采样定理的内在不自洽性和工程应用的局限性：采样定理和奈奎斯特准则…

推导证明了作为通信理论基石之一的采样定理及其公式存在着两个矛盾；内在不自洽性，即采样定理与其公式的推导前提条件相矛盾；采样定理在工程实际应用时的严重局限性。     

推土机渠外堤后取土筑堤

据实测表明，推土机推土上坡在10～15、15～25和大于25时，生产率降低系数分别为0．92、0．88和0.800．可见筑堤越高．边坡度越大，生产率就越低。在农田渠道维修施工中如何正确利用推土机在渠外堤后取土筑堤，堤高生产率，保证工程质量，是施工人员十分关注的问题。近些年来，笔者在水利土方施工实践中，摸索出两种在堤外取土筑堤的施工方法，收到了较好的效果。一、辐射线形法（如图1所示）即从2道坝底角端点为起点，按辐射线Ni形式分层送土筑堤．以达到满足堤高、堤顶宽为止，基本形成设计所要求的横断面几何尺寸．然后整理外形，直至成…     

国产4H-SiC SI衬底MESFET外延生长及器件研制

以国产衬底实现SiC加工工艺链为目标,采用国产4H-SiC半绝缘衬底材料外延得到4H-SiC MESFET结构材料.外延片XRD半宽43.2 arcs,方块电阻121点均匀性18.39%,随后制备出的具有直流特性的4H-SiC MESFET器件管芯,器件总栅宽250 μm,饱和电流密度680 mA/mm,跨导约为20 mS/mm,在20 V下的栅漏截止漏电为10 μA,2 mA下栅漏击穿电压为80 V.比例占总数的70%以上.初步实现从衬底到外延,进而实现器件的完整工艺链,为进一步的工艺循环打下良好基础.     

现代表面分析技术在半导体材料中的应用

本文简要介绍TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱仪)、XRD(X射线双晶衍射仪)、SIMS(二次离子质谱仪)和XPS(X射线光电子能谱仪)等现代分析仪器的特点,着重报道这些分析技术在分析砷化镓抛光片的表面痕量沾污、表面晶体完整性、表面镓砷比、表面化学组成、表面氧含量以及氧化层厚度等方面的应用。