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CuInS2 thin films were prepared by sulfurization of Cu-In precursors. The influences of the deposition sequence of Cu and In layers, such as Cu/In, Cu/In/In, and In/Cu/In, on structure, topography, and optical properties of CuInS2 thin films were investigated. X-ray diffraction results show that the deposition sequence of Cu and In layers affects the crystalline quality of CuInS2 films. Atomic force microstructure images reveal that the grain size and surface roughness are related to the deposition sequence used. When the deposition sequence of precursor is In/Cu/In, the CuInS2 thin films show a single-phase chalcopyrite structure with (112) preferred orientation. The surface morphology of CIS films is uniform and compacted. The absorption coefficient is larger than 10^4 cm^-1 with optical band gap Egclose to 1.4 eV. 相似文献
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研究一种镁基Mg-10Ni-2Mm(摩尔分数,%)储氢合金在不同凝固速率下的组织演化。结果表明:增加凝固速率可以大幅度细化合金条带的晶粒;采用的石墨冷却轮表面速度为3.1,10.5和20.9m/s时,可以分别获得微晶、纳米晶和非晶组织;当冷却轮盘表面速度为3.1m/s时,快淬试样完全结晶化,组织中除了少量富Mm晶粒外,形成了粗大的Mg和Mg2Ni微晶;加快冷却轮盘表面速度到10.5m/s时,大量的纳米颗粒形成,组织由大量的Mg和Mg2Ni纳米晶组成;进一步加快速度到20.9m/s时,形成了包括非晶和纳米晶的混合组织。理想的组织是非晶基体上析出大量纳米晶,这样的组织有望获得最大的储氢容量和优异的吸放氢动力学。 相似文献
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纳米羟基磷灰石与牙无机质的比较研究 总被引:7,自引:0,他引:7
用水热合成法制备了纳米磷灰石晶体。用透射电镜(TEM)、X射线衍射(XRD)、傅立叶一红外光谱(FT—IR)、等离子发射光谱(ICP)和X光电子能谱(XPS)分析和表征了纳米羟基磷灰石(n—HA)和牙磷灰石的组成、结构和形貌。结果表明用水热合成法制备的纳米磷灰石晶体有与牙无机质十分类似的组成、结构和形貌,同样含有羟基、碳酸根和钠离子。从仿生学角度出发,在制备纳米羟基磷灰石的过程中,应适当引入CO3^2-、F^-以利于更好地模仿自然牙的组成,制备出高性能的n—HA与高分子或牙科树脂复合材料。 相似文献
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通过动态样品磁强计测试CoFeSiBCr玻璃包覆非晶丝的静态磁滞回线,发现其不具有轴向畴。制备了含玻璃包覆非晶丝的膜状噪声抑制材料,采用微带线测试系统测试微波散射参数并计算出功率损耗比,研究丝材长度对复合膜微波噪声抑制特性的影响。结果表明:随着丝材长度的增大,复合膜样品的S21曲线在测试频率范围内出现吸收峰,且峰值对应的频率逐渐减小。复合膜禁带带宽随着丝材长度的增大而增大。丝材长度为20 mm时,复合膜的禁带带宽最大,达7.1 GHz,1.8~8.5 GHz时功率损耗比高于75%,在千兆赫兹频率范围内具有较好的噪声抑制效果。 相似文献
50.