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在制造或购买模具时,极为常见的是只考虑初置成本。在制造模具时虽然多花费占投资10%或15%的费用,但在一年内却往往可以因而获得500%的利润。例如;一套新的模具装上了冲床并试冲1000件,一切似乎都很正常,冲件检查合格,一星期后模具再次装上冲床,打算冲制50,000件,但冲了10,000件时一个冲孔冲头断裂,把模具拆下来进行检查,发现模具里塞满了废料,压力胀裂了模具,损坏了导套并折断了冲头,修理费用要50.00美元。实际上,只要在制造模具时花15分钟,将模板上的废料孔扩成锥孔,所有问题就都可以得到解决。 相似文献
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本文分析了中厚板传统手工双面焊存在的诸如打底焊焊缝质量无法保证,需用碳弧气刨清根;工人劳动强度大;生产效率低;焊接质量不稳定等主要问题。为提高打底焊焊道质量,不用清根使背面得到良好的凹成形,研制了适合X形坡口的梯形体陶瓷衬垫。探讨了焊缝背面成形的主要影响因素及控制方法。 相似文献
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针对现场测定中存在的通风阻力路线不闭合的情况,提出了主要通风机测定及其性能曲线应用的改进意见。 相似文献
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在备受业界瞩目的第八届高交会上的一个展厅里。深圳茁壮网络公司的员工正在通过遥控器。让用户轻松地看电视、玩游戏、上网。体验丰富的数字化内容。这就是该公司iPanel交互电视带给用户的“十尺体验”。 相似文献
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驱动AM-OLED的2-a-Si:H TFT的设计与制作 总被引:2,自引:1,他引:1
a-Si:H/SiNx:H TFT在长时间栅偏应力作用下,会产生阈值电压漂移,这主要是由绝缘层电荷注入和有源层亚稳态产生而引起的。针对电荷注入现象,文章首先通过控制源气体SiH4和NH3流量的不同,利用PECVD制作了不同N/Si比(0.87~1.68)的氮化硅绝缘材料,对其进行了椭偏、红外和光电子散射能谱(EDS)测试。制作了不同的MIS结构电容,对其进行老化实验和C-V测试分析,结果表明稍富氮(N/Si比稍大于标准Si3N4的化学计量比1.33)的氮化硅做成的M1S样品在老化前后C-V曲线偏移不是很明显,表明其缺陷态密度相对较小,能够有效减小半导体/绝缘层界面间的电荷注入。设计了驱动OLED的2-a-Si:H TFT像素电路及其阵列版图,优化了电路中的几个关键参数,即T1的W/L=2.5、T2的W/L=25和存储电容Cs=0.8pF。运用7PEP生产工艺,制作了13cm(5.2in)的TFT阵列样品。对TFT进行I-V特性测试,其开态电流为10μA,开关比为10^6;对AMOLED显示屏样品进行了静态驱动下的亮度测试,其最高亮度为341cd/m^2。 相似文献
40.
最近固液界面存在纳米气泡已经引起人们越来越多的关注。虽然经典热力学理论认为室温下水中纳米气泡不能稳定存在 ,但近几年越来越多的研究结果却表明固液界面存在纳米气泡 ,并引起疏水长程作用力。目前直接探测固液界面纳米气泡的最有力手段是原子力显微镜 (AFM)技术 ,尤其是AFM的轻敲模式非常适合于柔软样品的研究 ,因此是目前探测固液界面纳米气泡的最有力手段。本文利用轻敲模式对醇水替换方式产生的纳米气泡进行成像 ,籍以研究液体温度对纳米气泡形成的影响。在研究中发现 ,液体的温度对纳米气泡的形成有显著的影响。当液体温度升高… 相似文献