基于探测器阵列组件的光斑辅助定位系统的设计

设计并实现了一种基于探测器阵列组件的光斑辅助定位系统。该系统以120元Si-PIN探测器作为光电传感器,将其排列为正方形,由120路光电转换电路将每个光电传感器采集到的电流信号转换为电压信号并与预先设置的阈值电平进行比较,以判断该点探测器是否探测到光信号,在CPLD时序控制下将每个探测器的响应情况通过数据采集电路实时传送至上位机。将探测器阵列组件放置在指定位置,通过调节光源位置直至上位机反映的图像为对准后的形式,由此实现光斑辅助定位。经测试表明,该系统能实现240mm×240mm大面积、精度2mm的光斑位置实时探测和辅助定位,且相对传统方式更加简单可行。     

光电耦合器的辐照损伤机理研究现状及趋势

随着光电耦合器件在空间环境和核辐射领域的广泛应用,近年来对光电耦合器件的抗辐照性能的研究越来越多.文章主要介绍了辐照对光电耦合器的损伤机理,重点介绍了光电耦合器的辐照效应,特别是电参数辐照效应;针对光电耦合器目前研究的情况,分析了其研究趋势,并提出了一种新的光电耦合器辐照研究方法--低频噪声可靠性表征方法.     

光电耦合器电流传输比的噪声表征

光电耦合器中可俘获载流子的陷阱密度是影响其电流传输比(CTR)的重要因素,并与器件可靠性有密切关系.在器件内部的多种噪声中,1/f噪声可有效地表征器件陷阱密度.本文在研究光电耦合器工作原理以及1/f噪声理论的基础上,建立了光电耦合器的CTR表征模型和1/f噪声模型.在输入电流宽范围变化的条件下,测量了器件的电学噪声和CTR变化,实验结果验证了以上模型的正确性.将CTR模型与噪声模型相结合,得到了CTR与1/f噪声之间的关系.此关系应用于对光电耦合器辐照实验结果的分析,实验结果与理论得到的结论一致.理论与实验结果表明,噪声幅值越大,电流指数越接近于2,则器件的可靠性越差,相同工作条件下CTR的老化衰减量越大,其失效率显著增大.从而证明噪声可表征光电耦合器的CTR并能准确地反映器件的可靠性.     

评测照相凹版印刷中油墨展开面积的方法

本文中介绍的实验采用八张轮转照相凹版印刷涂布纸,通过赛鲁迪轮转照相凹版卷筒纸印刷机印刷.不同色调值时的墨膜涂覆量通过液体墨和印刷纸样中的铜浓度来计算,使用原子吸收分光光度计分析铜浓度.使用OriginPro7.5软件中的不同模型进行墨膜涂覆量及相对反射密度数据拟合.……     

俄罗斯电力系统及与其它国家电力系统的连结

<正> 俄罗斯电力系统与其它国家的电力系统具有一系列的电气连结,无论是在前苏联境内,还是与外部国家。最主要的有下列一些(根据1992年1月的数据)。 (1)俄罗斯电力系统与其它国家间的连结。 a、俄罗斯—乌克兰。1条电压750kV的线路;总的输电能力为2000MW。 b、俄罗斯—白俄罗斯。1条750kV线路(未投入运行);2条330kV线路。总输电能力800MW。     

超高压、微波和超声波处理对黄芪配制酒品质的影响分析

为改善黄芪配制酒的品质,试验以黄芪、沙棘、蜂蜜为原料配制黄芪酒,比较分析陈酿、超高压、微波和超声波处理酒样的理化指标和香气组分。结果发现,陈酿、超高压、微波和超声波均可改善酒样的香气和理化品质,提高酒样的pH、总酚、总黄酮含量和抗氧化能力,降低总酸含量,增加酒样的果香感。主成分分析表明,超高压处理酒样品质最优,酒样呈沙黄色,b^*值、总黄酮含量、香气总量和酯类含量最高,果香味较浓,青香感强于陈酿酒样,花香、甜香和坚果香与陈酿相似,酒体香气整体优于陈酿。由此可见,超高压技术可以代替陈酿改善黄芪配制酒的香气和理化品质。     

生活用纸浆料纤维分析（Ⅲ）

对F卫生纸厂原生浆系列及G卫生纸厂废纸浆系列卫生纸原纸生产线生产的卫生纸原纸及其浆料进行纤维染色分析,对比了用原生浆及废纸浆抄造的卫生纸原纸的纤维形态;并将原生浆与脱墨浆按不同比例混合,分析了脱墨浆配比对混合浆纤维形态的影响。结果表明,随脱墨浆比例的增加,混合浆荧光白度增幅较大;有效残余油墨含量基本呈上升趋势,但脱墨浆比例不超过40%时,有效残余油墨含量较低,不超过标准值（20 mg/kg）。随脱墨浆比例的增加,黄色机械浆纤维及未分散开的纤维束含量增加。     

新型防伪包装纸及印刷要求

介绍了真空镭射防伪镀铝纸、双色分层纤维包装纸、温致变色防伪包装纸、微胶囊液晶防伪包装纸等新型防伪包装纸,并对上述防伪包装纸的防伪特点、应用领域及印刷要求作了详细的分析。     

非偏振光法测定浆料纤维粗度

主要探讨利用非偏振光原理进行造纸浆料纤维粗度测定的方法。本研究确定的测定浆料纤维粗度的方法中以μg/m为单位,非偏振光法采用的是直接成像技术,能够真实地反映纤维的形态。     

光电耦合器总剂量辐照的噪声表征

 本文在研究光电耦合器工作原理、辐照理论及1/f噪声理论的基础上,分析了光电耦合器辐照噪声产生机理及特性,建立了光电耦合器总剂量辐照损伤噪声模型.研究结果表明,随着辐照总剂量增强, LED及光敏管氧化层中引入的氧化层陷阱密度增多,载流子数涨落增强,从而使电压噪声功率谱密度增加.实验结果验证理论分析的正确性,电压噪声功率谱密度可作为光电耦合器辐照损伤表征参量.