全文获取类型
收费全文 | 60029篇 |
免费 | 6629篇 |
国内免费 | 5067篇 |
专业分类
电工技术 | 5013篇 |
综合类 | 6447篇 |
化学工业 | 7563篇 |
金属工艺 | 3915篇 |
机械仪表 | 4304篇 |
建筑科学 | 4960篇 |
矿业工程 | 2042篇 |
能源动力 | 2038篇 |
轻工业 | 5817篇 |
水利工程 | 1836篇 |
石油天然气 | 1929篇 |
武器工业 | 878篇 |
无线电 | 6979篇 |
一般工业技术 | 5486篇 |
冶金工业 | 2290篇 |
原子能技术 | 921篇 |
自动化技术 | 9307篇 |
出版年
2024年 | 286篇 |
2023年 | 770篇 |
2022年 | 1803篇 |
2021年 | 2408篇 |
2020年 | 1748篇 |
2019年 | 1309篇 |
2018年 | 1421篇 |
2017年 | 1614篇 |
2016年 | 1527篇 |
2015年 | 2418篇 |
2014年 | 2801篇 |
2013年 | 3395篇 |
2012年 | 4295篇 |
2011年 | 4400篇 |
2010年 | 4449篇 |
2009年 | 4184篇 |
2008年 | 4453篇 |
2007年 | 4450篇 |
2006年 | 4120篇 |
2005年 | 3306篇 |
2004年 | 2906篇 |
2003年 | 2948篇 |
2002年 | 3767篇 |
2001年 | 3191篇 |
2000年 | 1686篇 |
1999年 | 789篇 |
1998年 | 212篇 |
1997年 | 211篇 |
1996年 | 145篇 |
1995年 | 127篇 |
1994年 | 103篇 |
1993年 | 102篇 |
1992年 | 68篇 |
1991年 | 68篇 |
1990年 | 46篇 |
1989年 | 34篇 |
1988年 | 17篇 |
1987年 | 24篇 |
1986年 | 16篇 |
1985年 | 11篇 |
1984年 | 12篇 |
1983年 | 19篇 |
1982年 | 6篇 |
1981年 | 9篇 |
1980年 | 14篇 |
1979年 | 9篇 |
1965年 | 5篇 |
1959年 | 8篇 |
1958年 | 1篇 |
1951年 | 11篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 0 毫秒
31.
32.
纳米薄膜的分类、特性、制备方法与应用 总被引:5,自引:0,他引:5
介绍了纳米薄膜的分类以及纳米薄膜的光学、力学、电磁学与气敏特性;综述了现有的溶胶鄄凝胶法、LB鄄膜法、电化学沉积法、化学汽相沉积、低能团簇束沉积法、真空蒸发法、溅射沉积、分子与原子束外延、分子自组装等纳米薄膜制备技术;概括了纳米薄膜的应用。 相似文献
33.
掺铒光纤放大器(EDFA)和拉曼放大器(FRA)的使用,使得光纤通信系统中的入纤功率有了很大的提高.较高的入纤功率不仅会在光纤中引起各种非线性效应,对光脉冲的传输产生影响,也会对光纤本身的可靠性产生影响,为此介绍了高入纤功率对光纤系统的影响,分析了其产生的机理,并提出了应对措施. 相似文献
34.
Zukerman M. Wong E.W.M. Rosberg Z. Gyu Myoung Lee Hai Le Vu 《Communications Letters, IEEE》2004,8(2):116-118
We provide teletraffic models for loss probability evaluation of optical burst switching (OBS). We show that the popular Engset formula is not exact for OBS modeling and demonstrate that in certain cases it is not appropriate. A new exact model is provided. The various models are compared using numerical results for various OBS alternatives with and without burst segmentation. 相似文献
35.
本文对弹药内弹道性能检验的传统方法存在的问题进行了分析,提出了一种新的检验方法,重点对新的检验方法的数学模型的建立过程进行了论述。并对数学模型的精度进行了分析、检验和验证。 相似文献
36.
Transient hot-electron effect and its impact on circuit reliability are investigated. The rate of device decay is monitored as a function of the gate pulse transient period. Simulation results reveal that excess charges during a fast turn off time may cause an increase in the maximum substrate current. This, along with our experimental data, identifies that transient excess carrier may cause the enhancement of device degradation under certain stress conditions. The enhancement factor of the degradation is a function of the gate pulse transient time. Correlation between the analysis based upon AC/DC measurement and calculations based upon transient simulation are shown in the paper. Better agreement with experimental data is obtained by using the transient analysis and on chip test/stress structures. The correlation between AC and DC stress data is also shown based on the impact ionization model. A hot-electron design guideline is proposed based on the circuit reliability analysis. This guideline can help improve the circuit reliability without adversely effecting the circuit performance. 相似文献
37.
38.
地震勘探震源药柱技术进展 总被引:2,自引:2,他引:0
介绍国内外震源药柱产品现状,着重介绍了湖北凯龙化工集团股份有限公司近期所取得的技术进展,探讨了一些施工设想及地震勘探震源药柱今后可能的发展方向. 相似文献
39.
40.