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提出一种应用于心肌肌钙蛋白I(cTn I)检测的 局域表面等离子共振(LSPR)光纤传感器。将标准光纤局部腐蚀 掉包层,在其表面形成纳米银膜,用葡萄球菌A蛋白(SPA)作为纳米银膜与cTn I单克隆抗体 的连接介体,实现鼠 抗人cTn I单克隆抗体对光纤传感器的修饰,放入不同浓度的cTn I溶液中,通过测量传感器 光谱曲线的消 光峰位移获得溶液中的cTn I浓度。实验结果表明,溶液中cTn I浓度在20~120 ng/mL范围内,光谱曲线 的消光峰位移的对数与cTn I质量浓度的对数成线性关系,线性相关系数为0.996。利用夹心法,传感器检 测限可达10ng/mL,有较强的抗杂蛋白干扰能力。基于LSPR的光纤 传感器件结构简单、性能稳定、成本低且测量灵敏度高,可应用于cTn I检测。 相似文献
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利用脉冲激光沉积技术在Ti6Al4V(TC4)合金表面制备了羟基磷灰石(HA)薄膜,研究了退火温度对薄膜组织和性能的影响。采用扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射(XRD)和傅里叶红外光谱(FTIR)等分析手段对热处理前后薄膜的表面形貌、成分和组织结构进行了分析;采用轮廓仪、接触角测量仪分别对热处理前后薄膜的表面粗糙度和润湿性进行了测量。实验结果表明,利用脉冲激光沉积技术制备的HA薄膜致密、无缺陷,主要由非晶相组成。热处理后的薄膜结晶度提高、表面粗糙度增大,Ca/P比更接近于HA,具有更好的表面亲水性。但是过高的热处理温度(700℃)会导致薄膜中微裂纹的出现。 相似文献
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详细分析了700V横向双扩散金属氧化物半导体(LDMOS)器件瞬态失效机理的特性。研究表明触发器件寄生晶体管开启的失效功率不仅与器件内部温度有关,同时也与电场分布有关。器件温度影响寄生阱电阻和衬底电流的大小,而电场分布影响器件内部碰撞电离。器件温度与电场分布均与栅脉冲参数有密切关系。为了阐述栅脉冲参数对器件温度的影响,模拟仿真了器件的热响应曲线。 相似文献
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Kian Sen Ang Yoke Choy Leong 《Microwave Theory and Techniques》2002,50(8):1990-1995
A technique for converting baluns into 180/spl deg/ hybrids by adding an in-phase power splitter is presented in this paper. Incorporating the broad-band antiphase and in-phase power splitting characteristics of the balun and power splitter results in a 180/spl deg/ hybrid with broad-band characteristics. This technique also provides a means of achieving perfect matching and output isolation for three-port lossless baluns. Applying this technique to a Marchand balun will result in a broad-band impedance-transforming 180/spl deg/ hybrid. Simple design equations based on the scattering matrix are presented. These theoretical results are validated by an experimental 180/spl deg/ hybrid using a coupled line Marchand balun. It achieves amplitude balance of 0.5 dB and phase balance of less than 5/spl deg/ from 1.2 to 3.2 GHz. 相似文献
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节点位置的确定是无线传感器网络的应用基础.为了提高传感器网络节点定位的精度,利用转移矩阵和观测矩阵噪声之间的关系,采用约束总体最小二乘算法求解时差定位问题.通过将定位问题转化为一个约束总体最小二乘问题,然后又将有约束问题等价为无约束的问题,利用Newton算法进行迭代求解.最后计算机仿真结果验证了该算法的有效性. 相似文献
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Shreyas Sen Aritra Banerjee Vishwanath Natarajan Shyam Devarakond Hyun Choi Abhijit Chatterjee 《Journal of Electronic Testing》2012,28(4):405-419
Testing of Radio Frequency (RF) circuits for nonlinearity specifications generally requires the use of multiple test measurements thereby contributing to increased test cost. Prior RF test methods have suffered from significant test calibration effort (training for supervised learners) when using compact tests or from increased test time due to direct specification measurement. On the other hand, due to aggressive technology scaling, there are plenty of digital transistors available that can be used to simplify testing of Analog/Mixed-Signal (AMS) and RF devices. In this paper, an RF test methodology is developed that: (a) allows RF devices to be tested for several distortion specifications using distortion model fitting algorithms in test time comparable to what can be achieved using supervised learning techniques while retaining the accuracy of direct specification measurement, (b) allows multiple RF specifications to be determined concurrently from a single data acquisition and (c) allows digital-compatible testing/BIST to be performed using digital testers or on-chip built in self-test (BIST) circuitry. With regard to (a), a key benefit is that no training of supervised learning algorithm is necessary. The proposed method based on distortion model fitting is shown to give excellent results across common RF performance metrics while providing ~10× improvements in test time compared to previous methods. 相似文献