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管道风险管理方法研究 总被引:6,自引:0,他引:6
按照管道风险管理的流程分别对管道风险评价、风险控制和决策支持、效能测试和响应进行了论述。针对目前国内管道行业的情况,提出了进行管道风险评价的有效方法及维护措施。着重介绍了国外管道风险可接受标准的情况,作为国内制定管道风险评价标准的参考。 相似文献
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从政策、城市与区域规划、环境、文化及其传承因素、基础设施等方面探析了高校新校区选址有关的主要影响因素,以满足高等学校大规模的扩建要求,促进高等教育的发展。 相似文献
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In this letter, we introduce and investigate a new problem referred to as the All Hops Shortest Paths (AHSP) problem. The AHSP problem involves selecting, for all hop counts, the shortest paths from a given source to any other node in a network. We derive a tight lower bound on the worst-case computational complexities of the optimal comparison-based solutions to AHSP. 相似文献
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Chong D. Y. R. Lim B. K. Rebibis K. J. Pan S. J. Sivalingam K. Kapoor R. Sun A. Y. S. Tan H. B. 《Advanced Packaging, IEEE Transactions on》2006,29(4):674-682
The recent advancement in high- performance semiconductor packages has been driven by the need for higher pin count and superior heat dissipation. A one-piece cavity lid flip chip ball grid array (BGA) package with high pin count and targeted reliability has emerged as a popular choice. The flip chip technology can accommodate an I/O count of more than five hundreds500, and the die junction temperature can be reduced to a minimum level by a metal heat spreader attachment. None the less, greater expectations on these high-performance packages arose such as better substrate real estate utilization for multiple chips, ease in handling for thinner core substrates, and improved board- level solder joint reliability. A new design of the flip chip BGA package has been looked into for meeting such requirements. By encapsulating the flip chip with molding compound leaving the die top exposed, a planar top surface can be formed. A, and a flat lid can then be mounted on the planar mold/die top surface. In this manner the direct interaction of the metal lid with the substrate can be removed. The new package is thus less rigid under thermal loading and solder joint reliability enhancement is expected. This paper discusses the process development of the new package and its advantages for improved solder joint fatigue life, and being a multichip package and thin core substrate options. Finite-element simulations have been employed for the study of its structural integrity, thermal, and electrical performances. Detailed package and board-level reliability test results will also be reported 相似文献
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包装件压力试验机计算机测控系统 总被引:4,自引:2,他引:2
针对YE-50包装件压力试验机落后的测控系统,提出一种基于压力和位移闭环控制的计算机测控系统。根据测得的压力、位移和设定值,通过模糊控制输出驱动伺服阀实现了压力试验时的恒速控制和堆码试验时的恒力控制。并实时显示力——位移及应力——应变曲线。文中还对模糊控制器的实验整定方法进行了探讨。 相似文献