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钢管内径光电检测装置 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了一种检测细长钢管内径的光电检测装置。该装置利用线阵CCD作传感器,采用8031单片机作为主控制。 相似文献
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Sha Lu Yong Hu O'Hara M. Bogy D.B. Singh Bhatia C. Yiao-Tee Hsia 《IEEE transactions on magnetics》1996,32(1):103-109
Three sub-25 nm fly height sliders are presented for near contact recording. The designs are geared towards the goal of achieving 10 Gb/in 2 areal density. The optimization procedure presented shows promise for facilitating achievement of this goal. The dynamic simulations show the stability of these designs when disturbed from their steady state conditions 相似文献
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Five-terminal silicon-on-insulator (SOI) MOSFETs have been characterized to determine the threshold voltage at the front, back, and sidewall as a function of the body bias. The threshold voltage shift with the body bias at the front and back interfaces can be explained by the standard bulk body effect equation. However, the threshold voltage shift at the sidewall is smaller than predicted by this equation and saturates at large body biases. This anomalous behavior is explained by two-dimensional charge sharing between the sidewall and the front and back interfaces. An analytical model that accounts for this charge sharing by a simple trapezoidal approximation of the depletion regions and correctly predicts the sidewall threshold voltage shift and its saturation is discussed. The model makes it possible to measure the sidewall threshold even when it is larger than the front threshold voltage 相似文献
74.
郝永明古建园林绘画作品另辟蹊径,难能可贵。郝永明的画,不仅给我国美术宝库增加了一份积累,也给古建园林艺术增添了珍贵的资料。 相似文献
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McIntyre H. Wendell D. Lin K.J. Kaushik P. Seshadri S. Wang A. Sundararaman V. Ping Wang Song Kim Hsu W.-J. Hee-Choul Park Levinsky G. Jiejun Lu Chirania M. Heald R. Lazar P. Dharmasena S. 《Solid-State Circuits, IEEE Journal of》2005,40(1):52-59
A 4-MB L2 data cache was implemented for a 64-bit 1.6-GHz SPARC(r) RISC microprocessor. Static sense amplifiers were used in the SRAM arrays and for global data repeaters, resulting in robust and flexible timing operation. Elimination of the global clock grid over the SRAM array saves power, enabled by combining the clock information with array select signals. Redundancy was implemented flexibly, with shift circuits outside the main data array for area efficiency. The chip integrates 315 million transistors and uses an 8-metal-layer 90-nm CMOS process. 相似文献
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77.
文章通过对上海“新浦江城”首期项目的介绍,分析了意大利设计在该项目应用中的独特之处,同时指出了存在的一些问题。指出国外设计应结合中国国情,符合社会发展的需要。 相似文献
78.
79.
Jing Wang Walker D.M. Xiang Lu Majhi A. Kruseman B. Gronthoud G. Villagra L.E. van de Wiel P.J.A. Eichenberger S. 《Design & Test of Computers, IEEE》2007,24(3):226-234
Excessive power supply noise during test can cause overkill. This article discusses two models for supply noise in delay testing and their application to test compaction. The proposed noise models avoid complicated power network analysis, making them much faster than existing power noise analysis tools. can cause performance degradation and 相似文献
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