全文获取类型
收费全文 | 130篇 |
免费 | 4篇 |
国内免费 | 8篇 |
专业分类
电工技术 | 6篇 |
综合类 | 10篇 |
化学工业 | 3篇 |
金属工艺 | 6篇 |
机械仪表 | 11篇 |
建筑科学 | 14篇 |
矿业工程 | 7篇 |
能源动力 | 3篇 |
轻工业 | 3篇 |
石油天然气 | 9篇 |
无线电 | 23篇 |
一般工业技术 | 16篇 |
冶金工业 | 10篇 |
原子能技术 | 4篇 |
自动化技术 | 17篇 |
出版年
2023年 | 1篇 |
2022年 | 3篇 |
2021年 | 6篇 |
2020年 | 2篇 |
2019年 | 10篇 |
2018年 | 1篇 |
2017年 | 6篇 |
2016年 | 4篇 |
2015年 | 6篇 |
2014年 | 14篇 |
2013年 | 8篇 |
2012年 | 10篇 |
2011年 | 8篇 |
2010年 | 7篇 |
2009年 | 13篇 |
2008年 | 7篇 |
2007年 | 6篇 |
2006年 | 4篇 |
2005年 | 6篇 |
2004年 | 3篇 |
2003年 | 2篇 |
2002年 | 3篇 |
2001年 | 3篇 |
1999年 | 1篇 |
1998年 | 2篇 |
1996年 | 1篇 |
1990年 | 2篇 |
1989年 | 1篇 |
1985年 | 1篇 |
1983年 | 1篇 |
排序方式: 共有142条查询结果,搜索用时 31 毫秒
71.
72.
借助于XRD、扫描电镜、二氧化碳响应测试、电化学阻抗谱等方法,对锂钡掺杂氧化碳酸盐的烧制及其在YSZ二氧化碳电化学传感器中的应用进行了研究。结果表明,锂钡掺杂氧化碳酸盐烧制温度对传感器响应性能具有影响,传感器电动势响应比例随着烧制温度的升高先增大后减小,而其在二氧化碳浓度降低和升高阶段之间的差异随烧制温度的升高呈先减小后增大的变化趋势。当锂钡掺杂氧化碳酸盐烧制温度为800℃时,传感器电动势响应比例和电动势变化率较大,电子转移数接近理论电子转移数2,符合能斯特响应规律。该传感器响应性能与二氧化碳初始浓度无明显关系,并能抵抗一定程度的水蒸汽累积影响,表现出较好的稳定性。 相似文献
73.
74.
金属/YSZ电极对氧传感器性能的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
借助交流阻抗谱测试技术和扫描电镜,对Pt,Au,Ag,Ag—Pt,Ag—Pd电极浆料所制金属/YSZ电极的界面电阻、激活能进行了研究,并计算了由其构成的氧传感器达到90%响应量所需时间。研究表明:400-600℃时,02在Ag/YSZ电极上反应速率最快,激活能最低,为91kJ·mol^-1;Pt/YSZ电极激活能最高,为183kJ·mol^-1,电极反应速率控制步骤为吸附氧原子在电极表面的扩散过程;Ag—Pt,Ag—Pd/YSZ电极激活能均较Ag/vsz电极高,Pd含量增大时,Ag—Pd/YSZ电极激活能亦增大;400-450℃时,Ag/YSZ氧传感器响应时间最短,450-600℃时,Ag-1%Pd/YSZ氧传感器响应最快。 相似文献
75.
76.
外加电场对金属诱导非晶硅横向结晶的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
综述了Al和Ni在外加直流电场以及Cu在交流电场作用下诱导非晶硅(a-Si)薄膜横向结晶的特点和机理.研究了外加电场对金属诱导a-Si薄膜横向结晶的诸多影响因素,如场强及分布等.结果表明,相对于无电场时,适当3强度的电场可显著加快金属诱导横向结晶的速率,场强超过某一临界值则降低该速率,并基于电迁移效应作了较好的解释.对Cu诱导a-Si薄膜横向结晶,在同样条件下,直交流混合电场比单纯的直流电场能引发更高的结晶速率. 相似文献
77.
78.
洞门密封施工是确保盾构安全始发、正常掘进的关键环节.本文提出了一种新型膜袋注浆辅助封堵洞门施工技术,在洞门钢环内壁与帘布橡胶交界处预装环形膜袋注浆密封装置,待盾体全部进入隧道,盾尾刷通过帘布橡胶后,在盾体外壁与围岩之间形成可注浆的封闭空间,达到洞门封堵止水的效果,然后盾构继续推进.本技术在青岛市地铁6号线应用,解决了下穿回填块石层、淤泥质粉质粘土层及强风化、"上软下硬"地层,临海、富水等复杂地质情况盾构始发安全难题,为今后类似工程提供借鉴. 相似文献
79.
80.
型号TICW-2535-C故障现象一给高频电源,BXZ上的SA保险管就烧毁,而且烧得较严重。故障检查拆下高频电源板,怀疑大功率管万一Tll击穿,但用万用表检查均无问题,检查CI也无问题。在CZ两端用稳压电源加上直流12V电压,用示波器测②、③、③、⑤点均无波形并且③点始终为高电平。检查T4时,发现T4的发射极管脚断了,检查Th时,发现Th的发射极管脚也因生锈而断开。重新换上Th、T4后,用示波器测③、③、③、@点均有高频脉冲,安装好后,通电试验一切正常。②泅、。、⑤点请看原理图n故障分析Th的发射极管脚断开造成由TI和D组成的… 相似文献