CNP600机组替代二次中子源装料及无源临界

二次中子源组件是压水堆传统装料和临界中常用的相关组件,但是秦山第二核电厂(简称"秦二厂")1号机组所使用的二次中子源组件接近使用寿命,继续使用存在破损或失效风险,为此决定在秦二厂1号机组第14循环实施替代二次中子源项目.经过理论论证与试验验证,表明使用具有一定燃耗深度的燃料组件可以替代二次中子源的作用.随后秦二厂在制定...     

浅论我国建材工业清洁生产途径

阐述了我国建材工业实行清洁生产的必要性.提出了建材工业实行清洁生产的主要途径.为建材工业实行清洁生产的提供可参考的工程实践.     

小样本下的低压电力线网络故障量化

低压电力线网络的区域性的故障告警难以量化分析。同时,由于节点数目众多,对低压电力线节点单节点级别的故障告警进行专家分析的成本过高,进一步增加了网络故障区域性量化的难度。为此,从实际出发,给出了专家标注样本较少情况下的低压电力线网络节点级和区域级量化的方法。首先,设计了一个基于注意力机制的节点故障量化图卷积神经网络（Nodal Fault Quantization Graph Convolutional Neural Network,NFQ-GCN）,以不同节点、不同重要性因子作为神经网络的输入。进一步地,设计了区域性节点故障量化图卷积神经网络（Regional Fault Quantization Graph Convolutional Neural Network,RFQ-GCN）,通过约束节点扩增时区域嵌入位置振动函数至利普希茨（Lipschitz）连续条件,使区域的故障量化可解释地满足小样本的专家标注模式。通过设计上述两个神经网络,可以实现节点级和区域级的智能故障量化,降低故障分析成本。     

智能终端导航软件的用户体验分析及评测方案

传统的手持终端为人与人的沟通增加了一个渠道,智能终端则为用户与外界的交流开辟了新的路径。宽带无线通信和超大规模集成电路技术的发展为这一变革提供了底层基础,智能操作系统和海量业务应用则分别提供了用户与外界交流的方式和内容。对于传统手持终端的测试,业界主要关注终端的基本业务功能、通信性能以及稳定性。随着智能终端的蓬勃发展,智能终端的用户体验评测以及如何提升用户体验将是业内新的重大挑战。用户体验评测的相关研究将是一个非常复杂、层层深入的过程。本文从用户行为的视角,以导航软件为例,对其用户体验进行分析并给出相应的评测方案。     

LTE-A下行MIMO技术新特性及测试方法研究

为满足ITU对下一代移动通信系统频谱效率的更高要求,3GPP在LTE-A系统中引入了增强型下行MIMO技术,通过将下行4天线扩展为8天线,为系统引入了更高的分集增益和复用增益,提高了网络吞吐量和频谱效率。本文对LTE-A中增强型下行MIMO技术进行分析,通过将LTE-A与LTE下行MIMO传输方式进行对比,重点对LTE...     

2012年上半年中国集成电路产业市场逆势增长

<正>1全球半导体市场持续低迷,2012年可能出现负增长自2008年国际金融危机以来,全球经济发展始终笼罩在危机的阴影中。虽然2010年国内外半导体市场强劲反弹,但只是昙花一现。2011年受经济不景气的影响,全球半导体产业规模为2 995亿美元,销售额仅比2010年增长0.4%。虽然人们     

抓住战略性新兴产业机遇,应对集成电路市场波动

回顾2011年,受欧美经济疲软、制造业产能过剩,以及半导体产品库存过剩等诸多因素的影响,国内外半导体市场增速均大幅放缓。2011年全球半导体市场销售额规模为3022.71亿美元,同比仅微增1.3%。分季度来看,一季度(Q1)全球半导体市场延续了上一年较快的增长速度,但市场增长势头已放缓;随后在日本大地震和欧债危机加剧的影响下,产     

高等学校学籍档案管理与利用

高等学校学籍档案作为学生在校学习状况的真实体现,在学校教学工作中占有重要地位。正确认识学籍档案,科学管理学籍档案,有效利用学籍档案,对学校发展有着不可忽视的重要作用。     

基于实时车辆源强的交通噪声预测模型研究

道路交通噪声预测是公路建设与使用过程中的重要一环,准确预测交通噪声对道路两旁敏感点的噪声贡献和影响能为噪声治理提供强有力的技术支撑。该研究从移动声源在预测点产生的声能推导出交通噪声计算数学模型。通过实验室测试和实地测试进行验证,得出预测点位测量值与预测值的差值在3 dB(A)以内,说明使用该数学模型进行预测噪声具有很强的适用性。再通过该模型的应用研究,计算某一敏感点噪声主要受多长范围内道路的影响,以此作为依据为后期治理提出一些建设性的意见。     

TD-LTE终端芯片关键技术测试及面临的挑战

TD-LTE终端芯片测试是促进TD-LTE终端芯片从开发初级阶段到产品技术较为成熟、系统较为稳定的有效手段之一。本文对TD-LTE终端芯片关键技术的测试内容、测试方法以及产品设计和测试所面临的挑战进行了介绍,指出终端芯片仍然是整个TD-LTE产业链相对薄弱的环节,推动终端芯片进一步完善需要芯片和终端产品开发、全面的调测验证以及完备的测试系统和仪表支持等多个环节的全面结合、协同推进。