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核电材料在模拟反应堆环境中应力腐蚀破裂测试技术与性能评价 总被引:1,自引:0,他引:1
杨武 《理化检验(物理分册)》1996,32(5):7-12
简要介绍了采用慢应变速率试验,U型弯曲和C形环试验等技术,分别对800合金,304和316及316Ti不锈钢A533B压力容器用多在模拟核反应堆环境中的应力腐蚀破裂敏感性性进行的试验研究的一些主要结果;并结合电化学测试和表面膜俄歇电子能谱分析结果进行了讨论。 相似文献
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CA/PAN中空纤维血浆分离膜的结构与性能 总被引:4,自引:2,他引:2
本研究以CA及PAN的共混溶液,通过干-湿法纺丝制取中空纤维,利用共混高聚物各组分在凝固剂中相分离速度的差异,形成具有稳定结构的中空纤维孔膜,该膜用于分离血液中的血浆成分具有良好效果。讨论了成型条件及添加剂等对膜结构、性能的影响,用SEM及图相分析仪、MAP压汞仪及DSC等分析手段,对膜的微孔结构、形态、孔尺寸及中空纤维膜的血浆通量和水通量等进行了系统的考查。 相似文献
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Delay-dependent state estimation for delayed neural networks 总被引:3,自引:0,他引:3
Yong He Qing-Guo Wang Min Wu Chong Lin 《Neural Networks, IEEE Transactions on》2006,17(4):1077-1081
In this letter, the delay-dependent state estimation problem for neural networks with time-varying delay is investigated. A delay-dependent criterion is established to estimate the neuron states through available output measurements such that the dynamics of the estimation error is globally exponentially stable. The proposed method is based on the free-weighting matrix approach and is applicable to the case that the derivative of a time-varying delay takes any value. An algorithm is presented to compute the state estimator. Finally, a numerical example is given to demonstrate the effectiveness of this approach and the improvement over existing ones. 相似文献
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印刷质量控制的基本方法(一)综述 总被引:1,自引:0,他引:1
无论哪一种印刷品的生产都要经过若干个工艺过程,才能将原稿上的图文信息转移到承印物上。由于印刷技术的飞跃发展,标准化和质量控制成为一个很重要的问题。标准化和质量控制在很大程度上是依靠仪器和控制装置来实现的。科学技术的极大发展,大大地推动了印刷技术的发展,印刷所使用的原材料和工艺得到了很大的改进,逐步实现了标准化,提高并稳定了生产高质量产品的能力。目前我们评价印刷品质量的优劣大致有三种方法:主观评价法、客观评价法和综合评价法。主观评价法,是以原稿为基础对照样张来评价。这里有人为的因素,根据评价人的知… 相似文献
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根据托海拱坝5号坝段、7号坝段例垂线实测资料分析,说明了新疆寒冷地区坝体采取聚胺脂喷涂施工措施后对坝体变形的影响,以及右坝肩渗漏对右坝肩岩体的影响,分析结果为托海水电站通过国家电力公司大坝安全监察中心大坝安全首次定检提供了科学依据。 相似文献
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本文对各种运输方式易腐货物的运价进行了比较分析,对铁路冷藏运输的现行运价和保本运价进行了讨论,提出了铁路冷藏运输运价改革的若干建议,可供铁路进行冷藏运输改革参考。 相似文献
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In this work, a quantitative analysis is applied to resolve the newly reported polarity-dependent charge-to-breakdown (Q/sub BD/) data from thick oxides of 6.8 nm down to ultrathin oxides of 1.9 nm. Three independent sets of Q/sub BD/ data, i.e., n/sup +/poly/NFET stressed under inversion and accumulation, and p/sup +/ poly/PFET under accumulation are carefully investigated. The Q/sub BD/ degradation observed for p-type anodes, either poly-Si or Si-substrate, can be nicely understood with the framework of maximum energy released by injected electrons. Thus, this work provides a universal and quantitative account for a variety of experimental observations in the time-to-breakdown (T/sub BD/) and Q/sub BD/ polarity-dependence of oxide breakdown. 相似文献
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Chih-Wea Wang Chi-Feng Wu Jin-Fu Li Cheng-Wen Wu Tony Teng Kevin Chiu Hsiao-Ping Lin 《Journal of Electronic Testing》2002,18(6):637-647
In this paper we propose a novel built-in self-test (BIST) design for embedded SRAM cores. Our contribution includes a compact and efficient BIST circuit with diagnosis support and an automatic diagnostic system. The diagnosis module of our BIST circuit can capture the error syndromes as well as fault locations for the purposes of repair and fault/failure analysis. In addition, our design provides programmability for custom March algorithms with lower hardware cost. The combination of the on-line programming mode and diagnostic system dramatically reduces the effort in design debugging and yield enhancement. We have designed and implemented test chips with our BIST design. Experimental results show that the area overhead of the proposed BIST design is only 2.4% for a 128 KB SRAM, and 0.65% for a 2 MB one. 相似文献
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