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CO2吞吐工艺操作参数的整体优化设计 总被引:1,自引:0,他引:1
针对ZY油田原油CO2吞吐的工艺过程,建立了CO2吞吐数值模拟模型。应用数值模拟方法对CO2吞吐进行了实例分析,首先对该井的CO2吞吐参数进行了单因素敏感性分析,分析了CO2周期注入量、注入速度、焖井时间、采液速度等因素对CO2吞吐效果的影响。在此基础上进一步运用正交试验方法对CO2吞吐参数进行了优化,通过计算表明用正交试验优选法得到的优化方案比单因素敏感性分析所得的优化结果更为合理。 相似文献
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裂解炉炉管基于风险的检验 总被引:4,自引:2,他引:2
管式裂解炉炉管受炉内高温及管内介质压力的共同作用,易发生蠕变等现象,因此,对裂解炉炉管进行风险评价尤为重要。应用API 581基于风险的检验规范对炉管的失效可能性及失效后果分别进行定量计算,并由此得到裂解炉炉管的定量风险结果和基于风险的检验周期,为裂解炉的风险控制与管理提供依据。 相似文献
125.
迷宫螺旋泵和密封工作特性研究 总被引:1,自引:1,他引:0
介绍了一种实测迷宫螺旋泵和密封工作特性的实验方法,通过该方法可以测得迷宫螺旋泵的泵送特性曲线、迷宫螺旋端面组合密封的最大密封压力以及端面开启的开始转速,具有一定的实用价值。 相似文献
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逆流式气浮过滤一体化净水技术的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
通过鸡西市自来水公司第一水厂的工程实例介绍了逆流式气浮过滤一体化净水技术的应用。 相似文献
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1 Introduction High power laser diode arrays (LDA) have many advan- tages such as small volume, long working life, high slope efficiency and high optical density, so they have many applications in medical treatment, material pro- cessing, and for the pumping source of solid laser and etc. But unfortunately, the LDA can not be easy to use directly in these fields because of their poor beam quality and extremely asymmetric divergent beams (!x≈ 5°~10°and !y≈20°~35°, for example), so it … 相似文献
129.
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A self-assembly patterning method for generation of epitaxial CoSi2 nanostructures was used to fabricate 50 nm channel-length MOSFETs. The transistors have either a symmetric structure with Schottky source and drain or an asymmetric structure with n+-source and Schottky drain. The patterning technique is based on anisotropic diffusion of Co/Si atoms in a strain field during rapid thermal oxidation. The strain field is generated along the edges of a mask consisting of 20 nm SiO2 and 300 nm Si3N4. During rapid thermal oxinitridation (RTON) of the masked silicide structure, a well-defined separation of the silicide layer forms along the edge of the mask. These highly uniform gaps define the channel region of the fabricated device. The separated silicide layers act as metal source and drain. A poly-Si spacer was used as the gate contact. The asymmetric transistor was fabricated by ion implantation into the unprotected CoSi2 layer and a subsequent out-diffusion process to form the n+-source. I–V characteristics of both the symmetric and asymmetric transistor structures have been investigated. 相似文献