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51.
The ability of high-voltage power MOSFETs and IGBTs to withstand avalanche events under unclamped inductive switching(UIS) conditions is measured.This measurement is to investigate and compare the dynamic avalanche failure behavior of the power MOSFETs and the IGBT,which occur at different current conditions.The UIS measurement results at different current conditions show that the main failure reason of the power MOSFETs is related to the parasitic bipolar transistor,which leads to the deterioration of the avalanche reliability of power MOSFETs.However,the results of the IGBT show two different failure behaviors.At high current mode,the failure behavior is similar to the power MOSFETs situation.But at low current mode,the main failure mechanism is related to the parasitic thyristor activity during the occurrence of the avalanche process and which is in good agreement with the experiment result. 相似文献
52.
超荧光光纤光源的工作特性 总被引:1,自引:0,他引:1
研制了一种激光二极管泵浦的掺钕超荧光光纤光源,在波长1.08μm处获得了1.0mW的光功率输出,谱线宽度为21.2nm,实验中使用的是掺钕单模光纤,芯径5μm,截止波长1.0μm,其损耗在泵浦波长0.8μm处为1500dB/km,而在输出波长1.08μm处为10dB/km。 相似文献
53.
剩余油气资源是盆地勘探部署的基础,对其进行预测是勘探研究的关键。针对南海北部湾盆地北部坳陷在勘探部署中剩余油气资源认识不清的问题,根据该坳陷油田及储量的现状,运用勘探效益法和分形模型2种非线性统计法,从历年石油探明储量和单井发现率以及油田探明的储量规模等方面对其油气资源进行评价。研究结果表明:北部坳陷原油总探明储量约为2.75×10~8m~3,待探明储量约为1.40×10~8m~3,仍具有较大的勘探潜力。研究成果对该坳陷中长期规划和勘探部署提供了地质依据。 相似文献
54.
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56.
57.
始新统文昌组二段中深湖相泥页岩是珠江口盆地西部文昌B凹陷的主力烃源岩,长期以来被认为主要分布在凹陷中心部位。2016年钻探的X4井在文昌B凹陷东北缘文昌组二段发现了11.8 m厚的灰褐色页岩,其有机质丰度高,有机碳含量为9.32%~9.44%,生烃潜量为59.72~60.18 mg/g,氢指数为618.7~620.3 mg/g,达优质烃源岩级别;干酪根显微组分中腐泥组含量为93%,干酪根为Ⅰ型,生油潜力大;生物标志化合物中富含C30-4甲基甾烷,基本不含树脂化合物"W、T";具有低频、连续、强反射地震特征及高伽马、高电阻率和高声波时差的测井响应特征;总体上与文昌B凹陷已证实的文昌组二段中深湖相优质烃源岩典型特征一致。在此基础上,重新落实了文昌B凹陷文昌组二段烃源岩展布范围和生油量,比前人预测结果分别增大了约75%和40%,改变了以往该凹陷优质烃源岩分布较局限的认识,扩大了烃源岩展布范围,提升了整个文昌B凹陷及周缘的勘探潜力。 相似文献
58.
节约能源、低碳生产是我国国民经济发展和社会长期发展的战略性任务,符合可持续发展的客观需求。作为供电企业,在输电、变电和配电能量的损耗是供电的主要成本之一。随着农村和边远地区电网建设的逐渐发展,导致中低压电网线损电量越来越大。有效降低中低压电网电量损失成为了供电企业节能减排的突破难点。笔者针对这个问题进行了长期研究,主张由构建科学的管理体系,采用创新的技术方法在中低压智能电网中的应用、集中自动化抄表模块之间的有机结合方向入手,控制智能电网中低压线路的线损,为我国中低压电网线损管理提供学术贡献。 相似文献
59.
This paper introduces a homemade injection-enhanced gate transistor (IEGT) with blocking voltage up to 3.7 kV. An advanced cell structure with dummy trench and a large cell pitch is adopted in the IEGT. The carrier concentration at the N-emitter side is increased by the larger cell pitch of the IEGT and it enhances the P-i-N effect within the device. The result shows that the IEGT has a remarkablely low on-state forward voltage drop (VCE(sat)) compared to traditional trench IGBT structures. However, too large cell pitch decreases the channel density of the trench IEGT and increases the voltage drop across the channel, finally it will increase the VCE(sat) of the IEGT. Therefore, the cell pitch selection is the key parameter consideration in the design of the IEGT. In this paper, a cell pitch selection method and the optimal value of 3.3 kV IEGT are presented by simulations and experimental results. 相似文献
60.