紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷

绝缘子的破损是一种常见缺陷,会影响绝缘子的绝缘性能。特别是线路上运行的绝缘子破损时,可能会导致线路绝缘水平下降,严重时甚至引起电网事故。但传统线路巡检手段难以检测出这一缺陷。笔者采用新兴的紫外成像检测手段,对110kV线路悬式瓷绝缘子串、瓷支柱绝缘子和硅橡胶复合绝缘子含破损缺陷的情况进行人工模拟,观测了不同环境条件下不同破损程度的绝缘子在破损位置不同时的紫外图像。试验结果表明,紫外成像仪作为一种逐渐得到推广的新型线路巡检设备,能有效地检测到部分绝缘子的破损缺陷,从而达到对线路早期故障进行预防的效果。     

针对AES和CLEFIA的改进Cache踪迹驱动攻击

通过分析"Cache失效"踪迹信息和S盒在Cache中不对齐分布特性,提出了一种改进的AES和CLEFIA踪迹驱动攻击方法。现有攻击大都假定S盒在Cache中对齐分布,针对AES和CLEFIA的第1轮踪迹驱动攻击均不能在有限搜索复杂度内获取第1轮扩展密钥。研究表明,在大多数情况下,S盒在Cache中的分布是不对齐的,通过采集加密中的"Cache失效"踪迹信息,200和50个样本分别经AES第1轮和最后1轮分析可将128bit AES主密钥搜索空间降低到216和1,80个样本经CLEFIA第1轮分析可将128bit CLEFIA第1轮扩展密钥搜索空间降低到216,220个样本经前3轮分析可将128bit CLEFIA主密钥搜索空间降低到216,耗时不超过1s。     

组合型腔注塑模浇注系统的平衡设计与优化

针对复杂形状盒体的组合型腔注塑模,利用Moldflow2010软件对其进行了流动平衡分析。以充填时间、注射压力、锁模力等分析结果为依据,判定充填平衡效果。通过调整分流道和浇口尺寸,进行了两次优化,最终确定了最佳的浇注系统设计方案。本文可为类似注塑模浇注系统的平衡设计提供参考。     

基于汉明重的LED代数旁路攻击研究

对CHES 2011会议提出的LED轻型分组密码抗代数旁路攻击能力进行了评估。给出了密码算法代数旁路攻击模型及LED密码代数方程表示方法;利用示波器采集微控制器ATMEGA324P上的LED实现功耗泄露,选取功耗特征较为明显的部分泄露点,基于 Pearson 相关系数方法推断加密中间状态汉明重;分别基于可满足性问题、伪布尔优化问题、线性编程问题给出了LED密码和汉明重泄露的3种代数方程表示方法;使用CryptoMinisat和SCIP 2种解析器对建立的代数方程求解恢复密钥,在已知明文、未知明密文、容错等场景下进行了大量的攻击实验。结果表明,LED易遭受代数旁路攻击,一条功耗曲线的1轮汉明重泄露分析即可恢复64 bit完整密钥。     

500℃下316不锈钢辐照的相变分析

利用x射线衍射方法分析了1.8MeVa粒子和1.5MeV质子辐照316不锈钢样品的相变情况.发现1.8MeVa粒子辐照样品未发生相变,1.5MeV质子辐照样品有O、N、S、C与基体元素(Fe、Cr、Ni、Mo)的化合物相出现.对这些化合物相的形成作了定性分析.     

一种针对Camellia的改进差分故障分析

查找S盒是分组密码设计中的一种重要操作,也是防御传统线性和差分分析的有效手段,但是当考虑到密码实现泄露的物理效应信息时,其却成为了密码系统最脆弱的一部分.文中对使用S盒的分组密码故障攻击进行了研究,给出了一种针对Camellia的改进差分故障分析方法.首先,将针对使用S盒的分组密码差分故障分析归结为求解S盒输入和输出差...     

圆盘胶订机特殊加工工艺简析

<正>圆盘胶订机是常见的印后加工设备,其价廉又兼具多种功能的特点被诸多印刷厂所喜爱。普通产品的加工对于此种设备性能的发挥是毫无悬念可讲的,配上合适的操作人员,机器便可满足大部分需要。但一些另类的特殊加工方式,对印刷厂的工艺设计人员、设备操作人     

彩电视放板故障检修技巧(下)

(2)因升高加速极电压后,显像管发光,其阴极电压自动下降到140V正常值,说明亮度通道没有问题,可能是显像管发射能力差造成的。为此,将显像管G1与地脱开以增加电子发射能力,同时把加速极电压调低到250V(如果不将加速极电压调低,会出现回扫线,且出现周期性保护),故障彻底排除。     

大功率 LED 汽车前照灯散热系统设计

针对大功率发光二极管(Light-emitting diode, LED)对结点温度要求严格控制的特点,提出一种基于导热板+热沉的散热技术来满足LED 前照灯散热封装的需求。通过数值模拟和试验方法研究了芯片的结温随环境温度、导热板长度、散热器倾斜角度、芯片封装深度的变化规律,试验值与数值模拟值基本吻合。结果均表明,环境温度及散热器的倾斜角对芯片结温有较大影响,芯片结温随环境温度基本呈线性变化关系,散热装置水平放置的散热效果最高。     

污秽绝缘子的紫外成像检测

绝缘子积污是电力系统常见的一种现象,严重时可能引起绝缘子串闪络,导致大面积、长时间的停电事故,现已经成为对电网安全最具威胁的因素之一。目前的检测手段存在固有的缺陷和局限性,如红外检测存在检测盲区,不能检测早期故障。笔者研究了如何用紫外成像法检测绝缘子的绝缘状况,采用固体涂层法模拟线路上的绝缘子串积污,通过导电杆对积污绝缘子串加压,用CoroCAM504紫外成像仪观察其紫外成像图。实验结果表明,紫外光子数的最大值与对应时间段的泄漏电流的最大值有着较好的对应关系。在环境湿度较大,如毛毛雨、雾等天气条件下,用紫外成像仪可检测积污程度在a级以上的绝缘子,这为紫外成像仪在工程中的应用提供了一定的依据。现场应用实例也验证了紫外成像检测的有效性。