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991.
BOOTSTRAP CONTROL CHARTS 总被引:1,自引:0,他引:1
992.
步进式加热炉炉温优化设定模型及软件开发 总被引:1,自引:0,他引:1
针对线材厂步进式加热炉实际工况,提出了基于经验规则的炉温优化设定模型和在线自学习获取知识的思想,并以炉温优化设定模型为核心,开发出加热炉计算机控制系统的优化运行软件。 相似文献
993.
Channel crosstalk effects in wavelength-multiplexed subcarrier-multiplexing video transmission systems due to cross-phase modulation are investigated. The crosstalk level depends on the spacing of optical channels. For analogue CATV transmissions in the 1.5 μm window using normal singlemode fibre, it is shown that the number of achievable optical channels is severely limited by cross-phase modulation for typical system parameters 相似文献
994.
995.
996.
用50W连续波CO_2激光器为热源,诱发SiH_4和C_2H_4反应,合成SiC超细粉末。实验确定了反应腔体内压力p、气源中的C/Si原子比、喷嘴内径2r以及激光功率密度与粉末特性之间的关系,并对合成的产物进行物理、化学表征。 相似文献
997.
Porous silica glass was prepared by sol-gel process from tetraethoxysilane (TEOS). The effects of solvents (water, ethanol), drying condition, heat treatment temperature on specific surface area and pore size distribution of porous silica were investigated. Gelation process accelerates with an increase of H2O content, while retards with the increase of ethanol amount. Structure changes during heat treatment were studied by means of DTA, XRD. TEM micrographs show that the gel particles shrink after heated at 500°C, thus the average pore size decreases. 相似文献
998.
Dynamic oxide voltage relaxation spectroscopy 总被引:3,自引:0,他引:3
Mingzhen Xu Changhua Tan Yandong He Xiaowei Liu Yangyuan Wang 《Electron Devices, IEEE Transactions on》1996,43(4):628-635
A new method for trap characterization of oxidized silicon is described. The Dynamic Oxide Voltage Relaxation Spectroscopy (DOVRS) is an improved version of the formerly proposed Oxide Voltage Relaxation Spectroscopy (OVRS) technique which applies a periodic long duration constant current for tunneling injection. It has been demonstrated that the new technique can be used not only to separate and identify the oxide trap from interface trap, but also to separate and determine the centroid from the oxide trap density generated in the MOS system by the tunneling current stress. In the pulse constant current mode, the OVRS measurement can be completed instead of using the double current-voltage technique. Thus the new method results in more accurate and quicker measurements of the oxide trap centroid. Analytical expressions for computing the paramaters of the interface and oxide traps are derived. The effect of the channel carrier mobility on the spectroscopy is also considered. Two types of oxide and two types of interface traps were observed at a pulse constant Fowler-Nordheim current stress by the new method of DOVRS 相似文献
999.
锻热淬火工艺对工具钢碳化物粒度的影响 总被引:6,自引:1,他引:5
研究了锻热淬火工艺对T10钢和GCr15钢碳化物技度的影响。结果表明,碳化物粒度随变形量的增大而细化;终锻温度在高于碳化物析出的温度范围内变化,其碳化物粒度都同样细小;终锻温度不宜过低,否则将使碳化物变粗。 相似文献
1000.
本工作用XRD,EPMA,SEM等测试技术计算和示出了用不同活性粉料制备的Ba(Mg1/3Ta2/3)O3微波陶瓷晶格中B位离子有序度和元素的面分布情况,对它们在X面下的电行为作了探讨。实验结果表明,BMT陶瓷的微波损耗主要与其密度有序度和微观结构的均一度有关。 相似文献