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电子元器件失效模式影响分析技术 总被引:2,自引:0,他引:2
在元器件中进行失效模式影响分析(FMEA)技术研究和应用的基础上,论述了适合元器件的失效模式、机理影响分析(FMMEA)技术,在国内首次将FMMEA技术应用到元器件的基础上,研制了FMMEA技术分析软件,为元器件的研制和使用中控制或消除相关的失效模式及机理,提高产品质量和可靠性提供了一个新的方法和思路。 相似文献
62.
由于金属间化合物的生成,会使金铝键合的接触电性能受到影响.从金属间化合物生成这一单一失效机理出发,以失效物理为理论基础,通过恒定高温加速和高温步进加速试验,针对不同温度下的金铝键合寿命做出评价,并给出键合寿命评价流程. 相似文献
63.
64.
讨论了MOSFET的辐照损伤机理,通过低能(10keV)X射线辐照试验,分析了不同X射线辐照总剂量、不同剂量率对nMOSFET单管的转移特性以及阈值电压的影响。结果表明X射线辐照对nMOSFET的阈值电压变化的影响与^60Co辐照影响的规律基本一致。 相似文献
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大中型防爆电机振动测试与分析 总被引:1,自引:0,他引:1
采用丹麦BK公司振动测量及分析仪器,对典型的大中型防爆电机振动故障进行测量分析研究,为准确判断振源特性提供依据。 相似文献
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69.
介绍了一种适用于多种高速图像和信号处理应用的IMSA110数字信号处理器的结构及其工作原理,并结合其在导引头信息处理中的应用,开发研究了采用该DSP进行图像和信息处理的关键技术,最后给出了实验结果。 相似文献
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