基于改进Canny算子的手势图像边缘检测

针对手势检测不准确,手势边缘检测有偏差等问题,文中提出了一种改进的Canny算子用于检测手势图像边缘。改进的Canny算子使用自适应中值滤波与双边滤波相结合的方法去除图像噪声,并在Sobel的基础上扩展45°和135°方向的梯度幅值计算,自适应获取最佳阈值判别图像边缘。最后,使用哈夫变换与像素点的梯度方向相结合检测边缘,连接边缘、增强边缘。实验表明,改进后Canny算子检测的结果8连通数比传统Canny算子检测的结果8连通数多,边缘连续性较好,检测精度更高且自适应性增强。     

原油分配管理的决策支持系统

为保证炼油生产的稳定性和连续性,合理地安排原油分配过程是至关重要的。通过分析原油分配过程,建立了原油分配模型,将原油输送的连续过程离散为若干个事件,并以事件驱动的方式推动过程的执行。最后设计开发了相应的辅助决策系统,为原油分配作业计划的自动化提供了有效工具。     

低压VDMOS氧化层厚度与特征电阻的优化设计

介绍VDMOS阈值电压的定量计算及氧化层厚度对他的影响,及VDMOS的氧化层厚度与特征电阻RONA的关系,讨论了栅氧化层的厚度对特征电阻的影响并进行了简单计算。此外,讨论了最新的VDMOS结构和制造技术,对器件阈值与特征电阻进行了优化。     

智能移动生活服务平台的研究

随着3G商用进程的不断加快,移动互联成为人们新的商务模式,通过移动终端获取信息产品和服务具有现实意义.文章通过对移动互联商务平台方案应用场景的描述,对用户行为模式的智能识别、智能搜索和二维码识别等技术方案进行了分析和研究,提出了针对用户建立个性化需求模型开发方案的设计,使用户以更快捷的方式找到自己需要的信息,同时为企业达到良好的商业推广效果.     

对AOS协议中卫星自适应帧的帧同步码识别

针对AOS协议中卫星自适应帧的帧同步码识别问题,在对传统的自相关算法进行研究的基础上,提出了一种改进的自相关算法进行分析和识别。该方法克服了传统自相关算法极易受到非同步码影响的缺点。首先对数据进行运算识别出帧长和同步码长,然后通过得到的帧长和同步码长计算出同步码起始位。仿真实验表明:该方法能够利用较少的数据快速准确地识别出帧同步码,并具有良好的容错性能。     

基于“虚拟匹配”的PCB矩形Mark视觉快速检测

针对机器视觉中PCB(PrintedCircuitBoard,印刷电路板)矩形Mark的检测,提出一种“虚拟匹配”的快速检测方法。根据模板匹配的思想,引入一个“虚拟模板”,通过将虚拟模板内所有像素灰度值的累加和作为是否匹配的衡量标准来进行矩形Mark的检测。借助于粗细搜索的模板移动策略,使得检测过程速度快、精度高、抗噪能力强、对图像缩放可调、对检测图像旋转和光线亮度变化等不敏感,在实际应用中取得了满意的检测效果。     

4H-SiC MESFET的反应离子刻蚀和牺牲氧化工艺研究

对于栅挖槽的4H-SiCMESFET,栅肖特基接触的界面经过反应离子刻蚀,界面特性对于肖特基特性和器件性能至关重要。反应离子刻蚀的SiC表面平滑度不是很好,刻蚀损伤严重。选择合适的RIE刻蚀条件减小刻蚀对半导体表面的损伤;利用牺牲氧化改善刻蚀后的表面形貌,进一步减小表面的刻蚀损伤。工艺优化后栅的肖特基特性有了明显改善,理想因子接近于1。制成的4H-SiCMESFET直流夹断特性良好,饱和电流密度达到350mAmm。     

一种基于多Agent的Web数据挖掘方法

基于多Agent的数据挖掘技术,不仅能够针对不同的Web数据综合采用不同的挖掘算法,而且可以在各站点进行并行挖掘,避免Web通信量过载。在简述Agent技术和Web数据挖掘技术的基础上,结合多Agent和Web数据挖掘,设计出一种新型数据挖掘模型,且进一步阐述了该模型,并做了一些分析测试。结果证明,该方法能有效提高Web数据挖掘的速度、准确率和覆盖率,提高了数据利用率。     

IR2132驱动器及其在三相逆变器中的应用

提出了IR2132驱动器在三相逆变器中的应用。采用数字信号处理器对电源系统进行全数字控制,通过改变PWM波形的脉冲宽度和调制周期可以达到调压和变频的目的。采用功率MOSFET和IGBT专用驱动芯片IR2132驱动三相桥式逆变电路。介绍了IR2132驱动电路的特点、内部结构、工作原理和基于IR2132构成的三相逆变电路结构,并提出了一种新型实用的预制相位PWM数字控制方案,取代了传统的模拟驱动电路和模块化桥臂电路设计,降低了开发成本,并融合了多元化的保护功能使逆变电源系统的驱动电路变得简单可靠。     

集成电路测试数据的处理

简述了集成电路测试数据的一些处理方法,包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等;介绍了在进行集成电路性能参数测试时需要考虑的几个关键因素;对测量误差和减小测量误差的方法进行分析,使测试人员可对原始数据进行比较合理的处理;使测试值与被测集成电路的性能真值更加接近,避免对电路合格与否做出误判,从而使检验工作更加准确无误。