HEGF中CO井筒流动及扩散规律研究

目前,高能气体压裂广泛的应用于低渗透油气田,可以有效清除近井地带由于钻井、射孔和各种措施造成的污染和堵塞,达到油气井增产、注水井增注的目的。但最近一些低渗透油气田却出现了频繁的CO气体中毒事件,给油田及员工带来巨大的损失。针对这一现象,运用现场数据以及物理模拟和数学模拟方法首次通过对CO气体流动、扩散等的综合研究,建立了CO井筒流动及大气扩散模型。同时,也考察了井筒压力、气油比、风速、气体泄放速率、大气稳定度等主要因素对CO气体扩散的影响。通过现场实例计算,证实模型具有较高的准确性。此项工作的完成为建立监控系统提供基础技术依据,同时对合理、有效的开发油气田以及煤层气的开发将具有重要的实际意义。     

浅析城2井推覆体钻具失效

城2井推覆体构造带主要岩性为海西期花岗岩，岩石硬度高，钻井施工难度相当大，易发生断钻具等复杂情况。就城2井推覆体构造特点，和钻井施工中钻具失效原因分析、发生钻具失效时的井下情况判断、推覆体大井眼打捞落鱼方法、推覆体钻进预防钻具失效的措施等方面予以介绍，对今后在山前推覆体构造带施工有一定的借鉴和指导作用。     

井下乳化/水热催化裂解复合降黏开采稠油技术研究

实验考察了胜利孤东稠油井下催化水热裂解和乳化/催化水热裂解降黏效果。所用催化剂为水溶性铁镍钒体系,Fe3+∶Ni2+∶VO4+=5∶1∶1,100 g稠油与30 g 0.5%催化剂水溶液在240℃反应24小时。原始黏度(50℃)11.0和8.36 Pa.s的两种稠油裂解并静置除水后,黏度降低76.2%和75.6%,室温放置60天后降黏率下降小于3个百分点,气相色谱显示裂解后轻组分明显增加,红外光谱显示稠油组分发生脱羧反应且芳环数减少。讨论了稠油催化水热裂解反应机理。所用化学助剂JN-A在油水中均可溶,耐温达250℃,耐矿化度达50 g/L,其水溶液以30∶100的质量比与稠油混合时形成低黏度的O/W乳状液。当水相含1.0%JN-A和0.5%催化剂时,两种稠油水热裂解后的反应混合物为O/W乳状液,黏度仅为319和309 mPa.s,静置除水后的稠油降黏率增加到86.5%和87.3%,其中的轻组分含量进一步增加。该井下乳化/催化水热裂解复合降黏法成功地用于孤东两口蒸汽吞吐井,稠油井作业后初期采出的原油黏度由~9 Pa.s降低到1 Pa.s左右,随采油时间延长而逐渐升高,约50天后超过4Pa.s。图2表6参5。     

6σ设计水平的评价

在介绍6σ设计概念和目标的基础上，给出设计水平与百万机会缺陷数(DPMO)关系的计算表达式和关系曲线，并开发了计算机模块，能自动计算与不同设计水平对应的DPMO值，也可以根据实际的DPMO值，自动评价达到的设计水平。     

新一代厂站计算机监控系统软件的研制

本介绍一种新的基于开放系统环境的计算机监控系统软件的开发研究及其设计目标、实现方法及应用情况。     

铌酸锂γ射线辐照色心缺陷的研究

对铌酸锂晶体进行γ射线辐照处理，吸收光谱显示基础吸收边紫移，４８０ｎｍ波长附近出现一明显吸收峰，这是由空位色心Ｖ０和Ｎｂ＾４＋缺陷引起的，Ｎｂ＾４＋的存在进一步被ＥＰＲ实验所证实。本文对上述辐照缺陷的产生机理进行了讨论。     

微机监控技术 一

本文系统地讲述了以微型计算机为中心的微机监控系统的工作原理、系统组成和应用方面的有关技术。分为监控系统的功能和结构、硬件系统和软件系统三个部分。本文为第一部分。     

A Built-in Self-Test Scheme with Diagnostics Support for Embedded SRAM

In this paper we propose a novel built-in self-test (BIST) design for embedded SRAM cores. Our contribution includes a compact and efficient BIST circuit with diagnosis support and an automatic diagnostic system. The diagnosis module of our BIST circuit can capture the error syndromes as well as fault locations for the purposes of repair and fault/failure analysis. In addition, our design provides programmability for custom March algorithms with lower hardware cost. The combination of the on-line programming mode and diagnostic system dramatically reduces the effort in design debugging and yield enhancement. We have designed and implemented test chips with our BIST design. Experimental results show that the area overhead of the proposed BIST design is only 2.4% for a 128 KB SRAM, and 0.65% for a 2 MB one.     

试论降低成本的设计技术

一个新产品的功能和成本水平基本上已在产品设计阶段就确定了。研究降低成本的设计技术就是为了给设计师提供一套行之有效的降低和优化成本的辅助设计工具。降低成本设计的技术内涵是与设计过程并行的成本估算、知识基系统的建立和质量及成本的综合优化。论述了各国对此项技术研究应用的状况、技术分析、发展特点和研究前沿的项目及内容 ,如对此技术研究应用的迫切性、对降低成本的最佳时机和产品的全成本概念等的探讨和认识 ;对成本扩展到产品寿命全周期、对目标成本控制法和成本优化设计等的研究和应用。