ARM与传能光纤在激光雕刻系统中的应用

介绍了以嵌入式ARM9+S3C2440为控制核心及传能光纤为控制媒介的激光雕刻系统,对雕刻机控制系统的软硬件进行了设计,使雕刻机成本降低,控制精确。系统采用了雕刻范围大、可维护性好的传能光纤取代原有的复杂的光路系统。通过对步进电机和激光器开关电源的精确控制,实现高精度、高效率地雕刻加工。     

创新科普形式 增强传播效果

一般的传播模式由于传播链条太长,无法形成或较快形成反馈,缺少交流的亲切感与成就感,因而很难引起公众的学习兴趣。首都科学讲堂传播模式的成功在于它有一个“核心动力”——注重平等交流的现场活动,并通过沟通、对话、交流,调动公众的主观能动作用,促进其主动地接受。最终,形成了一种互为因果的关系。理解促述接受,接受又加深理解,进而带动周边“因素”形成良好的社会传播效应。     

InAs量子点双区共腔双稳激光器

本文介绍了一种新型的双区结构的InAs量子点激光器,实现了波长1.24μm室温连续激射,同时在对可饱和吸收区施加反向偏压或开路的条件下观察到了明显的光学双稳现象,其回滞宽度优于已知所报道的结果。此外,还发现减小反向偏压或增大吸收区长度能有效增加回滞宽度。应用一个改进的阈值电流模型,揭示了可饱和吸收区内量子点吸收和电吸收两种机制对光学双稳的影响,并对所观察到的实验结果进行了解释。     

ENIG焊点的失效机理及镀层重工方法研究

采用显微形貌、微观结构和元素成分分析等物理分析方法,以不同类型的化镍浸金(electroless nickel/immersion gold,ENIG)基板为对象,分析了其焊点在不同情形下的失效模式和失效机理,阐述了黑盘缺陷的主要失效特征,研究了具有黑盘缺陷的化镍浸金基板的重工工艺.研究结果显示,Ni层断裂表面单一的高P含量或轻微Ni层腐蚀不能作为黑盘缺陷的唯一依据,已形成良好金属间化合物(intermetallic compound,IMC)层的Ni层腐蚀位置的焊接界面仍具有良好的机械结合强度,采用喷锡工艺(hot air solder level,HASL)对具有黑盘缺陷的化镍浸金基板进行重新处理切实可行.     

基于FPGA的芯片功能性验证自动化实现

针对传统半导体设计流程中对MCU芯片进行功能性验证时涉及到多个芯片之间的互联,手工操作连接十分烦琐且易出现错误,介绍了一种基于FPGA的MCU引脚自动互联的设计与实现.介绍了MCU模块功能性验证自动化实现的概念,从硬件逻辑角度给出了一种解决方法,并且从FPGA模块设计、功能仿真和系统实现等方面,证明了新的测试方法不但降低了人为操作错误的可能性,而且提高了模块功能验证的覆盖率和验证效率,大大缩短了产品的上市时间.     

复杂卫星抖动下的星敏感器姿态测量数据处理技术

由于复杂卫星在轨运行中不可避免地存在着抖动振动,从而导致星敏感器数据不稳和精度降低,这给低信噪比条件下的敏感器姿态测量数据处理带来了很大困难。该文针对复杂卫星抖动情况下数据的处理进行了讨论,分析了星敏感器测量原理及各类误差源产生机理,并在此基础上,重点研究了抖动条件下的星敏感器姿态测量数据处理技术,结合抖动幅频特性,通过寻找用于处理抖动引起误差的幅频分界点,分析了抖动对星敏感器姿态测量精度的影响,并结合卫星姿态确定过程,给出了抖动情况下星敏感器姿态测量数据的处理方法,可有效地提高星敏感器数据处理精度,使不经稳态控制就可对抖动测量数据进行处理成为可能,大大降低了系统的设计成本,缩短了设计周期。     

2GS/s 6-bit 自校准快闪ADC

A single channel 2-GS/s 6-bit ADC with cascade resistive averaging and self foreground calibration is demonstrated in 0.18-μ m CMOS. The calibration method based on DAC trimming improves the linearity and dynamic performance further. The peak DNL and INL are measured as 0.34 and 0.22 LSB, respectively. The SNDR and SFDR have achieved 36.5 and 45.9 dB, respectively, with 1.22 MHz input signal and 2 GS/s. The proposed ADC, including on-chip track-and-hold amplifiers and clock buffers, consumes 570 mW from a single 1.8 V supply while operating at 2 GS/s.     

Ultra high-speed InP/InGaAs SHBTs with ft and fmax of 185 GHz

An InP/InGaAs single heterojunction bipolar transistor (SHBT) with high maximum oscillation frequency (f_max) and high cutoff frequency (f_t) is reported. Efforts have been made to maximize f_max and f_t simultaneously including optimizing the epitaxial structure, base–collector mesa over-etching and base surface preparation. The measured f_t and f_max both reached 185 GHz with an emitter size of 1 × 20 μ m², which is the highest f_max for SHBTs in mainland China. The device is suitable for ultra-high speed digital circuits and low power analog applications.     

带修正因子的均值和中值滤波算法研究

大部分自然图像同时包含高斯噪声和椒盐噪声,简单的运用传统的滤波算法不能得到理想的滤波效果。为了解决混合噪声图像的滤波问题,分别针对以高斯噪声为主的混合噪声图像和以椒盐噪声为主的混合噪声图像,提出了带修正因子的均值滤波算法和带修正因子的中值滤波算法。这两种算法是在修正后的阿尔法均值滤波算法的基础上做了两方面的改进：首先,提出在图像邻域内为不同灰度值的像素点给出归一化的权值,用这些权值和其对应的灰度值共同决定滤波输出。其次,所设计的权值可以用修正因子来进行微调,来获得理想的滤波效果。实验证明,其处理效果优于传统滤波算法和修正后的阿尔法均值滤波算法。     

无Cr腐蚀液显示直拉Si单晶中的氧化诱生层错

Si抛光片的氧化诱生层错(OSF)是一种重要的工艺诱生缺陷,为提高Si抛光片质量,应对氧化诱生层错的产生有充分的认识和了解,并加以克服,而简单、快捷、准确地显示缺陷是首要条件.介绍了采用环保的无Cr腐蚀液显示氧化诱生层错,实验发现无Cr腐蚀液能很好地显示氧化诱生层错,比较了无Cr腐蚀液和其他常用腐蚀液的缺陷腐蚀形貌,探讨了无Cr腐蚀液的腐蚀机理及腐蚀条件.实验发现环保的无Cr腐蚀液能很好地显示直拉Si单晶中的氧化诱生层错,能应用于生产.