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101.
目前求解布局问题只能求得近似解,三维布局则更加复杂。本文提出一种基于启发式经验、采用遗传算法求解布局问题的新方法,此方法对任意维布局问题在求解策略上是一致的。实验表明,结合领域知识和遗传算法对解决布局问题具有广泛的前景。 相似文献
102.
基于极化不变量的飞机目标识别 总被引:3,自引:2,他引:3
基于宽带毫米波极化雷达体制背影,通过极化不变量之一的去极化系数,研究了飞机目标的极化散射特性,并提取了极化特征,设计了飞机目标的分类或识别器结构,它能对五种飞机目标进行有效的分类或识别。 相似文献
103.
104.
用1/f噪声表征MOSFET的负温偏不稳定性 总被引:1,自引:1,他引:1
负温偏不稳定性是MOS顺件最重要的可靠问题之一。本文实验上发现MOSFET的A/f噪声与其负温偏不稳定性相关,初始1/f噪声谱密度正比于负温偏应力下的跨导退化量。 相似文献
105.
106.
107.
This paper proposes a noncoherent hybrid parallel pseudonoise (PN) code acquisition scheme for code-division multiple access (CDMA) mobile communication systems and analyzes the effect of multiple access interference (MAI) on the code acquisition performance for Rayleigh and Rician fading channels. The hybrid acquisition scheme combines parallel search with serial search to cover the whole uncertainty region of the input code phase. It has a much simpler acquisition hardware structure than the total parallel acquisition and can achieve the mean acquisition time slightly inferior to that of the total parallel acquisition in the case of severe MAI; on the other hand, it provides the flexibility in the tradeoff between the mean acquisition time and system complexity if no MAI is considered. The closed-form expressions of the detection and false-alarm probabilities and mean acquisition time are derived. Numerical analysis quantifies the severe performance degradation of code acquisition due to both MAI and channel fading, and demonstrates the dependence of the increase of mean acquisition time (due to MAI) on the number of users in the CDMA system, system design parameters, and channel fading statistics 相似文献
108.
用开管水平液相外延系统从富Te溶剂中生长了不同x值的MCT薄膜。经X射线衍射、Hall电学参数、红外光谱、扫描电镜、X射线能谱仪和电子通道花样分析测试,结果表明:外延薄膜表面平整,光学参数较好,纵向、横向组份均匀,晶体结构完整,电学参数较好,外延膜质量优良。短波材料(n型):载流子浓度3.54×10~(14)cm~(-3),迁移率1.63×10~4cm~2V~(-1)s~(-1);中波材料(n型):载流子浓度9.95×10~(14)cm~(-3),迁移率为1.76×10~4cm~2V~(-1)s~(-1);原生长波材料(n型):载流子浓度为2.15×10~(15)cm~(-3),迁移率2.00×10~4cm~2V~(-1)s~(-1)。 相似文献
109.
110.
Yiqi Zhuang Qing Sun 《Electron Devices, IEEE Transactions on》1991,38(11):2540-2547
Accelerated life tests with high-temperature storage and electric aging for n+-p-n silicon planar transistors were carried out. Current gain h FE increases monotonously with time during the tests, and the h FE drift is correlated with initial measured 1/f noise in the transistors, i.e. the drift amount significantly increases with the increase of noise level. The correlation coefficient of relative drift Δh FE /h FE and 1/f noise spectral density S iB(f ) is far larger than that of Δ h FE/h FE and initial DC parameters of the transistors. A quantitative theory model for the h FE drift has been developed and explains the h FE drift behavior in the tests, which suggests that the h FE drift and 1/f noise can be attributed to the same physical origin, and both are caused by the modulation of the oxide traps near the Si-SiO2 interface to Si surface recombination. 1/f noise measurement, therefore, may be used as a fast and nondestructive means to predict the long-term instability in bipolar transistors 相似文献