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71.
为更加精确地得到电磁发射系统内弹道中电枢在任意时刻的速度,提出一种磁探针阵列位置分布及安装姿态的计算方法。采用道格拉斯-普克算法确定磁探针阵列的位置分布,建立磁探针感应电压与磁探针安装位置、轨道电流、电枢速度及位移等物理量的数学模型,分析磁探针阵列安装方式、安装高度和安装深度对磁探针测量精度的影响。计算结果表明:磁探针阵列测量电枢出口速度的理论相对误差在2‰以内;内弹道电枢速度曲线的出口速度理论相对误差在5‰以内。对磁探针阵列安装位置及安装姿态进行试验验证,优化后的磁探针阵列具有更高的测量精度,电枢出口速度为700~800 m/s时,磁探针测量平均相对误差为2.25%. 相似文献
72.
用闭合场非平衡磁控溅射技术制备了高硬度含Cr碳膜。分别用压入法和划痕法测定了薄膜的结合强度。薄膜厚度用球坑法表征。用显微硬度计测定了薄膜的努氏硬度。在不同载荷条件下,用Ball-on-disc球盘磨损试验机研究了薄膜的摩擦系数、比磨损率的变化规律。分析讨论了载荷对含Cr碳膜摩擦磨损性能的影响。结果发现:随着载荷的提高,对磨钢球时薄膜的摩擦系数呈下降趋势.对磨损轨迹和对磨球磨损表面的扫描电镜(SEM)观察发现存在转移膜现象。对磨球磨损表面的EDX分析结果进一步证明了转移膜的存在。文中还对含Cr碳膜磨损机理进行了分析和讨论。用闭合场非平衡磁控溅射技术制备了高硬度含Cr碳膜。分别用压入法和划痕法测定了薄膜的结合强度。薄膜厚度用球坑法表征。用显微硬度计测定了薄膜的努氏硬度。在不同载荷条件下,用Ball-on-disc球盘磨损试验机研究了薄膜的摩擦系数、比磨损率的变化规律。分析讨论了载荷对含Cr碳膜摩擦磨损性能的影响。结果发现:随着载荷的提高,对磨钢球时薄膜的摩擦系数呈下降趋势.对磨损轨迹和对磨球磨损表面的扫描电镜(SEM)观察发现存在转移膜现象。对磨球磨损表面的EDX分析结果进一步证明了转移膜的存在。文中还对含Cr碳膜磨损机理进行了分析和讨论。 相似文献
73.
宝金 《信息技术与信息化》2015,(1):118-119
随着我国经济的发展,同时也伴随着绿色能源的产生,电力电子技术在我国蒸蒸日上,不断拓展。基于DSP的整流器技术已经成为电力电子技术研究的热点话题。整流器技术凭借其自身强大的特点,可以实现电网无污染以及电能的双向传输,它成为现代人最理想的用电设备。当今,经过技术变换处理后再供用户使用的电能在全国供电总量的比值,直线上升,并且这也代表了我国技术水平的突飞猛进。本论文主要介绍了DSP、整流器的工作原理,以及PWM整流器的发展现状、技术研究方向和控制领域设计,最后表明整流器的应用领域。 相似文献
74.
利用谱反演法来模拟畸变相位屏,通过设定激光发射系统的特征参量,计算得出发射光的远场光斑与接收光的远场光斑的峰值Strehl比,并根据Pearson相关性的定义,计算得出峰值Strehl比、相关系数大小随传输效应的特征参量(湍流效应特征参量D/r0、热晕热畸变参量Nd)变化趋势.分析发射光与接收光的Strehl比的相对偏差,验证相关系数的合理性。通过分析其相对偏差和相关系数来研究发射光与接收光远场光斑Strehl比的差异性. 相似文献
75.
为实现对检修中道路和通行车辆的同步管理,本文设计了城市道路检修和通行车辆监测系统.系统由供电模块、飞思卡尔处理器模块、GPRS无线通信模块、车重监测模块、扬尘监测模块和上位机管理端组成.监测点会采集维修路段的车流量、施工现场图像以及通行车辆的车速、整车重量、扬尘浓度等信息,通过GPRS无线通信模块反馈至上位机系统,以协助管理员规范车辆行驶,避免道路受损,从而延长道路使用寿命,提升交通建设水平. 相似文献
76.
77.
无线网络存在诸多信息安全问题,解决的关键机制之一是实现通信双方的高强度认证。文中设计了基于射频指纹的双向认证协议方案,新协议基于传统的挑战-应答机制,给出存在中间人攻击的经典的Needham-Schroeder认证协议的改进实例。分析显示,改进的Needham-Schroeder认证协议能抵抗有关通信双方克隆的绝大部分攻击,有助于解决密钥泄露检测公开问题,具有更高的安全级别。新协议因此具有应用价值。 相似文献
78.
介绍了如何通过HP E1529远端应变信号调节单元、HPE 1422A A/D转换模块和Labview软件平台开发一个适于风速实验的测试系统。 相似文献
79.
80.
军用印制板组装件清洗技术研究 总被引:2,自引:0,他引:2
论述了通过采取手工清洗和机器半水清洗的方式,对军用印制板组装件进行清洗,以使其能满足清洗后清洁度的要求和使用性能。结果表明:使用VIGON EFM清洗剂浸泡后手工刷洗的方式,以及使用清洗机配合PM102清洗剂的半水清洗方式,可以有效去除印制板上的助焊剂残留物,清洗后的离子污染度分别达到0.86μg(Nacl)/cm2和0.58μg(Nacl)/cm2,符合GJB 5807对三级电子产品离子污染度≤1.56μg(Nacl)/cm2的清洁度判定要求。 相似文献