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91.
存储虚拟化能够全面提升存储区域网络的服务质量,而带外虚拟化与带内虚拟化相比具有性能高和扩展性好等优点.提出了运用按序操作、REDO日志以及日志完整性鉴别,共同保证带外虚拟化跨越系统崩溃或断电事故后仍旧可用;设计了一种基于关系模型的磁盘上虚拟化元数据组织方式,它具有可读性好和容易修改的优点;给出了通过分析磁盘分区表兼容典型遗留存储系统的有效方法,它具有庞大遗留系统零切割时间的特点.基于上述关键技术实现的原型系统,在典型实验中表现了很好的性能. 相似文献
92.
阐述了如何利用Java消息服务和心跳技术实现对分散模块状态的监控,以及保证模块间通信无阻。通过收发消息的形式,集中监控关键模块,并准确定位故障所在,尽可能保证系统长时间的无故障运作。 相似文献
93.
94.
星环形计算机局域网的性能研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本文结合星形(Star)和环形(Ring)拓扑结构,提出了一种全新的LAN(Local Area Network)结构——星环形LAN.它以较低廉的代价在网络的几个主要性能指标上获得较大的提高.本文论述了星环形LAN(StarRing LAN)的设计思想和各性能指标的研究结果. 相似文献
95.
96.
针对红外导引头多元信息探测和实时数据处理要求,设计了基于FPGA和DSP的多通道高速实时数据采集和处理平台;在该平台中,通过FPGA实现了DSP的引导、多通道高速A/D、D/A、大容量存储器(SDRAM和FLASH)和数字I/O等功能模块的无缝链接及逻辑控制;利用时序分配和EDMA(扩展的直接存储器访问)技术以及McBSP(多通道缓冲串口)和HPI(主机口),实现了FPGA和DSP之间实时传输与通信控制;实际应用表明在该平台中A/D与FPGA之间串行传输速率可达20MHz,FPGA与DSP之间串行传输速率可达70MHz,且平台运行稳定、可靠,满足了红外导引头的实时信号处理要求。 相似文献
97.
本文以激光相位多普勒(PDA)技术为基础,利用PDA信号探测器及高速信号的处理系统,实现了注射液中不溶性微粒的尺寸分布检测,对PDA技术的实用化研究进行了有益的探索。 相似文献
98.
分析了核电产品技术文件管理体系框架的构成,阐述了建立完整规范的核电产品技术文件体系之重要性。核电产品的制造,需严格按照文件管理体系的要求进行,并及时对体系的适用性进行评审验证和完善。通过建立管理文件模板,可实现技术文件的规范化管理。 相似文献
99.
Ching-Wen Hsue Te-Wen Pan 《Microwave Theory and Techniques》1997,45(1):32-38
A novel technique is developed to reconstruct the physical structures of a nonuniform transmission line from its time-domain or frequency-domain reflection (scattering) coefficient. This technique takes the past history of reflection processes of nonuniform line into considerations, and its accuracy exceeds that of a conventional time-domain reflectometry (TDR) technique. Experimental results are presented to illustrate the validity of this reconstruction technique 相似文献
100.
The performance of InGaP-based pHEMTs as a function of gate metallization is examined for Mo/Au, Ti/Au, and Pt/Au gates. DC and microwave performance of pHEMT's with 0.7-μm gate lengths is evaluated. Transconductance, threshold voltage, ft, and fmax are found to depend strongly on gate metallization. High-speed performance is achieved, with ft of 41.3 GHz and f max of 101 GHz using Mo/Au gates. The difference in performance between devices with different gate metallizations is postulated to be due to a combination of the difference in Schottky barrier heights and different gate-to-channel spacings due to penetration of the gate metal into the InGaP barrier layer 相似文献