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工业管道测厚的几点问题探讨 总被引:2,自引:0,他引:2
超声波测厚在腐蚀监测上应用越来越广泛,为让这项检测技术更准确、更可靠,充分发挥功效,文章就工业管道测厚中测厚数据处理、测厚点选择、高温问题以及其它影响因素等几个方面进行了探讨。 相似文献
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对在实际组网中选择合理的ASON架构和保护方式作了相应分析,并为搭建可向ASON平滑演进的传统网络时需注意的问题提供了参考意见, 相似文献
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Hao Wang Ying Lin Biao Chen 《Signal Processing, IEEE Transactions on》2003,51(10):2613-2623
We investigate non data-aided channel estimation for cyclically prefixed orthogonal frequency division multiplexing (OFDM) systems. By exploiting channel diversity using only two receive antennas, a blind deterministic algorithm is proposed. Identifiability conditions are derived that guarantee the perfect channel retrieval in the absence of noise. In the presence of noise, the proposed method has the desired property of being data efficient-only a single OFDM block is needed to achieve good estimation performance for a wide range of SNR values. The algorithm is also robust to input symbols as it does not have any restriction on the input symbols with regard to their constellation or their statistical properties. In addition, this diversity-based algorithm is computationally efficient, and its performance compares favorably to most existing blind algorithms. 相似文献
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岩石物理横波速度曲线计算技术 总被引:15,自引:3,他引:12
横波速度是地震勘探中的重要参数。针对实际生产中缺乏横波速度测井曲线资料,利用经验公式计算精确度不高的问题,通过对横波速度计算理论模型的研究分析,选择Blot-Gassman模型法,利用岩石矿物成分、流体成分、孔隙度及密度等测井曲线进行横波速度测井曲线的计算,并对横波速度计算技术和流程进行研究。在实际工区进行了横波速度曲线计算,计算结果与实测横波吻合程度较高,误差小于10%,该技术在储层和流体识别预测的应用中取得了较好效果。 相似文献
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Yang C.W. Fang Y.K. Lin C.S. Tsair Y.S. Chen S.M. Wang W.D. Wang M.F. Cheng J.Y. Chen C.H. Yao L.G. Chen S.C. Liang M.S. 《Electronics letters》2003,39(21):1499-1501
A novel technique to form high-K dielectric of HfSiON by doping base oxide with Hf and nitridation with NH/sub 3/, sequentially, is proposed. The HfSiON gate dielectric demonstrates excellent device performances such as only 10% degradation of saturation drain current and almost 45 times of magnitude reduction in gate leakage compared with conventional SiO/sub 2/ gate at the approximately same equivalent oxide thickness. Additionally, negligible flatband voltage shift is achieved with this technique. Time-dependent dielectric breakdown tests indicate that the lifetime of HfSiON is longer than 10 years at V/sub dd/=2 V. 相似文献
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Y.K. Su H.C. Wang C.L. Lin W.B. Chen S.M. Chen 《Photonics Technology Letters, IEEE》2003,15(10):1345-1347
The brightness of AlGaInP light emitting diodes (LEDs) has been raised by a factor of 1.12 at 20 mA by sulfide passivation. Meanwhile, the sulfide also can decrease leakage current of AlGaInP LEDs at -2 V to nearly one thousandth of that in the as-fabricated device. The possible causes for the brightness increase of AlGaInP LEDs after sulfide treatment including surface roughness, reduction of Fresnel loss, and effective injection of carriers were demonstrated. 相似文献