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101.
102.
Chih-Wea Wang Chi-Feng Wu Jin-Fu Li Cheng-Wen Wu Tony Teng Kevin Chiu Hsiao-Ping Lin 《Journal of Electronic Testing》2002,18(6):637-647
In this paper we propose a novel built-in self-test (BIST) design for embedded SRAM cores. Our contribution includes a compact and efficient BIST circuit with diagnosis support and an automatic diagnostic system. The diagnosis module of our BIST circuit can capture the error syndromes as well as fault locations for the purposes of repair and fault/failure analysis. In addition, our design provides programmability for custom March algorithms with lower hardware cost. The combination of the on-line programming mode and diagnostic system dramatically reduces the effort in design debugging and yield enhancement. We have designed and implemented test chips with our BIST design. Experimental results show that the area overhead of the proposed BIST design is only 2.4% for a 128 KB SRAM, and 0.65% for a 2 MB one. 相似文献
103.
While many scholars of organizational innovations have examined characteristics of innovations such as relative advantage and complexity and how they facilitate the adoption of an innovation by organizations, others have used mathematical models to fit diffusion patterns. In this study, the authors attempt to integrate these two areas of inquiry and explore the possibilities to predict diffusion patterns based on characteristics of the innovation and the adopting entities. Based on a cross-sectional sample of 313 large American firms, 20 information technology (IT) innovations were examined and their diffusion patterns assessed with respect to models that espoused internal and external influence. The mixed influence model (Bass model) was chosen as a robust common representation for the set of diffusion patterns. However, the external influence as represented by the coefficient of innovation was found to be extremely small and the internal influence dominates for all innovations. The other two parameters of the model, the saturation level and the coefficient of imitation, which represents internal influence, were then used to perform a cluster analysis. Five clusters of technologies emerged, and the potential relationships between their innovation characteristics and diffusion patterns were explored. Rigorous examination of these potential relationships by future researchers may result in practical methods for predicting patterns of IT innovation diffusion based on innovation and technology characteristics 相似文献
104.
105.
近期、芯片制造工艺发展到了纳米时代(栅极宽度<100nm),IM E C发起并联合了全球七家主要半导体芯片制造商和几乎所有主要设备制造商,在刚建立起来的φ300m m硅片尺寸工艺中试线上,共同展开了45nm和32nm的芯片制造工艺的研究工作。虽然芯片封装技术也在快速发展,但其速度赶不上芯片制造工艺的迅猛发展。在先进的芯片制造技术和最新的PCB技术之间所谓的“互连技术壕沟”在不断扩大。而且,不断增加的工作频率,以及由于集成电路复杂程度提高而导致I O管脚的增加,都要求封装技术产生重大的技术变革,以保证在将纳米级的芯片与毫米级的系统相连… 相似文献
106.
108.
介绍了SA018铁氧体移相驱动器专用集成电路的工作原理,电路设计和实验结果。该电路的内部电路设计有双路激励驱动器,放大器,积分器和双路高速比较器等功能单元。将铁氧体移相器的激励驱动器和相位控制器融于一体,大大减少了铁氧体移相器的外围设计。 相似文献
109.
本文计论了高阶FIR型正交镜像滤波器的设计问题。根据FIR正交镜像滤波器设计的基本原理,将高阶正交镜像滤波器的设计问题转换为单变量的优化设计问题。利用一维寻优的算法,可以设计出高阶FIR型正交镜像滤波器。 相似文献
110.
随着鄂西黄陵背斜南翼震旦系陡山沱组全球最古老页岩气的首次发现,该层系暗色页岩的含气性已获得证实。通过宜昌-秭归地区黄陵背斜南翼秭地1井岩心现场含气量解析和岩矿分析,获得了黄陵背斜南翼震旦系陡山沱组暗色页岩含气量和密度数据;通过区域地震资料处理解释和秭地1井、秭地2井钻井标定层位,获得了有利区含气页岩厚度及分布,明确了含气页岩的体积;通过概率体积法对该区陡山沱组页岩气资源量进行计算,其范围为(845.78~3 029.08)×108 m3,中值资源量为1 947.27×108 m3,证明该层系具有良好的页岩气资源潜力,可作为鄂西地区下一步页岩气勘探的重点区域。 相似文献