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简要介绍了通过IP网络上电路倍增设备(IP CME)的数据流的处理过程;IP CME中的复用技术;控制IP包发送的激活算法;网络发生拥塞丢包的处理方法;并在传输效率和信令处理2个方面与VOIP进行比较,可以看出IP CME具有很大的优越性和良好的发展前景。 相似文献
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Chun-Tsen Lu Kun-Wei Lin Huey-Ing Chen Hung-Ming Chuang Chun-Yuan Chen Wen-Chau Liu 《Electron Device Letters, IEEE》2003,24(6):390-392
A new and interesting Pd-oxide-Al/sub 0.3/Ga/sub 0.7/As MOS hydrogen sensor has been fabricated and studied. The steady-state and transient responses with different hydrogen concentrations has been measured at various temperatures. Based on the large Schottky barrier height and presence of oxide layer, the studied device exhibits a high hydrogen detection sensitivity and wide temperature operating regime. The studied device exhibits the low-leakage current and obvious current changes when exposed to hydrogen-contained gas. Even at room temperature, a very high hydrogen detection sensitivity of 155.9 is obtained when a 9090 ppm H/sub 2//air gas is introduced. Furthermore, when exposed to hydrogen-contained gas at 95/spl deg/C, both the forward and reverse currents are substantially increased with increased hydrogen concentration. In other words, the studied device can be used as a hydrogen sensor under the applied bidirectional bias. Under the applied voltage of 0.35 V and 9090 ppm H/sub 2//air hydrogen ambient, a fast adsorption response time about 10 s is found. The transient and steady-state characteristics of hydrogen adsorption are also investigated. 相似文献
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Ching-Te Chuang Bernstein K. Joshi R.V. Puri R. Kim K. Nowak E.J. Ludwig T. Aller I. 《Circuits and Devices Magazine, IEEE》2004,20(1):6-19
The generation-over-generation scaling of critical CMOS technology parameters is ultimately bound by nonscalable limitations, such as the thermal voltage and the elementary electronic charge. Sustained improvement in performance and density has required the introduction of new device structures and materials. Partially depleted SOI, a most recent MOSFET innovation, has extended VLSI performance while introducing unique idiosyncrasies. Fully depleted SOI is one logical extension of this device design direction. Gate dielectric tunneling, device self-heating, and single-event upsets present developers of these next-generation devices with new challenges. Strained silicon and high-permittivity gate dielectric are examples of new materials that will enable CMOS developers to continue to deliver device performance enhancements in the sub-100 nm regime. 相似文献
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玻璃微珠的表面化学镀银及红外辐射性能研究 总被引:6,自引:1,他引:5
采用化学镀方法在玻璃微珠表面镀银,考察了预处理条件、反应温度和反应时间等因素对玻璃微珠表面镀银的影响,并通过扫描电镜和X-射线衍射分析仪,对镀银后玻璃微珠的表面形貌和结构进行了观察和表征。将镀银玻璃微珠用于涂料中,考察了玻璃微珠在涂料中的应用及其红外辐射率的变化,探讨了化学镀条件对涂料红外辐射率的影响,结果表明,在控制反应温度和浓度的条件下,可使镀银玻璃微珠的红外辐射率由原来的1.02降为0.70,将其应用于涂料后,涂层的红外辐射率为0.80。 相似文献
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使用光强标定的发射光谱(AOES)测量了CHF3/C6H6混合气体的微波电子回旋共振(ECR)放电等离子体中基团的分布状态。实验发现随着CHF3流量的增加,成膜基团CF、CF2、CH等的相对密度增大,而刻蚀基团F的密度也会增加,从而使得a—C:F薄膜的沉积速率降低。同时红外吸收谱(IR)分析表明,在高CHF3流量下沉积的a—C:F薄膜中含有更高的C—F键成分。可见在a—C:F薄膜的制备中CHF3/(CHF3 C6H6)流量比是重要的控制参量。 相似文献