首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   287954篇
  免费   3139篇
  国内免费   969篇
电工技术   4263篇
综合类   2454篇
化学工业   42870篇
金属工艺   14942篇
机械仪表   9980篇
建筑科学   6127篇
矿业工程   2715篇
能源动力   5712篇
轻工业   16372篇
水利工程   4153篇
石油天然气   8060篇
武器工业   22篇
无线电   30564篇
一般工业技术   60878篇
冶金工业   36908篇
原子能技术   6868篇
自动化技术   39174篇
  2021年   2051篇
  2019年   2001篇
  2018年   17866篇
  2017年   16826篇
  2016年   13790篇
  2015年   2817篇
  2014年   3991篇
  2013年   8911篇
  2012年   8740篇
  2011年   16403篇
  2010年   13959篇
  2009年   11911篇
  2008年   13244篇
  2007年   14088篇
  2006年   5676篇
  2005年   6277篇
  2004年   5712篇
  2003年   5683篇
  2002年   4888篇
  2001年   4560篇
  2000年   4352篇
  1999年   4249篇
  1998年   10234篇
  1997年   7209篇
  1996年   5540篇
  1995年   4139篇
  1994年   3608篇
  1993年   3848篇
  1992年   2994篇
  1991年   3017篇
  1990年   2893篇
  1989年   2853篇
  1988年   2875篇
  1987年   2509篇
  1986年   2569篇
  1985年   2855篇
  1984年   2689篇
  1983年   2555篇
  1982年   2300篇
  1981年   2270篇
  1980年   2346篇
  1979年   2359篇
  1978年   2384篇
  1977年   2488篇
  1976年   2880篇
  1975年   2191篇
  1974年   2072篇
  1973年   2169篇
  1972年   1943篇
  1971年   1756篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
991.
Translated from Izmeritel'naya Tekhnika, No. 1, pp. 17–19, January, 1992.  相似文献   
992.
Translated from Steklo i Keramika, No. 1, pp. 6–7, January, 1991.  相似文献   
993.
Translated from Khimiya i Tekhnologiya Topliv i Masel, No. 3, pp. 34–35, March, 1992.  相似文献   
994.
995.
Mendeleev All-Union Metrology Research Institute. Translated from Atomnaya Énergiya, Vol. 73, No. 5, pp. 393–397, November 1992.  相似文献   
996.
997.
998.
The first observation is reported of ultrafast all-optical switching in an integrated asymmetric Mach-Zehnder interferometer, using the nonresonant nonlinearity in Ga/sub 0.82/Al/sub 0.18/As below half the bandgap. A relative switching fraction of more than 80% has been achieved using 330 fs pulses at around 1.55 mu m from a coupled-cavity mode-locked colour centre laser.<>  相似文献   
999.
The number of circuit design iterations due to electrostatic discharge (ESD) failures increases with the complexity of VLSI technologies and their shrinking. In this paper, we show how TCAD and ESD SPICE modeling can be used to solve ESD protection issues in an analog CMOS technology.  相似文献   
1000.
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号