用于红外成像导弹抗干扰测试的仿真模型

红外干扰技术的发展制约了红外型导弹的作战效能,抗干扰能力的测试评估是导弹研制过程中所必须考虑的.单纯地通过实验进行抗干扰性能测试评估不仅耗费时间、增加成本,且所能考核的条件也非常有限.通过理论分析和实测数据建立了典型的空中目标和诱饵干扰的红外辐射模型及相对运动模型,并考虑大气因素的影响,构建出导弹动态条件下抗干扰性能的测试评估环境,分析了诱饵干扰的投放间隔、距离、方向、数目、目标机动等多种因素对抗干扰性能的影响,从而完善了对导弹抗干扰性能指标的评估.     

流水线ADC的行为级仿真

行为级仿真是提高流水线（Pipeline）ADC设计效率的重要手段。建立精确的行为级模型是进行行为级仿真的关键。本文采用基于电路宏模型技术的运算放大器模型,构建了流水线ADC的行为级模型并进行仿真。为验证提出模型的精度,以一个7位流水线ADC为例,分别进行了电路级与行为级的仿真。并做了对比。结果表明这样构建的行为级模型能较好地反映实际电路的特性,同时仿真时间大大缩短。     

高压有级变频软起动装置在烧结机引风机的应用

本文将可控硅高压有级变频软起动器成功应用于张钢炼铁烧结机主引风机同步电机的启动装置中;并分析了试运行中出现的故障、原因,给出了处理措施,从而保证了装置的安全可靠运行。     

基于模板的低信噪比前视红外建筑物识别技术

针对低信噪比复杂地物背景下的前视红外地面建筑物目标自动识别问题,提出了一种基于目标模板的自动目标识别方法。首先,根据制备模板的尺度和形状信息对实时图像进行形态学背景抑制增强和目标重构处理;然后,对重构后的图像进行垂直和水平边缘线条提取和轮廓匹配,融合垂直和水平线条匹配结果得到最终的相关峰和潜在目标区域;接着,根据目标模板对潜在目标区域进行区域灰度对比度度量;最后,融合轮廓匹配和区域灰度对比度度量结果,得到最终相关峰,实现目标的识别。大量数据测试表明,该方法的正确识别率在92%以上,定位误差小于2个像素,速度快、检测性能好、适应性较强、易于硬件实现。      

DC/DC电源用光电耦合器低频噪声测试方法研究

光电耦合器是DC/DC电源的关键器件,光电耦合器低频噪声的随机增大是该类电源主要失效模式之一。目前,国内尚未形成光电耦合器低频噪声的有效测试方法,更未建立相关标准。文章详细分析了光电耦合器低频噪声特性及产生机理,提出了其低频噪声测试的偏置电路、测试设备和测试方法。针对用于DC/DC电源的典型光电耦合器(4N47)的实测结果表明,该方法能够准确测试光电耦合器的低频噪声,为DC/DC电源用光电耦合器的系统适用性和典型故障提供了一种有效的评估方法。     

基于列表译码方法在查询访问模型下含错学习问题的分析

Regev在2005年提出了含错学习问题(LWE),这个问题与随机线性码的译码问题密切相关,并且在密码学特别是后量子密码学中应用广泛。原始的含错学习问题是在随机访问模型下提出的,有证据证明该问题的困难性。许多研究者注意到的一个事实是当攻击者可以选择样本时,该问题是容易的。但是目前据作者所知并没有一个完整的求解算法。该文分析了查询访问模型下的带有错误学习问题,给出了完整的求解算法。分析采用的工具是将该问题联系到隐藏数问题,然后应用傅里叶学习算法进行列表译码。     

大电流密度下欧姆接触退化机理的研究

对大电流密度下欧姆接触的结构进行了改进,采用只对接触区域老化而其它区域非破坏性的结构特点,保证测量数据的真实有效性。工艺制备中采取多次SiO2铺垫多次光刻技术解决了引线电极断裂的可能。通过施加达到或超过105A/cm2电流密度,利用文中结构测得比接触电阻早期快速失效,且随电流密度增加退化加剧,对样品老化前后进行能谱分析得知,大电流密度下接触层中Al离子发生了扩散从而破坏了良好接触。     

同步荧光结合神经网络同时测定3种抗生素

为了更快速、简便、准确地同时测定多种抗生素混合物,采用同步荧光光谱结合径向基神经网络的方法,对3种氟喹诺酮类抗生素（乳酸环丙沙星、乳酸左氧氟沙星、盐酸左氧氟沙星）的同步荧光光谱进行研究。选择3组分浓度均为1.67ng/mL的混合溶液,测量其3维同步荧光光谱;分别测量39种不同浓度的混合溶液样本的同步荧光光谱;选取其中35种作为训练组,其余4种作为预测组,将训练组样本对应的光谱数据作为输入,建立和训练径向基神经网络;在发射波长与激发波长的差Δλ=194nm条件下,利用训练好的神经网络对预测组中各组分的浓度进行预测,得到3种组分浓度预测的平均相对误差分别达到3.59%,3.47%,3.09%。结果表明,当Δλ设定为194nm时,3种抗生素的同步荧光峰差异最为明显、区分度高,该方法能实现对3种抗生素混合物中各组分的同时测定。这为多种抗生素混合物同时测定提供了一种快速、简便、准确的方法。     

微波反射光电导衰减法测量InGaAs 吸收层的均匀性

外延材料的均匀性对制备大型线列和二维面阵焦平面阵列(FPA)探测器非常重要.用微波反射光电导衰减法(μ-PCD)分别在300 K和85 K温度下测量了用分子束外延技术生长的p-InP/n-InGaAs/n-InP双异质结中掺杂InGaAs吸收层的载流子寿命分布图,并详细论述了这种测试技术的理论基础.在300 K和85 K时,平均寿命分别为168.2 ns和149.4 ns,结果与ZnS/n-InGaAs/n-InP的基本一致.寿命变温曲线表明,中等掺杂InGaAs载流子寿命在低温下变化较小.μ-PCD法可以非接触无损伤快速测量p-InP/n-InGaAs/n-InP双异质结中InGaAs的寿命图,对于表征InGaAs吸收层的均匀性有潜在的应用,这对研制均匀性良好的InGaAs焦平面探测器非常重要.     

无铅电子封装Sn-Cu焊料润湿性试验研究

为了改善无铅焊料的润湿性,配置活性剂松香焊剂和无机物焊剂,研究了Sn-0.75 Cu焊料的润湿性.分析讨论了影响Sn-0.75 Cu焊料润湿性的主要因素,获得了焊剂和Sn-0.75 Cu焊料的最优匹配.在镀锡铜片上,5#焊剂匹配Sn-0.75 Cu焊料能够获得最佳的润湿性(润湿角为18°),已接近Sn-37 Pb焊料的润湿性.