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31.
本文介绍一种微波腔体微扰法测量介质薄膜厚度的仪器。它的主要特点是:用圆柱TE_(011)模谐振腔作为介质膜厚度测量的传感器,将非电量厚度的参量转换为谐振的频偏值,用电调谐的场效应压控振荡器(FET-VCO)作为微波源。它们与指示电路组合构成测厚装置显示介质膜厚度。其结构简单,测量快速方便,可实现非接触测量,不受静电干扰,对ε'_r=2.0~3.0的塑料薄膜、分辨率优于032μm。 相似文献
32.
添加CeO2对BZN和BMZN微波陶瓷介电性能的影响表明,引入CeO2对BZN和BMZN陶瓷密度和微观形貌没有明显的影响,也不易造成第二相的形成;添加适量的CeO2能调节BZN和BMZN陶瓷的谐振频率温度系数在-10^-5/℃~+10^-5/℃之间;CeO2对BZN陶瓷Qf值的影响不大,但会使BMZN陶瓷的Qf值明显降低;考虑电容率、Qf值和谐振频率温度系数三方面因素,获得较好性能的BZN和BMZN陶瓷性能如下:BZN+0.75%CeO2,εr=39.45,Qf=51201GHz,τf=8.20×10^-6/℃:BMZN+0.50%CeO2,εr=40.48,Qf=51381GHz,τf=12.7×10^-6/℃。 相似文献
33.
本文分析圆柱腔TE011模端盖上的两个对称隙缝的特性,阐明用其测量片状材料的原理和条件。介绍了测量片状小损耗介质介电常数、半导体电导率及非平衡载流子寿命等参数的结果。实验表明,圆柱TE011模端盖的对称隙缝可用于高精度、多功能、宽量程测量片状材料参数,且测量是无接触的,无需对样品进行特殊的加工。 相似文献
34.
从求解Maxwell方程本征值出发,采用MATLAB中PDE工具箱,借助可二维作图的开槽圆柱谐振器,计算出有孔圆柱介质谐振器的谐振频率。求解结果与矢量网络分析仪测量结果吻合,误差在千分之四以内。且该有限元法计算软件采用MATLAB编写,可方便地被调用于矢量网络分析仪的VEE测试软件中,较好解决有孔及变形圆柱介质谐振器的设计、测量和微调等问题,特别是矢量网络分析仪的快速自动测量中。 相似文献
35.
片式CaCu3Ti4O12陶瓷由于其巨介电效应,用于制备多层陶瓷片式电容具有重大意义。通过水基流延法并在不同的烧结温度下制备的片式CaCu3Ti4O12陶瓷具有优异的介电性能。其中在1080℃下烧结的样品在保持巨电容率(98605)的同时,降低了介电损耗,其值只有0.028,远低于其他报道的损耗值。同时,测试了CCTO陶瓷薄片的复阻抗图谱,讨论了CCTO陶瓷的特殊的电学性能。实验结果表明,通过流延成型制备的CCTO陶瓷薄片在保持巨电容率的同时具有很低的介电损耗,这为CCTO陶瓷在微电子工业上的应用提供了可能性。 相似文献
36.
37.
38.
39.
以工业纯BaCO3、ZnO、Nb2O5为原料,按照一定配比配料混合,通过传统的固相反应法合成Ba(Zn1/3Nb2/3)O3(即BZN)陶瓷材料,预烧温度(分别为1000、1100和1200℃)对BZN陶瓷微波性能的影响过程中,对合成的BZN粉体进行差热/热重分析,对烧结后的BZN陶瓷进行XRD分析和SEM形貌观察,利用矢量网络分析仪测量BZN陶瓷的微波性能Q、εr和rf.实验结果表明,预烧温度对BZN微波陶瓷的介电性能影响比较大,预烧温度为1200℃时可以获得较好的介电性能εr=41.6,Q*f=38671GHz,τf=2.8×105/℃. 相似文献
40.
介绍了平行板介质谐振器法测试微波介质陶瓷的基本原理,建立一套基于该方法的自动测试系统并对测试结果进行分析.使用表明该自动测试系统稳定、重复性好、测试效率高.测试系统的建立为微波介质陶瓷的研究提供了有效测试手段. 相似文献