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41.
采用真空钎焊方法,以航空发动机涡轮叶片用材料(GH1035)为研究对象,通过运用倾斜焊缝,根据焊缝组织随焊缝宽度的变化而改变的特点,确定最佳焊缝间隙区间,并从剪切强度试验结果及微观组织角度进行验证,证实本实验方法简便、结果可信,可以用来确定共晶钎料最佳钎缝间隙. 相似文献
42.
C、Cr、Si、Mn对低铬白口铸铁组织和力学性能的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
应用湿砂铸型浇注低铬白口铸铁,采用正交试验研究了C、Cr、Si、Mn对低铬白口铸铁组织和力学性能的影响。结果表明:含碳量2.4%和2.7%时碳化物基本上是呈网状分布的,形成了离异共晶的网状碳化物组织;而含碳量3.0%时,离异共晶组织不再出现。高碳、低硅、高铬和低锰有利于提高硬度;低碳、低硅、中铬和高锰有利于提高冲击韧度;高碳、低硅、低铬和高锰有利提高耐磨性。新开发的低铬白、口铸铁的硬度、冲击韧度和耐磨性远高于目前在生产排沙潜水泵过流部件中所使用材料的各项性能,使用寿命是其5倍左右。 相似文献
43.
以SAC305锡膏为钎料,通过回流焊实现了倒装LED与Cu/Ag、Cu/Ni/Au基板的互连.研究了两种接头界面微观组织在高温时效条件下的演变行为.结果表明,接头两侧界面组织间存在相互影响. Cu/Ni/Au基板中的Au在回流焊过程中溶解至体钎料内,对芯片侧Au-Sn金属间化合物的生长起到抑制效果.芯片侧Au-Sn金属间化合物的快速生长降低了体钎料中Sn的相对浓度,从而使体钎料中有利于基板侧IMC生长组元的相对浓度得到提升,促进基板侧IMC生长.相比较而言,在Cu/Ag基板上的回流焊试样抗高温时效性能较差. 相似文献
44.
研究了电迁移过程中Cu/Sn-3.0Ag-0.5Cu/Cu微焊点界面金属间化合物(IMC)的生长演变机制,分析了电载荷作用下固-液电迁移与固-固电迁移的区别. 结果表明,固-液电迁移过程中,随着加载时间的延长,两极IMC层厚度均增厚,且阳极IMC层厚度增长速率比阴极大;阴极侧IMC晶粒径向尺寸一直增大,轴向尺寸呈先增大后减小的变化规律,阳极侧IMC晶粒的尺寸在轴向与径向均增大;加载过程中,阳极IMC晶粒尺寸始终大于阴极;与固-固电迁移相比,固-液电迁移后,阴极侧,焊点IMC形貌更规则,且表面光滑度提高;阳极侧,固-固扩散时界面IMC晶粒形貌为多边形球状,而固-液扩散时界面IMC形貌为多边形柱状. 相似文献
45.
采用ANSYS有限元数值模拟软件,运用瞬态非线性分析的方法,模拟出以Ag—Cu—Ti为钎料的金刚石与硬质合金钎焊接头的焊后应力场,并预报出钎缝厚度对钎焊接头应力大小和分布的影响,从而分别得出焊后金刚石层、钎料层与硬质合金区域的应力场分布,通过对应力场彩云图以及数据组的综合分析,找到焊后应力集中的危险区域;在数控真空钎焊炉中进行钎焊试验,由于施加压力的不同,得出钎缝厚度不同的焊接试件。而后进行抗剪强度试验,得出了钎料层厚度并不是越厚越好,而是存在一个最佳值的规律,计算所得规律与试验结果基本吻合。 相似文献
46.
47.
采用正交试验法研制适用于大功率器件无铅钎焊的无卤素低松香型助焊剂。优选助焊剂的活性剂、溶剂、成膜剂等成分,按照GB/T 31474-2015电子装联高质量内部互连用助焊剂标准,对助焊剂的铺展率、腐蚀性及物理性能进行测试。结果表明,当助焊剂中,有机酸活性剂质量分数为15%、松香质量分数为30%,触变剂为1%时,助焊剂具有良好的物理稳定性和润湿性,平均扩展率达到86%,焊后残留物对铜板无腐蚀,满足电子器件的使用要求。 相似文献
48.
电子封装中的无铅Sn-3.8Ag-0.5Cu/Cu界面研究 总被引:3,自引:0,他引:3
针对钎料与焊盘间形成IMC层的厚度是影响可靠性的一个关键因素.对无铅钎料Sn-3.8Ag-0.5Cu与Cu盘进行了重熔,采用Olympus(光学金相显微镜),SEM(扫描电镜)和EDX(能谱X射线)界面分析手段,研究了合金Sn-3.8Ag-0.5Cu与Cu焊盘接头的钎焊性和在焊接过程中IMC的形成与长大机理,探讨了IMC厚度与保温时间的变化规律.研究结果表明,无铅钎料合金Sn-3.8Ag-0.5Cu在钎焊务件下与Cu焊盘能够实现良好的连接,其连接层为Cu6Sn5金属间化合物,重熔时的IMC层生长基本上符合抛物线规律. 相似文献
49.
50.