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半导体分析仪微小电流校准方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
半导体分析仪作为目前半导体器件I-V特性曲线的最重要测量仪器,其微小电流低至pA量级,准确度至1%,采用常规直接测量方法无法实现,论文在研究校准方案的基础上,利用"加压测流法"对GΩ量级高值电阻器进行标定,设计与其配套的无源低电流适配器,巧妙利用Guard技术实现对pA、nA量级微小电流的校准。采用"传递比较法"与上级机构对1pA~10nA的微小电流进行验证,试验数据验证了论文校准方案的正确性。论文技术成果已经应用于半导体工艺线源表类测试系统的校准中,值得借鉴推广。 相似文献
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非第一范式历史数据库的代数结构 总被引:1,自引:0,他引:1
本文建立了非第一范式历史数据库的一个代数结构,在保持标准关系代数的基础上,实现了不同时间属性值的比较,从而能通过代数运算实现属性动态变化情况的查询. 相似文献
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由于图像数据中普遍存在的“语义鸿沟”问题,传统的基于内容的图像检索技术对于数字图书馆中的图像检索往往力不从心。而图像标注能有效地弥补语义的缺失。文中分析了图像语义标注的现状以及存在的问题,提出了基于语义分类的文物语义标注方法。算法首先通过构建一个Bayes语义分类器对待标注图像进行语义分类,进而通过在语义类内部建立基于统计的标注模型,实现了图像的语义标注。在针对文物图像进行标注的实验中,该方法获得了较好的标注准确率和效率。 相似文献
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乔闹生 《计算机工程与应用》2009,45(29):144-145
首先分析了含有高斯白噪声和脉冲噪声的图像必须采用不同去噪方法的原因;然后分别给出了小波变换后的低频子带图像与高频子带图像的去噪方法:用改进的邻域平均法对低频子带图像进行去噪处理。对高频子带图像采用中值滤波、阀值处理、小波系数增强方法去除脉冲噪声;最后对经过处理后的各子带图像进行小波逆变换得到恢复图像;实验结果证明了理论分析的正确性。 相似文献
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采用高温自蔓延(SHS)方法制备了化学组成为Sr1-xLaxFe12-xZnxO19(x=0~0.4)的La-Zn联合掺杂的锶铁氧体,并研究了晶体结构与离子掺杂量对铁氧体磁性能的影响.根据相关的热力学数据,分析了合成过程中产生不同氧化物杂质的热力学机制,结果显示,通过合适控制反应体系中的Fe粉含量,可以合成单一的M型铁氧体相.SEM表明SHS方法制备的样品比传统方法制备的样品结晶更完整,粉体颗粒呈明显的六角平板状,颗粒尺寸基本分布在0.5~1.2 μm之间.La3 ,Zn2 的加入能够明显地提高试样的综合磁性能,相比于未掺杂的试样,在未取向情况下其剩磁提高了14.4%,Hcb提高了15.3%,(BH)m提高了30.7%,并且与传统制备方法相比,采用SHS方法获得的样品的内禀矫顽力Hcj提高尤为明显,最高可达322kA/m. 相似文献