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101.
剪切场下聚合物结晶形态学研究进展 总被引:3,自引:0,他引:3
聚合物熔体被引入剪切场后,会发生与静态下不同的结晶现象。微观上可以得到伸直链晶体、片晶及串晶;宏观上除了静态下典型的球晶外,还能观察到球晶的变形和柱晶等。另外,剪切还可以使晶体发生晶型转变。本文对聚合物熔体在剪切场下结晶形态学的研究进展进行了介绍。 相似文献
102.
介绍我公司氧化铝厂KESTNER蒸发器母液循环泵、过料泵泵壳的泄漏情况 ,分析泄漏原因 ,提出相应的改进措施 相似文献
103.
104.
黄永正 《河南机电高等专科学校学报》2004,12(5):5-6
民族精神是一个民族赖以生存和发展的精神支柱.弘扬民族精神既有传承又有创新.民族精神是当今世界综合国力的重要组成部分,民族精神为实现中华民族复兴提供了不竭的精神动力. 相似文献
105.
双季铵盐化合物是一种具有广阔应用前景的表面活性剂。以二氯乙醚为联接剂,利用脂肪叔胺合成了一种长链的双季铵盐类化合物(简称BQA),用交流阻抗、电子扫描显微镜等方法研究了BQA在Q235钢表面的吸附、缓蚀及对生物膜下硫酸盐还原菌(SRB)的杀灭机理。研究结果表明:在模拟油田水介质中BQA对碳钢具有较为显著的缓蚀作用,与传统杀菌剂相比具有更好的渗透杀菌性能。 相似文献
106.
π网络石英晶片自动分选机测控系统设计 总被引:1,自引:0,他引:1
石英晶片自动分选机的设计对提高国内石英晶片测试行业水平具有重要的实用价值.测控系统采用π网络零相位技术,主要由计算机、信号发生器、π网络和控制电路等组成.实验结果表明,系统测试频率范围为1 MHz~60 MHz,中心频率附近分选一致性高达80%,主要性能指标优于国内普遍采用的振荡器测试系统和阻抗计测试系统,并能有效地测试寄生谐振频率. 相似文献
107.
In order to improve the corrosion and wear resistance of the coatings of electroless plating Ni-Cu-P and broaden its application, an optimizing mathematical theory test has been applied in this research. The processing parameters have been optimized and some Ni-Cu-P coatings have been obtained with smooth and glittering appearance. At the same time,the composite complexants can prevent copper from depositing first and obtain coatings with strong adhesion. The porosity of Ni-Cu-P coating (20 μm) ranked class 9. The changing color time of the coating is more than 800 seconds with HNO3 dropthan 0.5 g/L. The surface appearance of deposition is typical cystiform cells by SEM,which rank close and neatly. 相似文献
108.
109.
CHEN Changchun Liu Zhihong HUANG Wentao Dou Weizhi Xiong Xiaoyi Zhang Wei TSIEN Peihsin CAO Jianqing 《中国稀土学报(英文版)》2004,22(Z2)
Thin strain-relaxed Si0.8Ge0.2 films (57.6 nm) on the 30 keV Ar ion implantation Si substrates for different dose (1 × 1014, 5 × 1014, 3 × 1015 cm-2) were grown by ultra high vacuum chemical vapor deposition (UHVCVD) system.Rutherford backscattering/ion channeling (RBS/C), high resolution X-ray diffraction (HRXRD), Raman spectra as well as atomic force microscopy (AFM) were used to characterize these SiGe films. Investigations by RBS/C as well as HRXRD demonstrate that these thin Sio.8Geo.2 films could indeed epitaxially grow on the Ar ion implantation Si substrates. Under low dose ( 1 × 1014 cm-2) and medium dose (5 × 1014 cm-2) implantation conditions, the relaxation extents of SiGe films are 60.6% and 63.6%, respectively. However, high dose implantation (3 × 1015 cm-2) prompt the strain in epitaxial SiGe film to be close to full relaxation status (relaxation extent of 96.6% ). On the other hand, determinations of RBS/C also indicate the crystalline quality of SiGe film grown on high dose implantation Si substrate is nearly identical to that grown on low dose (1 × 1014 cm-2) implantation Si substrate. 相似文献
110.