LED灯丝灯胶的制备及其触变性

本文主要研究乙烯基苯基硅油、含氢苯基硅油、苯T树脂、催化剂、抑制剂等最优化配比,通过添加白炭黑等触变剂,使硅胶达到触变性流体,并对制成的LED灯丝灯硅胶进行触变性测试,当二氧化硅的用量为5%时,硅胶的触变性良好,屈服应力为49.0Pa,结构恢复时间为3.3s,满足灯丝灯的封装要求,为我国照明LED产业提供材料基础。     

多喷嘴水煤浆加压气化炉烘炉升温注意事项

针对气化炉预热烧嘴在升温初期火焰经常熄灭,很难保证按照耐火砖升温曲线进行升温和按照计划进行气化炉热备的问题,通过一系列措施解决了升温期间常见问题,在各项工艺条件正常的条件下,气化炉低温区极少出现灭火,保证了低温区升温正常进行的同时解决了升温期间积炭的问题。     

酿酒古笈钩沉录

汉书酎与酎金汉书为后汉班固所著,书未完,固死,由其妹班昭续成。全书一百二十卷。今所用者为唐朝颜师古注解本。后汉书亦一百二十卷,为南北朝时代宋人范晔所撰。1.“酎”(音宙)是我国古代的酒名,用稻谷或小米经过两次或多次重酿的黄酒,类似现代无锡的“双套”或绍兴的“善酿”。《礼记·月令》:“孟夏之月,天子饮酎,用礼乐。”     

绿色阻燃酚醛泡沫塑料的制备及性能

系统研究了绿色酚醛树脂泡沫塑料的影响因素,包括制备温度、表面活性剂种类及用量、固化剂、固化反应时间、发泡剂种类、阻燃剂种类及用量等,优化得出最佳配方为:阻燃剂5份,表面活性剂3份,固化剂12份,对甲基苯磺酸/磷酸7∶5,增韧剂1份,较佳的发泡温度为75℃~78℃。在阻燃剂的选择方面,液态磷酸酯类阻燃剂CR-741阻燃效果最好,添加量为5%。通过锥形量热仪试验方法研究了不同配方和发泡工艺产品的燃烧性能,结果表明,通过添加无卤阻燃剂后,其热释放速率和总烟释放量下降,制备的酚醛泡沫塑料阻燃性能进一步提高。     

一种个性化推荐方法

提出了一种新的个性化推荐方法。该方法来源于对个性化推荐技术本质的研究。产出的方法包括一种用正态分布卷积性质所得到的离线相似度计算方法;一种通过计算物品与物品之间无差别的相似性操作次数得到离线相似度的方法;一种用类似于贝叶斯的方法来综合不同的相似度结果的方法。另外还提到一些用于工程实施的方法和技巧。所提方法已经在数据挖掘领域得到了成功的应用。     

现代物流科学的发展与粮食储运

本文较全面、系统地阐述了物流科学的起源、发展及国际现代物流科学的特点;并结合国情对我国改革前的商品流通情况进行了分析,指出了“传统物流”的特点,提出原有的物流管理机构和管理体制已不能适应我国目前经济发展的需要,改革势在必行。     

发黑工件质量的控制

一、问题的提出 我公司生产的槽筒机产品,有许多工件需进行发黑处理。按常规的操作方法,需对发黑槽液的化学成分进行化验,确定发黑槽液中各介质的含量是否符合配比要求,以便随时对发黑槽液各介质的含量进行调整。但在发黑处理工件的操作过程中,不     

TaN薄膜的等离子体增强原子层沉积及其抗Cu扩散性能

使用Ta[N(CH₃)₂]₅和NH₃等离子体作为反物用等离子体增强原子层沉积工艺生长了TaN薄膜,借助原子力显微镜、X射线光电子能谱、四探针和X射线反射等手段研究了薄膜的性能与工艺条件之间的关系。结果表明,TaN薄膜主要由Ta、N和少量的C、O组成。当衬底温度由250℃提高到325℃时Ta与N的原子比由46:41升高到55:35,C的原子分数由6%降低到2%。同时,薄膜的密度由10.9 g/cm³提高到11.6 g/cm³,电阻率由0.18 Ω?cm降低到0.044 Ω?cm。与未退火的薄膜相比,在400℃退火30 min后TaN薄膜的密度平均提高了~0.28 g/cm³,电阻率降低到0.12~0.029 Ω?cm。在250℃生长的3 nm超薄TaN阻挡层在500℃退火30 min后仍保持良好的抗Cu扩散性能。     

汽轮机试验欠采样信号的处理方法研究

在汽轮机数字电液控制（DEH）系统试验的信号采集过程中,可能会碰到信号主要成分的频率过高,仪器无法满足奈奎斯特采样定律的情况。针对这一问题,通过希尔伯特变换构造解析信号的方法得到了信号的包络图,并根据包络信号对阀门的关闭时间进行了计算。考虑到基于信号包络线的计算方法计算精度受峰值点的时间间隔影响,为了提高计算精度,对欠采样信号进行了重构,通过快速傅里叶变换（FFT）对信号的主频率进行了分析,根据频域周期性延拓的性质确定了信号的主频率。在此基础上,根据信号初始值计算出了信号的初始相位,结合信号频率与初始相位对欠采样信号进行了重构。根据重构信号与实际信号差值,应用赤池信息（AIC）准则获取极值点的方法对阀门关闭时间进行了计算。比较2种方法的结果可知,通过信号重构的方法计算精度明显优于希尔波特变换求包络法,该研究结果可用于各类单频率成分的欠采样信号的重构,可以弥补DEH试验中硬件无法满足采样定理的不足。