压电功能材料在结构主动减振降噪中的应用

利用压电材料的压电效应和逆压电效应.可分别实现压电传感器及压电致动器.采用压电传感器和致动器实现结构振动主动控制和噪声的有源控制是目前振动和噪声控制工程研究中的一个新领域.本文对此问题进行了分析,并指出了今后研究工作中应着重解决的问题.     

激光技术推广应用中安全防护问题

论述加强激光安全防护工作的紧迫性,介绍我国激光安全工作的进展,提出下一步工作建议。     

光纤环形器中偏振棱镜系统的实验设计与制作

本文设计了一种新型的偏振棱镜系统,它具有损耗小、隔离度高、结构紧凑、调试方便等诸多优点。该偏振棱镜系统的损耗为0.6dB,隔离度为24dB。以此为基础做成的光纤环形器指标为,波长在1.3μm时,插入损耗(包括光纤对接损耗)∶2.2～2.4dB,隔离度∶20.5～23.1dB。     

亚稳态惰性原子与SOCl_2传能反应产物SO(A)的发射光谱和强度分析

本文在流动余辉装置上,利用亚稳态惰性气体原子[He(2~3S)、Ne(~3P_(0,2))、Ar(~3P_(0,2))]与SOCl_2的专能反应,在(230-430nm)波段观察到了产物的发射谱,光谱归属为自由基SO(A~3∏_(2,1,0)→X~3∑~-)的跃迁。对光谱强度分析表明:SO(A→X)的偶极跃迁矩Re随核间距明显地变化。通过拟合,找出了这一变化的关系。另外,本文还计算了SO(A~3∏_0→X~3∑~-)跃迁的Franck-Condon因子。     

HMOS微机超低电源电压运行技术

本文介绍HMOS单片微机低电源电压运行的理论探索和实践.研究结果证明了微机芯片低电压运行的关键障碍是MOS器件的正向偏置.实验系统的最低运行电压取决于系统内RAM的最小维持电压,可在最低运行电压和额定电压之间稳定工作.     

A robust algorithm for reduction of truncation artifact in chemical shift images

A new iterative technique to reduce the ringing artifacts in chemical shift images due to the truncation of the high spatial frequency is presented. In this approach the authors extrapolate the high spatial frequency data guided by the edge information obtained from a high resolution anatomic image of the region of interest. The fact that the edge information obtained from the anatomic image can be off by a few pixels (due to factors such as chemical shift artifact, error in edge detection or misregistration) is taken into account by assuming a confidence interval of several pixels around the anatomic edges. The algorithm is validated on simulated and in vivo data, and excellent results were obtained.     

背脊波导双环铁氧体移相器的阻抗匹配

本文研究背脊波导双环锁式铁氧体移相器的阻抗匹配技术,给出了计算阻抗匹配的转移矩阵。实验证明,它对工程设计具有较好的参考价值。     

结构振动控制中压电阻尼技术研究—压电被动阻尼技术（一）

压电阻尼技术有两种类型：压电被动阻尼技术和压电主动阻尼技术。本文对其中的压电被动阻尼技术进行了研究，结果表明：通过给压电元件并联适当的外部电路，可使压电系统具有与粘弹阻尼材料及动力吸振器相似的物理特性。合理配置电路参数，可以实现最优阻尼比。     

建立统计宏模型的新方法

本文介绍一个新的建立统计宏模型的系统，它采用新的方法，得到简化的二次多项式，这种形式便于优化处理，适用于容差设计。     

一种新的故障测试率的概率估计方法

本文提出了一种新的估计故障测试率的方法。它使用了无故障模拟的概念,观察率和控制率被定义成观察和控制电路节点的概率;分析了电路中节点的随机信号的概率分布;证明了控制率是服从正态分布的;依此获得了故障测试率的无偏估计。按照观察率的定义,我们处理了扇出节点。对一些实际的电路,利用此法所获得的故障覆盖与故障模拟结果非常吻合。