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Houle T.J. Yong J.C.L. Marinelli C.M. Yu S. Rorison J.M. White I.H. White J.K. SpringThorpe A.J. Garrett B. 《Quantum Electronics, IEEE Journal of》2005,41(2):132-139
The potential of 1.3-/spl mu/m AlGaInAs multiple quantum-well (MQW) laser diodes for uncooled operation in high-speed optical communication systems is experimentally evaluated by characterizing the temperature dependence of key parameters such as the threshold current, transparency current density, optical gain and carrier lifetime. Detailed measurements performed in the 20/spl deg/C-100/spl deg/C temperature range indicate a localized T/sub 0/ value of 68 K at 98/spl deg/C for a device with a 2.8 /spl mu/m ridge width and 700-/spl mu/m cavity length. The transparency current density is measured for temperatures from 20/spl deg/C to 60/spl deg/C and found to increase at a rate of 7.7 A/spl middot/cm/sup -2//spl middot/ /spl deg/C/sup -1/. Optical gain characterizations show that the peak modal gain at threshold is independent of temperature, whereas the differential gain decreases linearly with temperature at a rate of 3/spl times/10/sup -4/ A/sup -1//spl middot//spl deg/C/sup -1/. The differential carrier lifetime is determined from electrical impedance measurements and found to decrease with temperature. From the measured carrier lifetime we derive the monomolecular ( A), radiative (B), and nonradiative Auger (C) recombination coefficients and determine their temperature dependence in the 20/spl deg/C-80/spl deg/C range. Our study shows that A is temperature independent, B decreases with temperature, and C exhibits a less pronounced increase with temperature. The experimental observations are discussed and compared with theoretical predictions and measurements performed on other material systems. 相似文献
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Chadwin D. Young Gennadi Bersuker Yuegang Zhao Jeff J. Peterson Joel Barnett George A. Brown Jang H. Sim Rino Choi Byoung Hun Lee Peter Zeitzoff 《Microelectronics Reliability》2005,45(5-6):806
Effects of constant voltage stress (CVS) on gate stacks consisting of an ALD HfO2 dielectric with various interfacial layers were studied with time dependent sensing measurements: DC I–V, pulse I–V, and charge pumping (CP) at different frequencies. The process of injected electron trapping/de-trapping on pre-existing defects in the bulk of the high-κ film was found to constitute the major contribution to the time dependence of the threshold voltage (Vt) shift during stress. The trap generation observed with the low frequency CP measurements is suggested to occur within the interfacial oxide layer or the interfacial layer/high-κ interface, with only a minor effect on Vt. 相似文献
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缓冲区溢出漏洞是一类常见的软件漏洞,其对计算机系统造成的危害非常大。本文针对这类漏洞提出一种基于二进制文件动态插桩并根据程序运行状态来判定缓冲区溢出的检测方法,并实现了基于该方法的检测系统。通过分析缓冲区溢出的原理以及常见攻击方法的特点,提出了基于覆盖返回地址、虚函数表、异常处理链表以及溢出后执行特定API的缓冲区溢出检测方法。实验表明该系统能有效检测到缓冲区溢出并定位溢出点从而辅助对漏洞原理进行分析。 相似文献
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通过改进的三能级多模态速率方程,运用电路建模 方法,建立了太赫兹(THz)量子级联激光器(QCL)的一种等效电路模型。由于基于多模 态效应进行建模,所建模型能够有效表 征多模态效应对THz QCL光电性能的影响。模型中,涉及的非辐射散射时间、自激发射弛豫 时间以及电子逃 逸时间均根据器件有源层结构参数通过自洽数值求解获得。采用所建模型,可运用通用电路 仿真工具实现对 THz QCL光电特性的模拟分析,克服了数值分析方法计算复杂、模拟时间长的缺点。运用电 路仿 真工具PSPICE对2.47THz QCL的稳态特性和输出光谱特性进行了模拟 分析,并讨论了温度变化对器 件阈值电流、输出光功率以及输出频谱的影响,分析结果与已报道的理论和实验结果一致 ,验证了本文方法的适用性和准确性。 相似文献
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针对相位编码量子密钥分发(QKD)系统中存在的相位漂移和截获-重发攻击,分析了双马赫-曾德尔干涉仪QKD系统,给出了探测器的输入信号模型,计算了系统量子误码率及窃听信息量,并为提高密钥生成率提供了一种可能的方法。研究表明,相位漂移会使系统误码率增加,稳定性降低;相比理想的截获-重发攻击,窃听信息量有所下降,因此密性放大过程对窃听信息的估计值可以相对减小,最终密钥生成率得以提高。在不考虑传输光纤中的相位相对漂移时,误码率随相位漂移角度呈余弦变化,全部截获-重发攻击时的变化周期是无窃听时的一半,变化频率更加剧烈。55%部分窃听时,若合法通信者选择误码阈值为15%,窃听者可获得25.5%的信息量且不被发现。 相似文献
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