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随着半导体顺件的不断发展,微波技术占据越来越重要的地位,我所引进的矢量网络分析仪及探针台对半导体睛S参数测试,避免了键合引线,管壳和夹具带来的误差,正确反映了芯片的性能,是一种重要测试手段,本文论述了测试原理和测试方法,并对实测数据比对与误差分析。 相似文献
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