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Simple,Inexpensive, and Rapid Approach to Fabricate Cross‐Shaped Memristors Using an Inorganic‐Nanowire‐Digital‐Alignment Technique and a One‐Step Reduction Process 
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下载免费PDF全文 992.
Angular Dependence of Exchange Bias and Magnetization Reversal Controlled by Electric‐Field‐Induced Competing Anisotropies 下载免费PDF全文
下载免费PDF全文 993.
Evaporation‐ and Solution‐Process‐Feasible Highly Efficient Thianthrene‐9,9′,10,10′‐Tetraoxide‐Based Thermally Activated Delayed Fluorescence Emitters with Reduced Efficiency Roll‐Off 下载免费PDF全文
下载免费PDF全文 994.
995.
Microfluidic Manipulation of Core/Shell Nanoparticles for Oral Delivery of Chemotherapeutics: A New Treatment Approach for Colorectal Cancer 下载免费PDF全文
下载免费PDF全文 Mohammad Mahdi Hasani‐Sadrabadi Shahrouz Taranejoo Erfan Dashtimoghadam Ghasem Bahlakeh Fatemeh Sadat Majedi Jules John VanDersarl Mohsen Janmaleki Fatemeh Sharifi Arnaud Bertsch Kerry Hourigan Lobat Tayebi Philippe Renaud Karl I. Jacob 《Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)》2016,28(21):4134-4141
996.
Control of the Metal–Insulator Transition at Complex Oxide Heterointerfaces through Visible Light 下载免费PDF全文
下载免费PDF全文 997.
998.
999.
Fu‐Kwun Wang Yeneneh Tamirat 《Quality and Reliability Engineering International》2016,32(4):1281-1293
The new investigation of profile monitoring is focused mainly on a process with multiple quality characteristics. Process yield has been used widely in the manufacturing industry, as an index for measuring process capability. In this study, we present two indices and to measure the process capability for multivariate linear profiles with one‐sided specification limits under mutually independent normality. Additionally, two indices and are proposed to measure the process capability for multivariate linear profiles with one‐sided specification limits under multivariate normality. These indices can provide an exact measure of the process yield. The approximate normal distributions for and are constructed. A simulation study is conducted to assess the performance of the proposed approach. The simulation results show that the estimated value of performs better as the number of profiles increases. Two illustrative examples are used to demonstrate the applicability of the proposed approach. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
1000.
Enhancing Interfacial Bonding between Anisotropically Oriented Grains Using a Glue‐Nanofiller for Advanced Li‐Ion Battery Cathode 下载免费PDF全文
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