正弦波和三角波信号的控制结果,并在现有研究成果之上对冲激信号的控制效果...     

基于TMS320C5402的数字压缩语音录放系统

本文选用TMS320C5402作为DSP芯片，单片机选用AT89C51，设计了一个主从式数字压缩语音录放系统，用来实现语音数字录音和播放的功能。     

振动摆辗的体积效应实验研究

根据振动摆辗机的工作原理,设计了一套基于AT89C51单片机的振动摆辗力检测系统.系统选择了合适的测力传感器,设计了信号调理电路,利用单片机采集摆辗力数据,并通过串口将数据传送到PC右口连行分析处理,为振动摆动辗压技术下金属成形的体积效应研究提供了一种简单可行的实验方法.     

基于AT89C52的粮仓通风微机控制器设计

基于AT89C52单片机的粮仓通风微机控铡器应用多个一线式温度传感器DS18820检测粮仓内不同点的温度值及仓外温度．应用高分子材料CHR—01型湿度传感器检测仓内外的湿度．根据检测的温度和湿度,按照通风条件来控制排风扇和鼓风机的起停．从两实现对粮仓通风的智能控制,     

基于BP神经网络的超声波测距非线性误差校正

本文结合笔者所设计的超声波测距仪,介绍了用神经网络校正超声波传感器的非线性误差的原理与方法,并提出了基于BP神经网络的超声波测距非线性误差校正的模型、算法及其硬件实现。通过理论分析和硬件实验,显示出BP神经网络对超声波传感器的温度补偿和非线性校正的效果良好,充分表明了应用神经网络在提高超声波测距精度方面是一种行之有效的方法。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法分析镁合金板中镧铈

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法直接测定镁合金板中镧和铈,优选了适宜的仪器测定参数和分析谱线,研究了基体效应、共存元素对待测元素的干扰及干扰校正方法。实验结果表明：可采用333.749｛082｝ nm、418.660 nm｛080｝作为La、Ce的分析谱线,基体元素及共存元素对La、Ce的干扰可采用基体匹配、离峰单背景扣除的方法予以消除。La、Ce的检测范围在0.005%～1.0%之间,线性相关系数大于0.999 0,方法检出限分别为0.004 μg/mL（La）和0.006 μg/mL（Ce）。精密度试验表明,检测范围内两种元素的相对标准偏差均小于10%。方法用于镁合金板中La、Ce的测定,结果同光度法的测定结果相一致。     

ICP-AES同时测定生铁或铸铁中的多种元素

提出了一种利用ICP—AES（电感耦合等离子体发射光谱仪）同时测定生铁或铸铁中Mn、P、Cr、Ni、Cu、Mo、V、Ti、Als、Co、Mg、Ca、Zn和Zr共14种元素的分析方法。优选了仪器测定参数,采用基体匹配办法克服了基体干扰,选择合适的分析线和背景校正消除了共存元素问的干扰。本方法相对标准偏差〈3％,回收率达95．5％～106．0％,准确度和精密度均取得较好的的效果。     

基于BP神经网络的超声波测距非线性误差校正

本文结合笔者所设计的超声波测距仪，介绍了用神经网络校正超声波传感器的非线性误差的原理与方法，并提出了基于BP神经网络的超声波测距非线性误差校正的模型、算法及其硬件实现。通过理论分析和硬件实验，显示出BP神经网络对超声波传感器的温度补偿和非线性校正的效果良好，充分表明了应用神经网络在提高超声波测距精度方面是一种行之有效的方法。     

铝硅质耐火材料的XRF分析法

铝硅质耐火材料成分的定量分析通常采用化学分析方法,此方法操作程序繁杂、耗时耗力,如果操作程序控制不当,还会造成分析结果的误差,为此我们开展了XRF分析该材料的方法研究.经过对制样、基本干扰的影响、标样的选择、试样的品种及含量范围等试验,确定了XRF法分析铝硅质耐火材料的可行性,精密度能满足该材料的分析要求,分析的质量和速度都取得了令人满意的效果,可替代现行的化学分析手段.     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定稀土镁铸铁中常量及痕量元素

建立了利用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES法）同时测定稀土镁铸铁中常量及痕量共12种元素(Si,Mn,P,Cu,Mo,V,Ti,Sn,Sb,Mg,La,Ce)的分析方法。研究了稀土镁铸铁试样的前处理方法、优选了适宜的仪器测定参数和分析谱线,采用基体匹配法进行基体效应的校正。实验结果表明,各元素分析谱线线性相关系数大于0.999 0,方法检出限在0.000 12%~0.001 4%之间。方法用于稀土镁铸铁标准物质分析,测定值与认定值相符,测定结果的相对标准偏差在0.59%（Si）～6.9%（La）范围。