首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   152050篇
  免费   7594篇
  国内免费   3564篇
电工技术   4189篇
技术理论   1篇
综合类   6196篇
化学工业   23575篇
金属工艺   8224篇
机械仪表   7285篇
建筑科学   6006篇
矿业工程   1846篇
能源动力   3098篇
轻工业   10680篇
水利工程   2473篇
石油天然气   2334篇
武器工业   464篇
无线电   18362篇
一般工业技术   26134篇
冶金工业   5886篇
原子能技术   1139篇
自动化技术   35316篇
  2024年   233篇
  2023年   1000篇
  2022年   1927篇
  2021年   2691篇
  2020年   1989篇
  2019年   1802篇
  2018年   16266篇
  2017年   15313篇
  2016年   11987篇
  2015年   3304篇
  2014年   3825篇
  2013年   4865篇
  2012年   8225篇
  2011年   15058篇
  2010年   13109篇
  2009年   10443篇
  2008年   11381篇
  2007年   11901篇
  2006年   4030篇
  2005年   4439篇
  2004年   3582篇
  2003年   3160篇
  2002年   2460篇
  2001年   1728篇
  2000年   1475篇
  1999年   1133篇
  1998年   1151篇
  1997年   768篇
  1996年   712篇
  1995年   476篇
  1994年   359篇
  1993年   312篇
  1992年   236篇
  1991年   216篇
  1990年   144篇
  1989年   144篇
  1988年   128篇
  1987年   101篇
  1986年   81篇
  1985年   59篇
  1984年   47篇
  1983年   39篇
  1982年   46篇
  1976年   46篇
  1968年   45篇
  1966年   44篇
  1965年   44篇
  1958年   37篇
  1955年   63篇
  1954年   68篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 31 毫秒
101.
We analyze travel times for automated storage/retrieval systems. In particular, we apply our travel time model to turnover-based storage systems and determine the mean and variance of dual command travel times. We present detailed numerical results for selected rack shape factors and ABC inventory profiles. We then investigate the effect of alternative rack configurations on travel time performance measures. We also show how to determine the throughput of miniload systems with turnover-based storage and exponentially distributed pick times.  相似文献   
102.
在分析了双极型晶体管和场效应晶体管各自的特点和不足后,介绍了一种既具有双极型晶体管较大电流容量和功率输出,又具有场效应晶体管高输入阻抗的电子器件——双极MOS场效应晶体管(BJMOSFET),同时指出体硅BJMOSFET的阳极扩散区与衬底之间存在较大的漏电流,可产生较大的寄生效应。提出了一种新型固体电子器件——基于SOI的BJMOSFET,分析了其工作原理j与体硅BJMOSFET比较,由于SOI技术完整的介质隔离避免了体硅器件中存在的大部分寄生效应,使基于SOI的BJMOSFET在体效应、热载流子效应、寄生电容、短沟道效应和闩锁效应等方面具有更优良的特性。  相似文献   
103.
This letter presents our investigation for the effect of symbol timing errors in orthogonal frequency-division multiple access (OFDMA) uplink systems. We express the symbol timing errors between users as the symbol timing misalignments with respect to the desired user. Then, we derive an explicit expression of the signal-to-noise ratio (SNR) as a function of the maximum value of the symbol timing misalignments. Analyses and simulation results show that, to achieve an SNR of 20 dB, the maximum value of the symbol timing misalignments must be less than the cyclic prefix duration plus 6.25% of the useful symbol duration. Based on the resulting SNR degradation, we evaluate the SNR gain with guard subcarriers in order to mitigate the effect of the symbol timing misalignments.  相似文献   
104.
A flat signal gain over in the entire C- and L-bands by erbium (Er) ions' radiative transition and stimulated Raman scattering in an Er-doped germano-silica fiber can be obtained if proper values of the concentration of Er and background loss in a fiber core are obtained during the fiber fabrication process. The optimized conditions for the flat C- and L-band gain are analyzed as functions of Er concentrations. Even for a low-gain value provided by a germano-silica core fiber with a low Er concentration and an optimum fiber length, a relatively low pump is required to obtain the flat gain band.  相似文献   
105.
聚甲亚胺改性尼龙6复合材料的等温结晶动力学   总被引:6,自引:0,他引:6  
采用差示扫描量热法(DSC)对聚甲亚胺(PAM)/尼龙6复合材料等温结晶过程进行了研究。结果表明,PAM的加入使得基体的结晶速率增大,尤其是当含量为5%时,半结晶期明显减少。研究还发现,该体系的等温结晶过程完全可以用Avrami方程来描述,各试样的Avrami指数均在2-3之间,表明Avrami指数,球晶生长方式基本不受聚甲亚胺加入的影响。基体中原位形成的聚甲胺微纤起到了诱导结晶的作用,使得基体的结晶速率加快,但随着微纤含量的增加,由于分散性能变差而使得诱导结晶的能力减弱,表现为结晶速率又有所降低。  相似文献   
106.
第1部分中已介绍了可拓知识空间定义和相关操作,以及可拓知识空间关联函数计算方法。这一部分进一步建立可拓知识空间语义网、可拓知识网格和可拓知识网格服务,并给出实例和相关的分析讨论。  相似文献   
107.
医学超声图像处理系统   总被引:1,自引:1,他引:0  
超声图像诊断是与X线CT、同位素扫描、核磁共振等一样重要的医学图像诊断手段。根据肝脏超声图像进行脂肪肝的诊断,是病变确诊的主要方法。但是,与CT和核磁共振等医学图像相比,超声图像的图像质量较差,目前的诊断以定性为主,受主观因素影响较大。以图像分割为基础,以VC语言为工具,建立了超声图像处理系统,对超声图像进行了二值化处理,并对处理结果进行了量化,为诊断提供了依据。  相似文献   
108.
The effect of a thin RuOx layer formed on the Ru/TiN/doped poly-Si/Si stack structure was compared with that on the RuOx/TiN/doped poly-Si/Si stack structure over the post-deposition annealing temperature ranges of 450–600°C. The Ru/TiN/poly-Si/Si contact system exhibited linear behavior at forward bias with a small increase in the total resistance up to 600°C. The RuOx/TiN/poly-Si/Si contact system exhibited nonlinear characteristics under forward bias at 450°C, which is attributed to no formation of a thin RuOx layer at the RuOx surface and porous-amorphous microstructure. In the former case, the addition of oxygen at the surface layer of the Ru film by pre-annealing leads to the formation of a thin RuOx layer and chemically strong Ru-O bonds. This results from the retardation of oxygen diffusion caused by the discontinuity of diffusion paths. In particular, the RuOx layer in a nonstoichiometric state is changed to the RuO2-crystalline phase in a stoichiometric state after post-deposition annealing; this phase can act as an oxygen-capture layer. Therefore, it appears that the electrical properties of the Ru/TiN/poly-Si/Si contact system are better than those of the RuOx/TiN/poly-Si/Si contact system.  相似文献   
109.
微分代数是计算机数值分析领域中的一个非常有效的方法,可以实现任意高阶微分的准确计算.本文根据微分代数方法的基本原理,将其引入到磁浸没透镜的宽束曲轴像差的分析计算中,得到了任意阶曲轴像差的微分代数表达式.文中针对轴上磁场具有某种解析表达式的一个实际的磁浸没透镜系统,利用微分代数的曲轴像差分析方法,计算了它的曲轴像差,并给出了全部二阶和三阶几何像差的分布图形.  相似文献   
110.
The leakage mechanism in p+/n shallow junctions fabricated using Co silicidation and shallow trench isolation processes has been investigated using transmission electron microscopy (TEM) combined with selective chemical etching. TEM and TSUPREM-4 simulation results show that dopant profiles bend upward near the edge of the active region. The formation of the abnormal profile is attributed to transient enhanced diffusion induced by source/drain implantation. Based on the TEM and simulation results, it is suggested that the shallower junctions formed near the active edge can serve as a source for leakage current in the silicided p+ /n shallow junctions  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号