光测设备动态目标光学模拟技术及其分析

本文针对光测设备动态跟踪测量不确定度的检定问题,提出了基于准直技术及计算机光点控制技术的室内不确定度检定方法,给出了设计原理及计算模型,并对该系统各项和工程设计给予了分析。     

PTP网络非对称时延抖动修正算法设计与分析

为了改进PTPV2时间同步网络非对称时延抖动对主从时钟同步精度的影响,设计了传输报文的非对称时延抖动修正算法。基本思路是在主从时钟交换报文信息中,找出最佳报文用于从时钟的调整。采用两级过滤先进增强时间恢复算法,即使发生网络传输阻塞,也能筛选出未受阻塞的幸运报文用于时钟偏差估计。新算法能够很容易集成到PTPV2协议中,而不会影响基本的报文信息交换。实际测试结果表明,新设计的时间恢复算法,在普通交换机网络中,可有效抑制非对称时延抖动,主从时钟同步精度也可优于100ns。     

温度自动校准系统的建立与分析

本文给出了在建立温度自动校准系统时，应如何考虑系统的硬件，软件结构，如何进行技术性能的评价，并对系统的不确定度进行了分析。     

虚拟基准设计及在设备技术状态监测中的应用分析

针对测试设备在周期校准期间性能参数漂移的监测问题,提出了采用虚拟基准代替实物基准进行设备状态监测的方法,给出了虚拟基准系统实现原理和结构框架.采用神经网络算法(NN)构建虚拟基准预测模型,多项式回归算法(MR)构建参考模型并作为比较基模型,获取虚拟基准的NN状态误差输出值和MR状态误差参考值.设计了可信度指标RI(reliance index)和相似度指标SI(similarity index)作为虚拟基准可信度和测量过程数据符合性评价标准,对虚拟基准的可靠性和设备技术状态数据进行分析.实际应用表明,设计的虚拟基准方法与实物基准方法相比,有较高的监测准确性.其平均绝对百分比误差(MAPE)和最大相对估计误差(MREE)分别为0.12％和1.06％.     

双指数脉冲的产生与分析

文中推导了双指数脉冲函数的参数ｙｍ＝Ｔｍ／Ｔｍａｘ与ｘ＝ｂ／ａ之间的近似关系式,其中,Ｔｍａｘ和Ｔｍ分别为脉冲峰值时间及脉冲后沿半峰值时间。详细分析了采用单位冲击函数和阶跃函数产生双指数脉冲的双口网络,给出了参数设计的原则。     

基于证据理论的测量不确定度评定与分析

针对GUM推荐的基于概率统计理论的不确定度表达方法存在的局限性,提出了一种更为通用的基于证据理论的随机模糊变量（RFV）方法,实现对测量结果及其不确定度的评定。根据有效测量信息构建了RFV隶属函数以及相应的数学理论框架,通过简单的例子给出了如何运用RFV进行不确定度评定的流程。实验结果表明,该方法既可以提供测量结果的置信区间也可以给出不确定度分量的贡献程度。通过与GUM方法的比较,当存在不可忽略的非随机分量影响时,该方法比概率统计方法能更客观地描述测量结果离散程度。     

双极运算放大器的辐射效应和退火特性

本文介绍了ＯＰ－０７双极运算放大器的６０Ｃｏγ射线、不同能量电子和质子的辐照试验以及６０Ｃｏγ和电子辐射损伤在室温和１００℃高温条件下的退火效应，揭示了双极运算放大器电参数对不同射线的辐照响应规律；研究了不同辐射源对双极运算放大器的不同辐射损伤机理；并对质子辐照损伤程度与能量的依赖关系以及质子辐照损伤同６０Ｃｏγ和电子辐照损伤的差异进行了探讨．结果表明，界面态的产生是６０Ｃｏγ和电子辐照损伤的主要原因，而位移效应造成的体损伤在质子辐照效应中占有重要地位．     

含F栅介质的击穿特性研究

本文研究了ＭＯＳ结构击穿电压与极性和栅面积之间的相互依赖关系、栅介质中Ｆ离子的引入对击穿电压的影响．结果表明，击穿电压受热电子贯穿方向制约；栅面积与击穿电压之间无明显依赖关系；一定量的Ｆ离子引入栅介质对击穿电压大小不造成多大影响．用一定模型解释了实验结果     

辐射感生场氧漏电流对CMOS运算放大器特性的影响

介绍了不同版图结构制作的 CMOS运放电路的电离辐照实验结果 ,分析比较了在常规版图及采用了保护环措施后制作的运放电路辐照响应之间的差异。结果显示 ,常规版图制作的运放电路 ,由于存在不易消除的场氧漏电 ,其电路的辐射敏感性会明显增大。而加入保护环后 ,能明显消除这一不利影响 ,从而使电路的抗辐照特性得到改善。     

CMOS运算放大器的辐照和退火行为

介绍了CMOS运算放大器电路经电离辐照后 ,在不同偏置及不同退火温度下 ,运放整体性能参数、电路内部单管特性及功能单元电路的节点电流、电压的变化规律 ,分析了引起运放辐照后继续损伤退化的基本原因 .结果显示 ,运放电路辐照后的退火行为与偏置及温度均有较大的依赖关系 ,而这种关系与辐照感生的氧化物电荷和Si/SiO2 界面态密度的增长与退火直接相关