格构式塔式起重机基础施工在建筑工程中的应用

近年来,建筑工程的规模越来越大,工程施工难度越来越大,为保证工程质量及工期,施工单位常采用格构式塔式起重机进行施工.格构式塔式起重机基础施工是工程施工的重点.主要从塔式起重机基础的原则、计算、施工要点以及相关质量控制方面对格构式塔式起重机基础进行详细分析,希望能够给相关人员一些参考建议,推动格构式塔式起重机基础水平的提...     

国产载重汽车化油器相互代用的可行性研究

将解放CAH101化油器安装到东风汽车发动机上,通过台架试验和道路试验证明,尽管其动力性指标略有下降,但能满足一般情况下汽车的动力性要求;因此在现代战争的紧急状态下,此种应急措施具有一定的现实意义。     

高加速应力试验及极限应力试验综述

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。     

Voronoi图在窝制移动通信系统中的应用

在移动通信组网方式中 ,目前最好的陆地移动通信网是蜂窝制移动通信系统。蜂窝制移动通信系统的正六角形覆盖区域的划分图实际上就是以基站为母点 ,且当母点均匀分布情形下的Voronoi图。Voronoi图在理论研究方面已有丰硕成果。可将这些成果直接应用到蜂窝制移动通信系统中。文章对基站采用全向天线方式情况下 ,讨论了Voronoi图在蜂窝制移动通信的基站初始布局时的应用、在无线电信号场强实测点选择方面的应用和在增设基站方面的应用     

栅氧化层TDDB可靠性评价试验及模型参数提取

采用恒定电压和恒定电流试验方法对20nm栅氧化层进行了TDDB可靠性评价试验，并完成了1／E模型参数提取，给出了恒定电流应力下描述氧化层TDDB退化的统计模型，较好地解释了试验结果。     

偏置条件对NMOS器件X射线总剂量效应的影响

采用10 keV X射线,对NMOSFET在不同偏置条件下进行总剂量辐射,分析了辐照前后辐射感生的氧化物陷阱电荷与界面态电荷对MOS器件阈值电压的影响以及辐射导致漏电现象.实验结果表明,对于NMOSFET,On偏置条件是最劣偏置条件,Off偏置条件是最优偏置条件.     

nMOSFET低能X射线辐照特性研究

讨论了MOSFET的辐照损伤机理,通过低能（10keV）X射线辐照试验,分析了不同X射线辐照总剂量、不同剂量率对nMOSFET单管的转移特性以及阈值电压的影响。结果表明X射线辐照对nMOSFET的阈值电压变化的影响与^60Co辐照影响的规律基本一致。     

微电子生产工艺可靠性评价与控制

简要介绍了可靠性评估(REM)测试结构设计,并介绍了REM试验中与时问有关的栅氧化层击穿(TDDB)、热载流子注入(HCI)效应和电迁移(EM)效应的评价试验方法及实例。REM技术与工艺过程控制(PCM)、统计工艺控制(SPC)技术结合起来就可以实现对工艺的可靠性评价与控制,某集成电路生产公司将它应用于金属化工艺中．确定了工艺输入变量与电迁移可靠性的相关性,优化了金属化工艺试验条件,提高了金属化系统的抗电迁移能力。     

电子元器件失效模式影响分析技术

在元器件中进行失效模式影响分析(FMEA)技术研究和应用的基础上,论述了适合元器件的失效模式、机理影响分析(FMMEA)技术,在国内首次将FMMEA技术应用到元器件的基础上,研制了FMMEA技术分析软件,为元器件的研制和使用中控制或消除相关的失效模式及机理,提高产品质量和可靠性提供了一个新的方法和思路。